荧光粉表面吸附汞的检测

在荧光灯的燃点过程中，荧光粉表面沉积吸附的汞对光衰有重要的影响。本文提出用冷原子吸收方法（CVAAS）直接检测荧光粉表面吸附汞量的变化，利用室温下原子汞对254nm共振线的吸收，且其吸收与汞原子蒸气浓度成正比进行汞量测试，测得方法的标准曲线回归方程为Y＝0.4455X 0.2000，试样的加标回收率为92.3-99.8%，满足荧光粉含汞量测定的要求。对燃点不同时间后的铝酸盐蓝色荧光粉（BAM）进行测定，结果表明：荧光粉表面沉积吸附的汞量随点灯时间的延长而增加，与灯的光衰增大趋向一致，汞的吸附沉积确实是造成荧光灯光衰的主要原因之一。检测结果还表明，将未作表面包膜处理的BAM粉与经过表面包覆纳米Al2O3膜层处理的BAM粉作对照，前者的含汞量比后者的含汞量明显要高。可见：对荧光粉进行表面包膜处理，能够保护粉体、减少汞的沉积吸附，从而降低点灯过程中的光衰。     

日光灯镇流器的物理知识

1日光灯管的结构 日光灯的主体是灯管，又叫低气压汞蒸气放电荧光灯，它的基本结构如图1所示：在一根内壁涂有荧光粉的玻璃管两端分别装螺旋状的钨丝灯丝作电极，上面涂有氧化钡等容易发射电子的氧化物，(少数电极由电金属圆筒组成冷阴极)．抽出管内的空气充入少量氩气等低压惰性气体和放进少量液汞，密封就成了一支日光灯管．     

色温对稀土三基色粉和灯的色坐标差值的影响

荧光粉制灯后,由于汞的四条可见区谱线和粉的谱带叠加,灯的色坐标x、y同粉相比均减小.减小值ΔX、Δy和制灯工艺有关,而制灯工艺又主要取决于灯内填充气体的压 力.我们曾就日光色卤粉和直管型荧光灯的ΔX、Δy随灯内氢气压力的变化规律作过研究[1].稀土三基色粉用于紧凑型荧光灯时,由于灯内的填充气体压力目前还不能准确测定,因而尚难以就填充气体压力对ΔX、Δy的影响进行分析和总结.     

用三基色荧光粉改善荧光灯的光学特性

本文对目前正在普及应用的三基色荧光灯的光学特性进行探讨,获得了在一定条件下三基色荧光粉的最佳组合,对改进荧光灯的光效和光色有一定的指导意义.本文对三种荧光粉组合的光学特性进行全面讨论,给出荧光粉组合与光谱组合之间的定量关系,找出在实际应用于低气压氩汞放电灯时,在任意色温条件下的最优光度和色度状态.     

高亮度 可携式 荧光灯

据美国国家航空和宇航局研究报告61391号(NASA-CR-61391)摘要称:约塔工程公司已制造了八种可携式荧光灯(据过去报导,用于宇宙空间实验室——译注),还生产了三种试制品,其中两种已达到了物理方面和操作方面的新要求。这是狭缝式的荧光灯,狭缝和反射器的安排使光不致散射而是按照要求集中发射。这样灯光更加强了。用铟汞齐控制汞汽压,使灯在     

BaSi_2O_5∶Pb荧光粉表面性能的改善

BaSi2O5∶Pb(BSP)荧光粉现主要应用于晒黑灯,也常用于其他一些特殊用途的荧光灯,如捕蝇、光催化等。相比其他灯用荧光粉来说,这种荧光粉有一明显缺点,即光衰较大。目前解决这个问题的办法主要通过化学气相沉积法在BSP粉表面包覆Al2O3膜,提出了一种基于液相的表面处理方法,且在较高pH值下进行,该方法通过将荧光粉加入Ba2 离子溶液,使得溶液中Ba2 离子在粉表面富集,再经过滤、灼烧等后处理,得到处理后的BSP粉。以SEM,XPS等方法对其表面形貌和组分进行测试,并以未处理的BSP粉作对照进行发光性能测试,结果表明:阳离子溶液处理后荧光粉在发光性能上有了明显改善,光通维持率明显提高。     

无汞荧光灯

一前言 荧光灯由于其效率高、显色性好,已成为使用最广泛的照明光源之一,在人造光源中,荧光灯约占60％之多。 荧光灯一直使用汞在低压时的蒸汽放电所发射的紫外线(主要是2537A)作为紫外源。低压汞蒸汽放电虽可获得较高效率的紫外线辐射,热损耗相对值比较小,但也存在一些严重缺点。 1.在灯的生产过程中,使用汞对生产者的身体健康有害。使用时不小心灯易破碎,汞流出也会造成毒害。     

BaSi2O5：Pb荧光粉表面性能的改善

BaSi₂O₅:Pb(BSP)荧光粉现主要应用于晒黑灯,也常用于其他一些特殊用途的荧光灯,如捕蝇、光催化等。相比其他灯用荧光粉来说,这种荧光粉有一明显缺点,即光衰较大。目前解决这个问题的办法主要通过化学气相沉积法在BSP粉表面包覆Al₂O₃膜,提出了一种基于液相的表面处理方法,且在较高pH值下进行,该方法通过将荧光粉加入Ba²⁺离子溶液,使得溶液中Ba²⁺离子在粉表面富集,再经过滤、灼烧等后处理,得到处理后的BSP粉。以SEM,XPS等方法对其表面形貌和组分进行测试,并以未处理的BSP粉作对照进行发光性能测试,结果表明:阳离子溶液处理后荧光粉在发光性能上有了明显改善,光通维持率明显提高。     

BAM荧光粉表面包膜处理及其发光性能

为改进稀土三基色荧光粉尤其是BAM荧光粉的光衰问题，采用铝溶胶对BAM荧光粉粉体进行表面处理。获得了包覆氧化铝膜层的BAM粉。以SEM，XPS等方法对其表面形貌和组分进行测试，包覆率达到90％左右，且包覆膜层稳定。以未经包膜处理的BAM荧光粉作对照进行发光性能测试。测得包膜BAM粉的热稳定性得以改善。制成单色灯燃点试验后的光衰小于对照样品。对荧光粉表面吸附沉积的汞量变化进行检测。包膜BAM粉的含汞量小于未经包膜处理的对照样品。结果表明：对荧光粉进行表面包膜处理以保护粉体、提高热稳定性、降低光衰的研究工作是具有实际意义的。     

发光学会召开光源讨论会

由中国物理学会发光分科学会发起,营口发光材料研究所和营口荧光材料厂筹办的光源讨论会六月二十八日至三十日在营口举行。全国有关研究所、大专院校和生产厂家共二十三个单位四十一位代表参加了会议。 这次会议检查和回顾了七九年灯用荧光粉座谈会后,国内荧光粉、荧光灯科研与生     

卤磷酸钙荧光粉发光性能的改进和提高

锑、锰激活的卤磷酸钙荧光粉(以下简称卤粉)自1942年由麦基格发明作为荧光灯用荧光粉以来,一直沿用迄今,三十多年来人们对卤粉的发光机理进行了深入研究,并就其制备工艺、成分配比、颗粒控制、后处理等有关问题进行了大量研制、试验工作,使荧光灯光效由四十年代的40余流明/瓦提高到现在的75-85流明/瓦(冷白色、白色、暖白色荧光灯)、60-67.5流明/瓦(日光色荧光灯)。     

溶胶-凝胶法制备MgF2包覆BaMgAl10O17:Eu荧光粉及其发光特性

用溶胶-凝胶法在等离子显示屏(PDP)用蓝色荧光粉BaMgAl10O17：Eu(BAM)的表面上成功地包覆了MgF2膜,并研究了其发光与热衰减特性。XPS和SEM结果表明BAM荧光粉颗粒表面上形成了MgF2包覆膜。对包覆样品和未包覆样品的发光特性研究表明：在254nm激发下,最佳包覆量为0．2％(质量比),其在600℃热处理30min后包覆样品的发光强度比未包覆样品的发光强度约高12％。在147nm激发下,最佳包覆量为0．5％,其在600℃热处理30min后的发光强度比未包覆样品的发光强度高15％。这表明对BAM荧光粉进行表面包覆MgF2可以有效地稳定荧光粉的发光性能。这一结果不仅对提高PDP性能有重要意义,而且对开发无汞荧光灯用荧光粉等也具有指导意义。     

Eu2+,Dy3+共掺杂硼铝锶长余辉玻璃陶瓷

首次介绍了一种新型长余辉材料:Eu^2 ,Dy^3 共掺杂硼铝锶长余辉玻璃陶瓷，该玻璃陶瓷用紫外灯、日光、荧光灯均可激发，发射黄绿色余辉，余辉的发射峰位于516nm，来自于Eu^2 的5d→^8S7/2跃迁。用12000 lx的荧光灯激发样品20分钟，停止激发后10秒时，该玻璃陶瓷的余辉亮度为3．53cd/m^2，色坐标为：x=0.2842,y=0.5772;停止激发后5小时55分钟，该玻璃陶瓷的余辉亮度为0．01cd/m^2；停止激发30小时后，余辉在黑暗中仍肉眼可见。文中对该玻璃陶瓷的相关性质进行了表征，并提出了可能的长余辉机理。     

耄耋教授倾情节能环保教育 人民总理及时关注百姓建议

目前，北京市由政府出面大力推行的“绿色照明”节能活动，推行第二代照明技术—低压汞蒸气荧光灯．针对这种情况，清华大学老教授虞吴从2009年2月开始做了大量调查研究，并亲自动手，改进制作十几个LED台灯，解决了目前市场上充电蓄电池LED台灯寿命较低，有污染的弊端，并于今年5月7日向温家宝总理写了一封长达6000多字的亲笔信，     

汞扩散泵——镉捕集阱高真空系统

我们在二级玻璃汞扩散泵的真空系统上使用了室温的镉膜阱,证明镉膜阱能有效地捕集汞蒸气,使被抽容器达到气压力10^-5—10^-7毫米汞数量级的高真空。我们较系统地试验了镉膜的条件对于极限气压的影响,实验结果表明,新蒸发的镉膜效果最好;将镉膜在10^-2毫米汞的气压下搁置10小时后对于极限气压的影响不大;但若将其在大气下搁置10小时,则极限气压约升高一个数量级;进一步延长在大气中的暴露时间(达300天),对极限气压无更大的影响。初步的寿命试验表明,扩散泵工作140小时之后,极限气压才较显著地上升。降低镉膜阱的温度、增加镉膜阱的数目和被抽容器的高温烘烤都是提高真空度的有效途径;在实验中考虑了这些因素,我们曾获得了气压低达10^-9毫米汞数量级的超高真空。     

用无火焰原子吸收光谱法评价低于毫克数量级的汞蒸气对海绵金的汞齐化效率

评述了汞蒸气对海绵金汞齐化效率的研究。将校正了的汞气标准(0.038—0.420毫克/米~3)通过海绵金取样器,并用无焰原子吸收光谱法检测汞量。同时还研究了汞气浓度与流速对于收集的影响。对穿透曲线的评价表明,在严重污染的大气中取样速度对汞气收集是有影响的。收集效率参数已根据统计矩理论计算出来。     

彩色PDP荧光粉的劣化研究

彩色等离子体平板显示器件已经成为信息显示领域重要发展方向之一， 荧光粉对PDP器件的性能起着决定的作用。PDP中的荧光粉是通过丝网印刷的方法涂敷的。荧光粉在制成丝网印刷用荧光粉浆料过程中，以及制成PDP器件的过程中，都可能使荧光粉的性能降低，这就是工序劣化。在制成PDP器件后，荧光粉的性能还会随着使用时间的延长进一步降低，这就是历时劣化。本文分析了荧光粉的工序劣化和历时劣化产生的原因，设计制作了单色PDP试验屏，采用CRT ColorAnalyzer（CA－100）测量了荧光粉在PDP器件中的色坐标，并与荧光粉生产厂家提供的色坐标进行比较，从而获得了荧光粉的工序劣化和历时劣化值。试验结果表明，绿粉（Zn2SiO4:Mn^2 ）和蓝粉（BaMgAl10O17:Eu^2 ）的工序劣化较严重，蓝粉的历时劣化最严重，其y坐标增大10％，x坐标增大5％。我们认为改进荧光粉浆料成份和配比，从而降低荧光粉的烧结温度以及采用比表面积大的荧光粉颗粒，有助于改善工序劣化；改进MgO的性能，提高其溅射能力以及采用新的驱动方法以避免荧光粉遭受离子轰击，将有助于改善历时劣化。     

玻璃的奇迹

我们知道,玻璃是一种重要的无机非金属材料,日常生活中处处可以看到它的影子。用玻璃制成的各种形状的杯子和花瓶、镜子、窗户上的玻璃、荧光灯的灯管、灯泡的外壳、钟表的外罩、大部分眼镜的镜片等等。我们还可以想象,如果在各门科学研究中缺少了玻璃,那么许多科学研究将无法进行。     

铝酸盐磷光体中氟的测定

选用发红光的氧化钇和发蓝、绿光的铝酸盐磷光体相互匹配,可制成光效高、显色性好的三基色荧光灯。为了制备磷光体,常常利用F~-降低反应温度,刺激晶粒生长。但最后得到的磷光体中氟化物的含量影响荧光灯的光效,并使流明衰退加剧,大大降低了灯的寿命。因此在制备磷光体中,严格控制含氟量是十分必要的。     

彩色PDP中荧光粉发光色坐标的测量方法研究

等离子体显示器已成为平板显示领域主要发展方向之一。在等离子体显示器上测得的色坐标包含了两部分：一部分是荧光粉在PDP器件中发光色的色坐标，一部分是PDP工作时气体放电的色坐标。在PDP屏的制作过程中，荧光粉经历了浆料制备、干燥、烧结以及老炼等工艺过程。因此，荧光粉在PDP屏上表现出的色坐标比起荧光粉体来说会产生一些变化。本文以测量PDP中荧光粉发光色坐标为目的，提出了一种用单色PDP屏色坐标、亮度和同结构下气体放电色坐标、亮度来获得荧光粉在PDP屏中色坐标和亮度的方法，设计制作了测试PDP屏三基色荧光粉发光色坐标所用的单色试验屏。用CRT ColorAnalyzer（CA－100）时PDP屏和PDP屏上气体放电产生的亮度和色坐标都进行了测量，根据合成颜色的在刺激值与二种已知颜色的在刺激值具有线性叠加关系，计算出了荧光粉在PDP器件中的色坐标和亮度。同时，用WGD－3型组合式多功能光栅光谱仪对PDP屏和气体放电的发光光谱进行了测量，用计算机将测得的发光光谱在同波长下相减，从而获得了荧光粉在PDP中的发光光谱。结果表明绿粉和蓝粉的色坐标变化较大，而红粉变化较小，使得PDP白场色温向较低的方向变化。绿粉和蓝粉的发光谱线的半峰宽与原粉比较都有减小，峰值发光强度也减小了，绿粉的峰值发光波长从526nm变至523．4nm。