排序法计算指数寿命型元件失效率经典精确最优置信上限

设有指数寿命型元件,寿命服从参数为λ的指数分布,λ未知,设有此元件的分组数据(grouped data):对N个元件进行定时检测,0=t_0相似文献   

两成败型元件可靠性之差的经典精确最优置信下限

设有可靠性分别为p1和p2的两成败型元件.第i个元件试验N_次,成功S_次(i=1,2).本文利用样本点排序的方法给出了Q=p1-p2的经典的置信下限,并讨论了所得置信下限的精确性及最优性.     

有相依关系的成败型元件串联系统可靠性经典精确最优置信下限

设有由Ｋ个成败型元件Ａ１，Ａ２，…，ＡＫ组成的串联系统，设Ａ１，Ａ２，…，ＡＫ之间有相依关系，要Ａ１成功的条件下Ａ２才可以试验，在Ａ１，Ａ２，都成功的条件下Ａ３才可以试验，…在Ａ１，Ａ２，…ＡＫ－１都成功的条件下Ａｋ才可以试验，设条件概率Ｐ（Ａｉ│Ａ１Ａ２…Ａｉ－１）ｐｉ，ｐｉ未知，ｉ＝１，２，…，Ｋ。设有样本（Ｘ１，Ｘ２，…，ＸＫ）（Ｘ≥Ｘ２≥…≥ＸＫ），本文用样本点排序法求此串联系统可靠性之经     

具有不确定数据的成败型元件和系统可靠性置信下限的精确解

当试验次数为ｎ，成功次数介于Ｘ１，Ｘ２时（Ｘ１≤Ｘ２）。本文给出了在这种不确定数据下成败型元件的可靠性Ｐ的极大似然估计和精确置下限，对于由成败型元件组成的串联和并联系统，本文也给出了在不确定数据下，系统可靠性的精确解。最后讨论了极大似然估计的某些性质。     

对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限

本文给出了基于一次性检测数据的对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限的方法，并对得到的近似置信限的精度作了讨论，结果表明精度符合要求。本文还给出了数字例子。     

成败型元件串并联系统及并串联系统可靠性置信下限近似解的讨论

本文讨论由相互独立的成败型元件组成的串并联系统及并串联系统可靠性置信下限的近似解。本文利用系统诸元件的试验数据,在一、二阶矩拟合的原则下将其折合为原系统的伪试验数及伪成功数,然后利用单个成败型元件的可靠性的经典精确置信下限作为原系统可靠性置信下限的近似值。本文推导了伪试验数N及伪成功数S的计算公式,并给出了计算实例。     

基于巴斯卡数据成败型元件串联系统可靠性经典精确置信限

设Ａ为由Ｋ个相互独立的成败型元件组成的串联系统，第ｉ个元件的可靠性ｐｉ，ｐｉ未知，ｉ＝１，２，…，Ｋ．设对第ｉ个元件，对于给定的ｍｉ，有ｎｉ个巴斯卡试验数据：Ｘｉ１，Ｘｉ２，…，Ｘｉｎｉ，其中Ｘｉｊ表示对第ｉ个元件进行试验，试验进行到ｍｉ次成功时所需要的试验次数ｊ＝１，２，…，ｎｉ，ｉ＝１，２，…，Ｋ．记Ｔｉ＝Ｘｉ１＋Ｘｉ２＋…＋Ｘｉｎｉ，ｉ＝１，２，…，ｋ．本文研究基于统计量（Ｔ１，Ｔ２，…，Ｔｋ）求串联系统Ａ的可靠性经典精确最优置信下限．     

串联系统可靠性虚拟系统法置信下限的小样本性质

本文讨论了具有r个成败型元件串联系统可靠性的置信下限问题。研究了虚拟系统法置信下限的小样本性质,证明了,在通常情况下虚拟系统法置信下限要大于常见的L-M法置信下限.更一般地,本文证明了在成败型试验中,当成功数与试验数之比保持不变时,试验次数的增加将直接缩小成功率置信区间的长度。     

基于成败型元件试验数据和系统试验数据的串联系统可靠性的置信下限

本文根据成败型元件和系统两者的试验数据来估计串联系统可靠性的置信下限。首先根据元件和系统两者的试验数据,求出系统可靠性的极大似然估计,然后按L-M(Lindstrom-Madden)法给出系统可靠性置信下限的近似值,并提供了数字例子。     

基于随机截尾数据的指数型元件串联系统可靠性的置信限

基于元件的随机定时截尾寿命试验数据,给出了指数型元件串联系统可靠性的经典精确置信下限,给出了数字例。     

评估系统可靠度置信下限的随机模拟方法

由已知寿命分布和测试数据的五个不同类型部件,组成一串并联系统,本文应用Monte Carlo方法,Bootstrap方法,和Double Monte Carlo方法给出该系统的可靠度置信下限.     

利用隐蔽数据求指数型元件可靠性Bayes置信限及Fiducial置信限

本文对两个相互独立的指数型元件，利用串联系统寿命试验的隐蔽数据求元件可靠性的Bayes置信限以及Fiducial置信限．     

基于检测数据的指数型元件贮存可靠性的置信限

为了评估元件或产品在贮存期间的可靠性，我们要对元件进行检测．一般地，在ti时刻检测ni个元件，设每次检测的正确率为ri，（ri已知，ri＞1／2）．检测结果成功的元件数为si（i＝1，k）．本文将基于此类数据，给出一种方法，来确定元件的贮存可靠性的置信下限，并给出了数字例．     

贮备系统可靠性之近似置信限

设组成贮备系统的指数寿命型元件的失效率之间满足某种关系．本文给出了这样的两个贮备系统组成的串联系统可靠性之近似置信下限的计算公式．     

关于无失效数据情形下的置信限

在本文中，我们对一些常见的可靠性参数了在没有失效数据情形下的置信限，不仅给出了计算最优置信下限的普遍公式，而且对指数分布，Ｗｅｉｂｕｌｌ分布和对数正态分布分别导出了具体结果。     

成败型元件可靠性估计及近似置信限

本文基于成败型元件串联系统的成败型试验数据,研究成败型元件可靠性的点估计以及近似置信下限.     

EUCLIDEAN GEOMETRY OF CURVED EXPONENTIAL FAMILIES AND ITS APPLICATION TO CONFIDENCE REGIONS

ＥＵＣＬＩＤＥＡＮＧＥＯＭＥＴＲＹＯＦＣＵＲＶＥＤＥＸＰＯＮＥＮＴＩＡＬＦＡＭＩＬＩＥＳＡＮＤＩＴＳＡＰＰＬＩＣＡＴＩＯＮＴＯＣＯＮＦＩＤＥＮＣＥＲＥＧＩＯＮＳＷＥＩＢＯＣＨＥＮＧＡｂｓｔｒａｃｔ：ＥｆｒｏｎａｎｄＡｍａｒｉｐｒｅｓｅｎｔｅｄａＲｉｅ...