光条亮度对线结构光测量精度的影响

光条中心的提取精度直接影响线结构光传感器最后的测量精度,而光条亮度是影响提取精度的主要因素。提出了光条中心提取精度的评价方法,通过实验获得光条亮度与光条中心提取精度之间的关系曲线;为了在实际测量中能获得最佳光条亮度(对应最高的提取精度)设计了基于D/A转换的光条亮度自适应调节电路。实验结果表明:光条过暗或过亮都会使线结构光传感器的测量精度降低,在测量不同颜色的表面时通过光条亮度的自适应调节均可获得最高的提取精度。     

变条长实验测量GaN增益时条宽的影响

研究了光学变条长实验中条的宽度对半导体激光器光增益测量的影响,提出利用光刻溅射处理样品来严格控制泵浦条的宽度,并详细研究了泵浦条宽度与样品增益及饱和长度关系。实验表明:泵浦条宽度越窄,饱和长度越长,但测得的增益系数有所减小。本文利用非平衡载流子扩散模型对此现象进行了解释。     

引出惯量椭球的一条途径

借助于标量场中等值面的概念引出惯量椭球。     

激光传输大气参量测量精度要求的数值分析

 就激光大气传输湍流热晕相互作用下大气参量测量误差对激光传输效果（平均功率密度）的影响进行了数值分析,并以典型的激光传输条件为例,分析了对激光大气传输影响最为敏感的3个大气参量——风速、吸收系数以及湍流结构常数的测量精度要求。综合不同传输距离下大气参量测量误差对传输效果的影响,大气风速的测量精度要求为±10%,吸收系数及湍流结构常数的测量精度要求分别为±5%和±15%。     

激光传输大气参量测量精度要求的数值分析

就激光大气传输湍流热晕相互作用下大气参量测量误差对激光传输效果（平均功率密度）的影响进行了数值分析,并以典型的激光传输条件为例,分析了对激光大气传输影响最为敏感的3个大气参量——风速、吸收系数以及湍流结构常数的测量精度要求。综合不同传输距离下大气参量测量误差对传输效果的影响,大气风速的测量精度要求为±10%,吸收系数及湍流结构常数的测量精度要求分别为±5%和±15%。     

物镜象差对分辨率影响的一种测量分析法

物镜的分辨率除受入射波长、照明相干度和物镜的数值孔径影响外,很大程度上还受物镜象差的影响.本文提出了一种定性分析测量物镜象差和加工装配误差对分辨率的综合影响的新方法,利用该方法对两不同物镜象差影响进行测试和分析并用这两物镜进行了曝光光刻试验,光刻试验的结果和测量分析的结果相吻合.     

空气密度测量的一种新方法

在分析定容条件下压强和温度关系的基础上,设计了一种测量空气密度的新方法并由此讨论了该实验的基本原理,通过实验相关数据的具体测量及计算,验证了该方法测量的可靠性及实验结果的高精确性。进一步分析表明:该实验可发展成一个运用现代计算机处理的比较精密的空气密度测定仪。     

测量线胀系数的一种新方法

给出测量金属线胀系数的一种新方法。本文根据夫琅和费衍射原理，利用CCD来测量金属体随温度升高的伸长量，对黄铜的线胀系数进行了测量。     

一种测量密度的方法

本文介绍了一种有效测量密度的方法,此法方便、准确。     

热导率测量的一种新方法

本文介绍用热线法测量物质热导率的实验原理，装置及有关结果。     

测量重力加速度的一种新方法

提出了一种测量重力加速度的新方法,结合CCD杨氏模量实验仪给出了重力加速度和杨氏模量的物理关系式,从测量结果可知,所测重力加速度与标准值相比其相对误差甚小,说明该实验方案确实可行,具有一定的应用价值。     

一种测量惯性质量的新方法

提出了一种测量物体惯性质量的新方法     

自由飞行昆虫运动变形测量中弱光条提取

通过分析昆虫自由飞行状态下结构光光条图像的特点,提出了一种用于提取昆虫运动变形测量中弱光条中心点的图像处理方法。该方法根据图像的灰度分布情况对图像进行分块,采用小波理论对图像消噪,利用模糊增强和小波同态滤波相结合的算法增强各图像的弱光条信号,再应用steger算法提取弱光条中心点的亚像素位置。给出几种算法实验结果的比较和分析,表明该方法成功实现了弱光条信号中心点的提取,并有效抑制了噪声和干扰。     

一种测量折射率的新方法

折射率是透明物质的重要参数,在科学研究和生产实践中有广泛应用。运用变形后的菲涅尔公式,设计了一种可以同时测量固体和液体折射率的新方法。测量方法简单,测量结果准确,具有很强的实际应用价值。     

发展光学薄膜技术的一条好途径

<正> 为改变我国现有真空镀膜设备及其控制技术的落后状况,以满足镀制复杂膜系、发展光学薄膜技术,西北光学仪器厂和五八研究所接受了上级下达的对东德B55-3-3旧镀膜机进行技术改造的任务。这项任务包括主机部分的改造、多坩埚磁偏转电子枪及镀膜参数控制系统的研制内容。镀膜参数控制系统由磁偏转电子枪扫描控制,SK蒸发速率自动控制、光学膜层厚度自动控制、真空压强自动控制、基片烘烤温度控制、高压灭弧复位自动控制、恒流源光源、光电倍增管高压电源等八部分组成。     

测量热导率的一种新方法

一、引言在测量热导率的实验中,最普遍采用的方法是稳态法,即在保持被测样品各点温度不随时间变化的情况下测量热流,然后求出热导率。这种方法实验条件要求严格,不易测准。本文介绍一种热导率测量的新方法,即动态法:样品上各点的温度可以随时间发生规律性变化,再利用这种规律来求样品的     

测量畸变的一种新方法

提出测量光学系统单色光畸变的一种新方法,采用的是造价低廉、制作简便的非线性全息光栅作标准多平行光束发生器。通过两个测量实例,分析测量误差,对相关问题进行讨论。最后提出角畸变测量的概念及提高测量精度的途径。     

加快图样匹配过程的一条途径

本文提出一种加快图样匹配过程的新途径。它将原来的数字式图样分成四个子图样,分四步进行匹配比较,在每一步上进行一个子图样的匹配比较,选出一部分跟未知图样距离较小的参考图样,参加下一步的图样匹配比较,其余淘汰。这样使匹配过程加快三倍以上。文中给出了在语言识别方面的实验结果。采用二种淘汰办法,它们在前三级上的淘汰率分别是:（i）3/4,1/2,1/2;（ii）9/10,1/2,1/2。这二种办法所需的图样匹配时间分别是0.359 T₀和0.294 T₀,T₀——是完整的匹配过程所需的时间,而正确率几乎不下降。这样我们原来的通用实时语言识别系统RTSRS（01）就能实时识别600条口令。     

集成电路对硅材料的要求

半导体硅材料（以下简称“硅或“硅材料”）与集成电路的关系十分密切．硅材料的诞生比集成电路要早,但集成电路的出现使硅在半导休材料中占压倒优势．根据１９８２年的统计,在半导体器件市场中,硅占９８％［１］．而集成电路约占整个半导体器件的８０％左右．集成电路推动着硅材料工业的发展,使硅材料产量大增,生产技术日益提高,设备日益大型化和自动化．另一方面,硅材料质量的提高和成本的下降又为集成电路的集成度和?...     

对晶体光损伤阈值测量的一种新方法的研究

提出一种测量晶体光损伤阈值的新方法,即确定激光横向功率密度的空间分布,利用晶体的激光损伤斑点半径,直接计算出晶体光损伤阈值,并给出入射激光为高斯光束时晶体损伤阈值与其损斑半径的关系。以提拉法生长的掺镁铌酸锂(MgO：LiNbO3)晶体为研究对象,用该方法测量其损伤阈值,得到了定量结果且所得数据与文献已报道的规律相符。分析得出同样激光条件下．损斑半径越大的晶体其光损伤阈值越小的结论,指出该方法同样适用于其他晶体或非高斯光束条件下光损伤阈值的测量并对具体作法进行了讨论。该测量方法弥补了常用测量方法只能定性或半定量的不足,可用于晶体抗光损伤阈值的精确测量。