共查询到19条相似文献,搜索用时 46 毫秒
1.
采用X射线衍射和X射线光电子能谱实验手段对不同厚度的NiTi薄膜相变温度的变化进行了分析.结果表明在相同衬底温度和退火条件下,3?μm厚度的薄膜晶化温度高于18?μm厚度的薄膜.衬底温度越高,薄膜越易晶化,退火后薄膜奥氏体相转变温度As越低.薄膜的表面有TiO2氧化层形成,氧化层阻止了Ni原子渗出;膜与基片的界面存在Ti2O3和NiO.由于表面和界面氧化层的存在,不同厚度的薄膜内层的厚度也不同,因而薄膜越薄,Ni原子的含量就越高.Ni原子的含量的不同会影响薄膜的相变温度.
关键词:
NiTi合金薄膜
X射线衍射
相变
X射线光电子能谱 相似文献
2.
3.
X射线荧光光谱法同时测定煤灰中的12种成分 总被引:4,自引:0,他引:4
采用熔融制样法,用X射线荧光光谱法同时测定煤灰中的常量、少量和微量成分SiO2,Al2O3,Fe2O3,CaO,SO3,TiO2,K2O,Na2O,P2O5,MgO,MnO,BaO。选用混合熔剂并加入氧化剂的方式降低熔融温度,解决了硫的准确测量问题。同时通过选用土壤等标准样品解决了煤灰成分标准样品不足的问题。应用可变理论α系数及固定α系数法进行基体效应校正,所得结果与化学法的分析结果相符合。 相似文献
4.
5.
1895年发现了X射线.1923年前后莫斯莱(Mo-sely)对X射线特征谱和原子序数之间的关系作了系统整理,得到了莫斯莱定律;随后布喇格(Bragg)发表了X射线衍射定律.X射线光谱分析的基础就这样奠定了.1923年丹麦物理工作者在X射线光谱中成功地把给(Hf)从化学、物理性能十分相似的锆中区别出来,证实了第72号元素的存在;以此为开端,作为成份分析的手段,X射线分析就因其非破坏性、快速、准确、操作简单等长处,在材料鉴定、生产过程质量控制中应用开了. 但是X射线光谱分析真正的繁荣是四十年代以后的事,这是因为终于制造出了稳定的X射线激发源、加工… 相似文献
6.
7.
一、引 言 用X射线荧光光谱法测定二元合金薄膜的组分时,通常是先制备一系列不同成分的薄膜,经化学分析标定后作为标样,以此来确定标准曲线,然后对待测薄膜进行测定、比较[1,2].近年来某些作者推荐利用单组分薄膜标样的方法[3,4].这些方法不足之处在于制备薄膜标样要增加较大的工作量.用质子背散射方法来测定薄膜组分虽具有它独特的优点,但是在测定膜主成分时其准确度常常不够满意,此外,它还要与加速器联用,因此应用上也受到限制. 本文来用 L.Bergel及 F.J.Cadieu[5]推荐的利用滤纸片标样的方法,测定了非晶态钆钴合金薄膜的原子组分比. … 相似文献
8.
椭圆仪在测量介质薄膜和研究表面方面得到了广泛的应用.其主要优点是精度较高,而且是一种非破坏性测量.目前使用椭圆仪时,一般都是给定介质薄膜的折射率,再由椭圆仪的测量值来计算出膜的厚度.但在实际情况中,介质薄膜的折射率往往也是一个待测的参数.所以,如何用椭圆仪来同时测定介质薄膜的折射率和厚度,是一个很有实际意义的问题.一、原理椭圆仪的工作原理和在已知薄膜折射率的情况下如何测定薄膜的厚度,在一些文?... 相似文献
9.
10.
提出用X射线荧光光谱法测定浮法玻璃上镀层厚度及其各层成分含量的分析研究,对样品各层元素的测定条件、仪器工作条件等进行了设置调整,以期对每个元素的测定效果达到最佳。建立了膜层试样的背景基本参数(BG-FP)法,测定结果与实际制备条件吻合,适用于生产应用。 相似文献
11.
12.
A modified Bragg law for straightforward determining the film thickness by low-angle X-ray reflection was derived based on the geometrical optical theory. We showed that this modified Bragg law and its inference formulae could be used to accurately determine the thickness of the monolayer or multilayer film. Furthermore, the modified Bragg law for determining the superlattice period presented earlier by others can be derived from the above modified Bragg law. The similar inference formulae were also given. The precision in determining the film thickness and/or superlattice period by the above formulae was discussed. 相似文献
13.
14.
A direct method is proposed to quantitatively characterize the structural depth profiles emerged in the polycrystalline thin films based on the information obtained by X-ray diffraction (XRD) with various incident angles and treated by a numerical procedure known as the constrained linear inversion. It should be noted that the proposed method was neither sensitive to the random noise appearing in experiment nor to the error originated from the measured thickness of the specimen. To testify the validity of the method, XRD measurements were carried out on a specially designed Pd/Ag bilayer sample, which was annealed at 490℃ for 20 min, and the depth profiles were accordingly calculated through resolving the obtained XRD patterns. The elemental concentration depth profile of the Pd/Ag bilayer sample was in turn calculated from the resolved patterns, which was in good agreement with those obtained by Auger electron analysis on the annealed sample. 相似文献
15.
16.
17.
18.