应用压电陶瓷测量光压

利用压电陶瓷测量了非真空环境下激光和LED的光压,并设计实验排除了热效应以及光伏效应.实验结果表明:照射光强和压电片的放电电流成线性关系,可以通过检测放电电流测量光压,并且对光频率没有限制.实验测得标称值为0.2 W的激光和1 W的LED的光压分别在10~(-10) N和10~(-9) N数量级.     

基于谐振的光压测量

在扭秤的基础上,提出结合机械共振、光杠杆和电磁阻尼的光压测量方法.在大气环境中,测量激光对镜片作用的平行分力,忽略垂直镜片的分力,从而将光压与辐射效应错开,无需真空处理.采用调制光驱动扭秤,使其发生共振,并通过测量扭秤的振动幅度,得到光压的大小.实验结果表明:采用该方法测得激光器在45°入射、功率为70 mW时,产生光压为4.2×10~(-5) Pa.对共振曲线进行频谱分析及光压测量值评估,证实实验结果可靠.     

光压观测装置设计

一、引言在通常情况下，光压极小而难以观测．历史上第一次在实验室中发现光压的列别捷夫实验装置和实验方法相当复杂和精细”‘．本文介绍一种使用连续激光器作光源，利用对双光来于涉条纹的观测直观地显示光压的存在以及时光压、激光器输出功率或中性密度滤光片透射率进行定量测量的实验装置和方法．该装置对实验条件要求不太高’～操作简单，现象易于观察．二、光压观测装置的结构与原理光压观测装置的原理性结构如图1所示，图2为悬镜装置示意图．光源为488．onm连续氛离子激光器．悬镜装置包括减振金属支架、十字形真空玻璃腔、铅直悬挂…     

基于驻极体麦克风的光压力演示装置

基于驻极体麦克风设计制作了验证及演示光压力的实验装置．将机械调制后的激光照射在驻极体麦克风的膜片上,膜片产生有规律的形变,产生的电压信号由麦克风输出．电压信号经过放大,通过观察示波器的波形变化或万用表的指针摆动,验证并演示了光产生压力的现象．该演示装置将光压转换为声压,间接实测量光压,而且无需真空条件,零件模块化,操作简单．     

基于马赫曾德干涉光路的光压测量装置设计

基于马赫曾德干涉原理,设计搭建了可调制与放大干涉条纹的光压测量装置.由频率和功率可调制脉冲激光产生光压,使真空中两面高反镀铝薄膜产生微小形变(位移),从而使由氦氖激光器发射、经半反半透镜分束的参考光和信号光的光程差改变,即干涉条纹发生改变.用CCD记录干涉条纹位移量,数据处理获得干涉条纹位移量和薄膜形变量的关系,计算出脉冲激光在薄膜处的光压.分别讨论了脉冲激光入射角度、频率等参量对检测结果的影响,并通过双角度入射方法消除了热辐射效应的影响.该检测装置可测得最小光功率为15.0mW所产生的光压大小为13.42μPa,线性工作范围为15.0mW(13.42μPa)至200mW(1179μPa),且工作稳定、灵敏度高,测量结果准确.     

光压的演示

在实验中发现光压而且第一次测量光压的是列别捷夫．但是，光压在通常实验条件下只有10－‘～10-7N／m2，光压的测量是很困难的．由于激光器的亮度高、方向性好和单色性好等特点，给光压测量带来了高强度的光源．我们曾经在1990年申报了国家教委的科研项目“光压观测仪”，于1994年完成并通过了国家教委组织的鉴定．这套仪器可以方便的测出光压的大小和光压力与输入光能量之间的关系，以及由光压产主的波形．在这套仪器中采用的光源是YAG固体脉冲激光器，波形显示用的是存储示波器，考虑到这些仪器在许多院校尚不普及，我们在前面工作的基…     

可调谐二极管激光吸收光谱测量真空环境下气体温度的理论与实验研究

真空环境不仅会导致热电偶等温度传感器表面材料解吸,而且其传热机理也与常压不同,因此采用常压下校准和溯源的温度传感器测量真空环境下气体温度存在诸多不确定性问题,为此,本文利用可调谐二极管激光吸收光谱技术(TDLAS)测量真空环境下气体温度,探索TDLAS温度测量技术在真空环境下的应用前景,在模拟热真空实验过程中,首先将真空气室浸没于恒温槽中,然后利用TDLAS测量真空气室中气体温度,同时利用一等标准铂电阻测量恒温槽的温度,试验结果表明:TDLAS和一等标准铂电阻测量得到的气体温度和恒温槽温度具有高度的一致性,两者之间的误差在恒温槽温度稳定时不超过±0.2℃。     

光压观测信的研制

描述了由激光器、衰减器、探头和能量－压力测试仪等组成的光压观测仪,它既可以测量光压,又可以测量光能量、灵敏度高数据稳定,操作方便。     

光压观测仪的研制

描述了由激光器、衰减器、探头和能量－压力测试仪等组成的光压观测仪．它既可以测量光压，又可以测量光能量．灵敏度高，数据稳定，操作方便     

基于光压原理的大功率激光功率测量北大核心CSCD

大功率激光功率测量常用量热法,但溯源复杂。介绍了具有较高测量精度的基于光压原理的大功率激光功率测量方法,设计了利用1/10^(5)精度天平大功率激光测量实验,测试了基于GaAs半导体材料制作的反射镜的反射率及损伤阈值,确定了基于GaAs半导体材料反射镜的相关性能。得到了普通实验室条件下的功率测量重复性及线性,验证了1/10^(5)精度天平用于大功率激光测量的可行性。通过实验结果结合理论计算,得出利用1/10^(5)精度天平的光压测量功率的测量上限可以达到3×10^(4)W以上。