X-射线荧光光谱法测定溶样后熔融制样金属硅中铁、铝、钙、钛、磷、铜

本文提出了溶解、蒸干然后用熔剂熔融残渣的样品制备方法,解决了金属硅不易直接熔融制样的难题,可以同时测定金属硅中多种杂质元素,消除了基体效应的影响,克服了标准样品对测定的限制,测定范围广,准确度高,通过安排正交试验确定了样品制备条件。     

熔融制样X射线荧光光谱法测定锰铁合金中硅、锰和磷含量

用熔融后的四硼酸锂制作铂金坩埚保护层,以Ba02做氧化剂,在马弗炉内通过逐渐升温来氧化锰铁合金,然后熔融制取玻璃熔片,用X射线荧光(XRF)光谱分析锰铁中硅、锰和磷含量.本法有效消除了锰铁合金熔融制样过程中的坩埚腐蚀问题,分析误差可完全控制在国家相关标准允许的偏差内,实现了锰铁合金各元素的快速准确测定.     

高含量铷化探样品中镍的XRF法测定

对于化探样品中 Rb元素含量超高的样品 ,通过拓宽标准样品的含量范围 ,利用 X射线荧光光谱仪 ,选择既有准确分析值 ,又能代表样品元素含量范围的标准样品 ,经回归计算 ,测得校准曲线 ,对 Rb的含量在 2× 10 -6— 132 0× 10 -6的变化范围内 ,准确测定 Ni的含量     

X射线荧光光谱高压制样方法和技术研究

使用自行设计研制的高压制样模具和高压制样技术(专利号: 201310125772.5),对岩石、土壤,水系沉积物等地质样品进行高压制样研究,这是国内首次的高压制样尝试,并取得了显著的成果。不加粘结剂,用1600 kN高压能使各种类型地质粉末样品压制成型。而且,经高压制备的试样片表面致密、平整、光滑、光亮,不龟裂,不分层,不掉粉末,消除了对X射线荧光光谱仪分析室的污染,为X射线荧光光谱分析粉末制样开辟了一条新途径。通过对元素分析线、背景强度、校准曲线斜率、方法的精密度和制样的重现性的对比研究表明：高压(1 600 kN)制备的试样片较常规压力(400 kN)元素的峰背比值、灵敏度显著地提高,检出限明显降低、分析结果更接近标准值、精密度和样品制备的重现性均有较大提高。还利用电子显微镜和X射线衍射对这些高压试样片(1600 kN)和常规压力的试样片(400 kN)作了表面形态和结构的对照研究,研究表明：高压试样片(1 600 K)较常规压力的试样片(400 kN)二氧化硅谱峰的半高宽均变宽。表明峰形发生了变异,变化的原因可能是在高压下SiO₂晶格被破坏,粒度减小,因而使高压制备的试样片表面更加坚实、致密、平滑、不掉粉末,减少了颗粒度和矿物效应,提高了分析结果的精密度和准确度。     

玻璃熔片制样-XRF测定流纹岩中的24种主、次量元素

采集了雁荡山中折瀑白垩纪古火山口的流纹岩样品,通过二次玻璃熔片法制样,选择多种日本岩石标准物质作为标准样品制作校准曲线,优化建立了X射线荧光光谱法测定流纹岩中SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、MnO、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5、Th、Pb、Ba、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Zn、Cu、Ni、Co、Cr和V等24种主、次量元素含量的方法.该方法具有环境友好、操作简便、成本低廉等突出优点,并且测定结果的准确度亦令人十分满意.     

全反射X射线荧光分析植物粉末样品的制样方法研究

全反射X射线荧光光谱(TXRF)分析是一种应用广泛、经济快捷的多元素显微与痕量分析方法。随着现代科技机器自动化的快速发展,样品制备成为TXRF分析定量的关键问题。本实验以茶叶粉末为分析对象,探讨了在TXRF分析过程中分散剂、样品量及粒径对粉末悬浮样品的制样效果、制样过程重复性及测量准确性的影响。结果表明：（1）通过分析粒径范围大于180目的茶叶粉末样品的五个独立重复试样,测试了TXRF法的整体精密度,分析了仪器的稳定性与样品制备过程中的不确定度,结果表明不论在何种元素与浓度范围下,与样品制备步骤相关的不确定度对获得的结果的全局精度都有显著贡献（>60%）,样品的制备是分析误差的主要来源;（2）通过将粒径范围大于180目的茶叶粉末样品分散于1% Triton X-100与去离子水两种分散剂中,对分散剂的影响进行了研究,相较于非离子型表面活性剂,去离子水重复性更好,RSD在2.45%～11.64%之间,更适合作为粒径大于180目的茶叶粉末样品的分散剂,使得中、高Z元素的定量更为准确;（3）通过添加不同质量的粉末样品于5 mL去离子水中对样品量进行分析。样品量过低会导致制样重复性较差,而过高的进样量会导致样品薄膜厚度超过射线的测量厚度,有可能不再处于全反射条件下。对于植物粉末样品20 mg/5 mL是一个较为合适的样品量;（4）通过对7种粒径范围的粉末样品进行测量分析,研究了粒径对测量结果的影响。在粒径小于180目的范围内净计数随粒径的减小而增大;在粒径小于200目的范围内精密度随粒径的减小而提升;除Mn之外的元素粒径对准确性未有显著影响;在80～200目的范围内,不确定度迅速降低,大于200目后不确定度低于10%。综合考虑净计数、精密性与准确性,在制样过程中粒径范围建议研磨至200～300目之间,该研究结果可为植物粉末样品制样方法提供有效借鉴。     

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法

本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。根据70多篇文献和一些常见的资料，作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。     

X射线荧光光谱法测定混合稀土氧化物中稀土分量

建立了X射线荧光光谱法测试稀土氧化物中稀土分量的方法,讨论了样品制作方法,提出用聚四氟乙烯制作样品底座,分析试液1 mL滴入样品底座的吸附滤纸上,烘箱或红外灯下烘干,6 μm聚脂薄膜扣住测量,样品底座不吸附试样,吸附滤纸的位置及平整性由于内标的补偿不影响分析结果的准确性,初步探讨了薄试样的基体效应,测试的稀土含量范围为:La2O3 0.01%～50%,CeO2 0.01%～15%,Pr6O11 0.01%～12.5%,Nd2O3 0.01%～40%,Sm2O3 0.01%～40%,Eu2O3 0.01%～10%,Gd2O3 0.03%～40%,Tb4O70.01%～5%,Dy2O3 0.05%～10%,Ho2O3 0.01%～4.5%,Er2O3 0.01%～8%,Tm2O3 0.01%～2%,Yb2O3 0.01%～8%,Lu2O3 0.01%～1.5%,Y2O3 0.5%～80%,测试结果与外检吻合.方法易于操作,重现性好,适应范围广,测试了大量其他物料成分,可满足定量分析要求,已作为常规分析手段.     

硝化后熔融制样法——X射线荧光光谱同时测定锰矿中主、次元素

采用X射线荧光光谱法同时测定锰矿中Mn,SiO₂,Fe,P,Al₂O₃,CaO,MgO和S等8个组分。因锰矿熔融制样过程中产生气泡现象严重,影响到测定的准确性和重现性,文章提出了先加硝酸破坏锰矿样品中的有机物,然后用12∶22混合熔剂在1 000 ℃熔融制样的方法,解决了锰矿熔融制样过程中有机物挥发产生大量的气泡导致熔剂飞溅的问题,消除了试样的粒度效应和矿物效应,同时也解决了硫元素在制样过程中容易挥发的难题。对熔剂、熔融时间、硝酸加入量等制样条件进行了选择,并采用可变理论α系数法校正基体的吸收增强效应,扩大了测定线形范围,进行了方法的精密度及准确度试验。与化学法对比,本法测定锰矿中各组分的定量分析结果令人满意,方法准确、快速、简便。     

XRF法在密闭鼓风炉粗锌分析中的应用

本文研究了用X－射线荧光光谱法测定密闭鼓风炉粗锌中铅、锌、铁和镉等元素,样品从炉前取出后铸成一定形状,被测表面经抛光后直接测定,不经化学处理。用经验系数法校正基体效应。用人工模拟制备标准,其浓度与X－射线强度的线性相关系数均在0．98以上,标准偏差小于0．0056;相对标准偏差小于2．41％。测定结果与化学结果相符。     

用于XRF分析的U-Nb合金试样制备方法

用X射线荧光光谱法(XRF)测量U-Nb合金样品时,其试样制备至关重要。本文用XRF测量U-Nb合金试样的制备方法:首先用HNO3+HF溶样,然后加入柠檬酸溶液,依次经过加热、除酸、络合、定容等过程,最后定量移取试液于滤纸片上,在红外灯下烤干,即制成试样片。该方法制备的U-Nb合金试样片具有平整、不变形、易于封装、可长期存放等特点。     

矿石中多元素的XRF分析

采用熔融法制样,ＸＲＦ分析方法,测定矿石中的多种元素,此法克服了基体效应,方便可靠。     

硅铁合金中硅的间接测定

通过对样品的Ｘ光物相分析,探明硅铁合金的成分,经分光光度法测定铁的含量。从而间接地得到非单质硅的含量。本方法快速准确,为硅铁中有效硅的含量分析提供了一条捷径。     

X射线荧光光谱法测定工业硅中铁、铝、钙

通过压片法制备样片,用X射线荧光光谱法测量工作硅中铁,铝,钙,探讨了样片制备条件,并通过加入粘接剂提高了样片牢固度,用经验系数法进行元素间增强和吸收校正,经对样品制备精密度及测量准确度分析,X射线荧光光谱法测量准确度和精密度能满足传统化学法要求。     

XRFA聚脂薄膜-滤纸试样制备方法的改进

介绍了用于X射线荧光光谱分析（XRFA）的聚脂薄膜-滤纸试样制备改进方法及其效果实验。改进方法制备的试样具有基体效应小、样品用量少、元素分布均匀、试样反复使用不变形和便于保存等优点,特别适用于轻元素测量的试样制备。     

饰品检验中的样品底托探讨

对以铅片、腈纶网为样品底托的ＸＲＦ测量进行了对比。结果表明，用腈纶网做样品底托，光谱背景底，分析灵敏度高。     

XRF法测定锌合金中的铝

建立了XRF法测定锌合金中Al的分析方法.方法简便、快速、准确,在生产分析中发挥了重要作用.     

样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究

分别以富集有Cr,Pb和Cd三种元素的尼龙薄膜样品及玻璃纤维滤膜为研究对象,采用滤膜叠加的方式,通过XRF光谱仪测量不同样品厚度下薄膜样品的XRF光谱,根据测得的尼龙薄膜样品中Cr,Pb,Cd元素及玻璃纤维滤膜中Ca,As和Sr元素特征XRF性质的变化,研究样品厚度对薄膜法XRF光谱测量的影响。结果表明：薄膜样品厚度对不同能量区间上元素特征谱线荧光性质的影响并不相同。元素特征谱线能量越大,元素特征X射线荧光穿透滤膜到达探测器的过程中损失越少;但由薄膜样品厚度增加引起的基体效应却越强,相应特征谱线位置处的背景荧光强度就越大,因此样品厚度增加所引起的基体效应对薄膜法XRF光谱测量的灵敏度影响就越大。对于特征谱线能量较低(能量小于7 keV)的元素,以增加薄膜样品厚度的方式来增加待测组分的质量厚度浓度,并不能有效地提高薄膜法XRF光谱测量的灵敏度;对于特征谱线能量较高的元素(能量＞7 keV),可以通过适当增加样品厚度以增加被测组分的质量厚度浓度的方式来提高XRF光谱测量的灵敏度,薄膜样品厚度在0.96～2.24 mm内,更有利于XRF光谱的测量与分析。该研究为大气及水体重金属薄膜法XRF光谱分析中薄样制备及富集技术提供了重要的理论依据。     

X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫

采用X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫，代替传统的化学分析方法。原样品粉末直接压片，标准样品采用国际焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片，采用散射线背景校正法校正基体的影响，效果良好，简便易行。本方法的精与准确度均较好。