晶体中电子散射的动力学效应与用于观察表面结构的正面成像法

本文通过对用于观察表面结构的高分辨电子显微正面成像法进展的回顾，从晶体中电子散射的动力学厚度效应出发，讨论了表面波与体波振幅的可比性在表面结构成像中的作用；揭示了表面结构像的厚度周期性，并对正面成像中的顶－底效应提供了一种新的解释。     

借助高分辨电子显微像校正电子衍射强度的动力学效应

针对高分辨电子显微学和电子衍射相结合测定晶体结构的图像处理技术，提出了一种借助高分辨电子显微像来校正低散射角电子衍射强度动力学效应的新方法，将此法试用于Ｂｉ２（Ｓｒ０．９Ｌａ０．１）２ＣｏＯｙ晶体结构分析，结果说明此法有效。     

用200 kV电子显微镜分辨Li1-xNbO2中的Nb和O原子

在远离Scherzer聚焦条件下,用200 kV的高分辨电子显微镜拍摄了Li1-xNbO2(x≈0.7)高分辨像,再借助像解卷处理使之恢复为直接反映晶体投影结构的解卷像.在不同晶体厚度的解卷像上均能清楚地分辨间距为0.153nm的Nb和O原子柱,看不见"原子.Nb和O原子的衬度随厚度变化的规律符合赝弱相位物体近似像衬理论.从像模拟得知,即使原始像的离焦量接近Sdaerzer聚焦条件,解卷处理也同样有助于提高像的质量,并分辨开单个的O原子柱.