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相似文献
 共查询到15条相似文献,搜索用时 218 毫秒
1.
利用应变Si1-xGex/(111)Si材料价带E(k)-k关系,研究获得了沿不同晶向的空穴有效质量,并在此基础上,建立了空穴各向同性有效质量模型.结果表明,与弛豫材料相比,应变Si1-xGex/(111)Si材料价带带边空穴有效质量各向异性更加显著,带边空穴各向同性有效质量随Ge组分明显减小.该研究成果可为Si基应变PM 关键词: 1-xGex')" href="#">应变Si1-xGex 空穴有效质量 价带  相似文献   

2.
采用结合形变势理论的K.P微扰法建立了(001),(101)和(111)面弛豫Si衬底上生长的应变Si1-xGex(x≤0.5)的能带结构模型,获得了其导带带边能级、价带带边能级、导带劈裂能、价带劈裂能及禁带宽度随Ge组分(x)的函数变化关系,该量化数据对器件研究设计可提供有价值的参考. 关键词: 1-xGex')" href="#">应变Si1-xGex K.P 法 能带结构  相似文献   

3.
基于密度泛函理论框架的第一性原理平面波赝势方法对双轴应变Si/(111) Si1-xGex(x=0.1—0.4)的能带结构进行了研究,结果表明:导带带边六度简并没有消除;应变部分消除了价带带边的简并度;导带带边能量极值k矢位置和极值附近可由电子有效质量描述的能带形状在应变条件下几乎不变;价带极大值附近可由空穴有效质量描述的能带形状随着x有规律地变化. 此外,给出的禁带宽度与x的拟 关键词: 应变硅 能带结构 第一性原理  相似文献   

4.
白敏  宣荣喜  宋建军  张鹤鸣  胡辉勇  舒斌 《物理学报》2015,64(3):38501-038501
应变Ge材料因其载流子迁移率高, 且与硅工艺兼容等优点, 已成为硅基CMOS研究发展的重点和热点. 本文基于压应变Ge/(001)Si1-xGex价带结构模型, 研究了压应变Ge/(001)Si1-xGex空穴各散射概率、空穴迁移率与Ge组分(x)的关系, 包括空穴离化杂质散射概率、声学声子散射、非极性光学声子散射、总散射概率以及空穴各向同性、各向异性迁移率, 获得了有实用价值的相关结论. 本文量化模型可为应力致Ge改性半导体物理的理解及相关器件的研究设计提供有重要的理论参考.  相似文献   

5.
应变Si电子电导有效质量模型   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
采用K·P微扰法建立了应变Si导带能谷由纵、横向有效质量表征的E-k关系,并在此基础上,研究分析了(001),(101),(111)晶面应变Si电子的电导有效质量与应力、能谷分裂能及晶向的关系.结果表明,弛豫Si1-xGex材料(001)面生长的应变Si沿[100],[010]晶向的电子电导有效质量和弛豫Si1-xGex材料(101)面生长的应变Si 关键词: 应变Si K·P法 电导有效质量  相似文献   

6.
详细论述Si/SiGe量子级联激光器的工作原理,通过对比找到一组合适的Si,Ge和SiGe合金的能带参数,进而应用6×6 k·p方法计算了不同阱宽、不同Ge组分Si/Si1-xGex/Si量子阱价带量子化的空穴能级本征值及其色散关系,分析Si/Si1-xGex/Si量子阱空穴态能级间距随阱宽和组分的变化规律,最后应用计算结果讨论了Si/SiGe量子级联激光器有源区的能带设计,有益于优化Si /SiGe量子级联激光器结构. 关键词: 硅锗材料 量子级联激光器 子带跃迁 k·p方法')" href="#">k·p方法  相似文献   

7.
杨福华  谭劲  周成冈  罗红波 《物理学报》2008,57(2):1109-1116
采用从头计算(ab initio)的方法对Si和Si1-xGex合金半导体材料中CiCs缺陷的性质进行探讨,同时也对比调查了CiOi缺陷在Si和Si1-xGex合金中的性质. 在不同Ge含量的Si1-xGex关键词: 1-xGex合金')" href="#">Si1-xGex合金 从头计算法 iCs缺陷')" href="#">CiCs缺陷 iOi缺陷')" href="#">CiOi缺陷  相似文献   

8.
段宝兴  杨银堂 《物理学报》2009,58(10):7114-7118
利用Keating模型计算了Si(1-xGex合金中Si—Si,Ge—Ge和Si—Ge三种振动模态的拉曼频移,计算分别获得Ge浓度为01,05和09时,Si—Ge的振动拉曼频移分别为40275,41339和38815 cm-1,这些结果与文献的实验结果符合,证明了Keating模型建立的关于原子振动模型是有效的,并可以利用拉伸压缩和相邻原子键之间弹性系数变化获得处于应变状态的拉曼光谱频率.利用Kea 关键词: Keating模型 拉曼光谱 (1-x)Gex')" href="#">Si(1-xGex 非晶硅  相似文献   

9.
利用应变Si CMOS技术提高载流子迁移率是当前研究发展的重点,本征载流子浓度是应变Si材料的重要物理参数,也是决定应变Si器件电学特性的重要参量.本文基于K.P理论框架,从分析应变Si/(001)Si1-xGex材料能带结构出发,详细推导建立了300K时与Ge组分(x)相关的本征载流子浓度模型.该数据量化模型可为Si基应变器件物理的理解及器件的研究设计提供有价值的参考. 关键词: 应变Si 有效态密度 本征载流子浓度  相似文献   

10.
应变Si价带色散关系模型   总被引:8,自引:0,他引:8       下载免费PDF全文
基于K.P理论框架,通过引入应变哈密顿微扰项,详细推导并建立了应变Si的价带色散关系模型.所得模型适用于任意晶向弛豫Si1-xGex(0≤x≤0.6)衬底上生长的应变Si,并且,通过该模型可以获取任意K矢方向的应变Si价带结构及空穴有效质量,对器件研究设计可提供有价值的参考. 关键词: 应变Si K.P理论 色散关系  相似文献   

11.
戴显英  杨程  宋建军  张鹤鸣  郝跃  郑若川 《物理学报》2012,61(13):137104-137104
基于k·p微扰理论, 通过引入应变哈密顿量作为微扰, 建立了双轴应变Ge/Si1-xGex价带色散关系模型. 模型适于任意晶向弛豫Si1-xGex虚衬底上的应变Ge价带结构, 通过该模型可获得任意k方向应变Ge的价带结构和空穴有效质量. 模型的Matlab模拟结果显示, 应变Ge/Si1-xGex价带带边空穴有效质量随Ge组分的增加而减小, 其各向异性比弛豫Ge更加显著. 本文研究成果对Si基应变Ge MOS器件及集成电路的沟道应力与晶向的设计有参考价值.  相似文献   

12.
We study the hole subband non-parabolicities in undoped pseudomorphic Si/Si1 − xGexquantum wells, strained in the growth direction 100. We solve exactly the multiband effective mass equation that describes the heavy, light and split-off hole valence bands. The symmetries of the Luttinger–Kohn Hamiltonian of the system are used to decouple the degenerate subbands. We calculate the in-plane dispersion relations, investigate the importance of the inclusion of the split-off hole valence band in the Hamiltonian and comment on the resulted non-parabolicities. Resonance states are also obtained.  相似文献   

13.
四方晶系应变Si空穴散射机制   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
宋建军  张鹤鸣  胡辉勇  王晓艳  王冠宇 《物理学报》2012,61(5):57304-057304
基于Fermi黄金法则及Boltzmann方程碰撞项近似理论, 推导建立了(001)弛豫Si1-xGex衬底外延四方晶系应变Si空穴散射几率与应力及能量的理论关系模型, 包括离化杂质、声学声子、非极性光学声子及总散射概率(能量40 meV时)模型. 结果表明: 当Ge组分(x)低于0.2时, 应变Si/(001)Si1-xGex材料空穴总散射概率随应力显著减小. 之后, 其随应力的变化趋于平缓. 与立方晶系未应变Si材料相比, 四方晶系应变Si材料空穴总散射概率最多可减小66%. 应变Si材料空穴迁移率增强与其散射概率的减小密切相关, 本文所得量化模型可为应变Si空穴迁移率及PMOS器件的研究与设计提供理论参考.  相似文献   

14.
徐至中 《物理学报》1996,45(1):126-132
采用紧束缚方法对生长在GexSi1-x(001)衬底上的应变GaAs层的价电子能带结构和空穴的三次非线性光学极化率x(3)进行了计算结果表明,由于应变的存在,使GaAs层的空穴有效质量和价带态密度变小,而使偏振方向在(001)面内的三次非线性光学极化率xxxxx(3)变大. 关键词:  相似文献   

15.
Based on the analysis of vertical electric potential distribution across the dual-channel strained p-type Si/strained Si 1-x Ge x /relaxd Si 1-y Ge y (s-Si/s-SiGe/Si 1-y Ge y) metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (PMOSFET),an-alytical expressions of the threshold voltages for buried channel and surface channel are presented.And the maximum allowed thickness of s-Si is given,which can ensure that the strong inversion appears earlier in the buried channel (compressive strained SiGe) than in the surface channel (tensile strained Si),because the hole mobility in the buried channel is higher than that in the surface channel.Thus they offer a good accuracy as compared with the results of device simulator ISE.With this model,the variations of threshold voltage and maximum allowed thickness of s-Si with design parameters can be predicted,such as Ge fraction,layer thickness,and doping concentration.This model can serve as a useful tool for p-channel s-Si/s-SiGe/Si 1-y Ge y metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET) designs.  相似文献   

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