电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定植物样品中多种元素

本文为环境样品分析建立了准确、灵敏、快速的分析方法,探讨了酸类及酸度对谱线强度的影响,同时对基体元素的谱线干扰进行了校正和背景扣除,测定了环境背景值样品树干和树叶中15种元素,经标样测定结果满意。     

电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定水泥熟料中铬的干扰研究

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）测定重金属时常面临干扰问题。为提高ICP-OES测定水泥熟料中铬的准确度,研究选取了Cr205.560、Cr267.716和Cr283.563三条谱线,根据水泥熟料中主量元素（铁、铝、钙和镁）含量,设计不同浓度单元素干扰试验,结果表明：铁对Cr283.563谱线测定有较大的正干扰,钙对三条谱线均有较大的负干扰,两者导致的相对误差（RE）均在±10%以上,其他一般为负干扰,RE在±10%以内。进一步线性回归分析发现,除铝外,其他干扰元素的干扰大小与浓度呈强线性相关性。通过多元素复合干扰试验发现干扰导致的RE约为-18%~11%,同单元素干扰加和结果比较,两者相差约为8%~10%。实际样品检测结果表明实际干扰同多元素复合干扰试验基本相同,Cr283.563谱线测定结果误差可能更小,三条谱线的实际样品加标回收率大致相当,约为80%,经回收率修正,Cr205.560和Cr267.716谱线结果满意,而Cr283.563谱线误差较大。以多元素复合干扰试验溶液作为基体,采用基体匹配法测定可基本消除干扰影响。以钙溶液作为基体的简化基体匹配法同样有效,但仅可选用Cr205.560和Cr267.716谱线。本研究从实际干扰问题出发,通过系统分析问题,找到干扰的原因,并据此提出消除干扰方法,提高了测定铬的准确度,也为检测人员解决相关干扰问题提供借鉴。     

ICP-AES法测定金合金首饰中铱元素分析谱线研究

采用电感藕合等离子体发射光谱法(ICP-AES)对金基体溶液中的Ir进行测试,分析讨论了国家标准GB/T21198.4-2007和美国热电Thermo IRIS Intrepid II型ICP光谱仪推荐的几种Ir谱线在金基体中的干扰问题.综合谱线强度、灵敏度、标准曲线相关系数、光强值、干扰谱线位置等因素,确定212.681 nm是该型ICP光谱仪测定金首饰中Ir元素的最佳谱线.     

端视ICP-AES中用铟内标校正钠基体干扰的研究

端视电感耦合等离子体原子发射光谱中易电离元素引起的非光谱干扰,常使分析结果产生偏差。本文就不同浓度钠基体对分析谱线产生的干扰进行了试验和研究,并用铟作为内标元素来补偿钠基体的干扰。得出选择用几个内标元素和多条内标谱线时可以校正钠基体的干扰。     

电感耦合高频等离子体光源中谱线激发特性的研究

本文测量并比较了遵守局部热平衡的交流电弧光源和非热平衡的Ar ICP与N_2/Ar ICP光源的激发温度、多元素离子线/原子线的强度比,实验指出在ICP光源中,(激发电位+电离电位)与亚稳态氩原子的能量相近的离子谱线发射显著增强,表明亚稳态氩和潘宁电离在该光源的激发过程中所起的特殊作用。     

等离子发射光谱法测定碳化硼颗粒增强铝基复合材料中6种元素

采用等离子发射光谱法同时测定碳化硼颗粒增强铝基复合材料中Al,Si,B,Mg,Cu,Fe等元素的含量。分析了各元素之间以及基体的光谱谱线相互干扰情况,对标准溶液采取与样品大致相同的基体匹配方式,消除了基体干扰,使测定结果更加准确。     

试液进样量对ICP光源中稀土元素谱线的影响

研究了ICP光源中试液进样量对稀土元素谱线强度、背景强度、谱线强度测量的相对标准偏差,元素检出限,发光效率及试样相对利用率的影响。结果表明,降低试液进样量对稀土元素谱线强度有轻度影响,并 不影响测量的相对标准偏差和元素的检出发。降低试液进行量将提高发光效率及试样利用率,节省稀有和贵重样品用样量。     

高分辨连续光源原子吸收光谱法对土壤中磷的测定

磷元素在适宜的空气-乙炔火焰中可形成PO双原子分子,PO分子的部分吸收谱线具有原子谱线的轮廓和强度.该文主要研究了利用连续光源原子吸收光谱法,在空气-乙炔火焰条件下测定PO分子的吸光度值,从而测定土壤样品中的磷元素.实验研究了测定过程中可能存在的光谱干扰和化学干扰、乙炔/空气流速比、燃烧器高度对PO双原子分子吸光度的影响,以及不同消解方式对测定结果的影响.在优化的实验条件下,PO 246.40 nm的检出限为20 mg/L.通过对土壤标准物质中磷元素含量的测定比对证明,连续光源原子吸收光谱法是一种测定土壤中磷元素含量的简单、快速的方法.     

2-乙基已基膦酸单(2-乙基已基)酯萃淋树脂分离-火花源质谱法测定高纯氧化钐中痕量稀土杂质

1引言火花源质谱法是测定高纯稀土的方法之一，具有灵敏度高、基体影响小、谱线干扰少等优点。对于单同位素的超高纯稀土元素，通常可以利用火花源质谱法直接测定，但对于99．9999％的超纯Sm3O3，由于Sm有7个同位素，晕轮背景干扰，谱线干扰以及大量基林元素存在，严重影响火花源质谱法灵敏地测定痕星稀土元素，必须分离富集，以P507萃林树脂为固定相、HCl-NH4Cl为淋洗液研究了大量基体Sm和其它14个痕量稀土杂质元素的分离方法，结合资合剂-活性碳柱富集淋洗液中14个痕量稀土元素，成功的建立了化学分离-火花源质谱法分析高纯氧化衫的方…     

电感耦合等离子体原子发射光谱分析中不同电离电位元素基体效应的比较研究

选择不同电离电位的基体元素K、Na、La、Y和Mg,比较研究了它们对分析元素谱线强度的影响,其影响程度与谱线激发电位及基体元素电离电位有定量的相关关系。碱金属基体(K、Na)和非碱金属基体(La、Y和Mg)对分析元素检出限、背景强度及其相对标准偏差的影响显著不同,后者的记忆效应也大于前者。La的电离电位与Na相差不大。但其基体效应与Y相似,表明墓体效应与基体元素的化学性质有关。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定不锈钢中元素

研究了ICP发射光谱仪测定不锈钢中钛等5种元素的方法,确定了样品的分解方法及元素测定谱线,并对各元素进行适当的背景校正,在标准溶液与样品溶液种基体匹配的情况下,用ICP-AES法测定,当样品溶液的含量为5 mg/mL时,回收率在94.7%～103.7%之间,其精密度优于10%.方法简便、快速、精密度好、灵敏度高.     

电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定硫化物矿石中的铜铅锌

建立了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法同时测定硫化物矿石中Cu、Pb、Zn三种元素的方法,取代了传统的四酸(HCl+HNO3+HClO4+HF)溶样法,采用简单的盐酸和硝酸溶解矿石,大大缩短了分析时间。选择干扰少且灵敏度高的谱线作为待测元素的分析谱线,采用左右两点扣背景的方法校正光谱干扰和基体匹配方法消除物理干扰,用GBW07162和GBW07163等不同种类的国家一级标准物质进行精密度和准确度实验,测定结果的相对标准偏差都在10%以内,测定结果都在标准值的误差范围内,符合地质矿产开发的要求。     

凹面光栅整体组合狭缝五通道原子吸收式血液五元素分析仪的研制

自行研制了一种凹面光栅整体组合狭缝五通道原子吸收式血液五元素分析仪,用于人全血中5种元素Ca,Cu,Mg,Fe和Zn的测定.采用1支五元素空心阴极灯作为光源,以单反射方式聚焦在火焰中心,以凹面光栅为色散元件.设计了五元素锐线通过的整体组合狭缝.采用顺序注射变速恒流在线稀释的溶液注入方式.为消除干扰谱线对钙的原子吸收的影...     

低功率微波等离子体炬（MPT）光源基本性质的初步研究

对低功率微波等离子体炬(MPT)光源基本性质进行了初步研究,采用“双线法”测定了有、无样品引入时光源中激发温度随观测高度的变化;测定了Zn、Cd、Mg的原子线和离子线发射强度随观测高度的变化;还研究了一些实验参数对等离子体激发温度的影响。     

基于电感耦合等离子体高纯镁基氧化物中共存元素光谱特征

研究高纯镁基氧化物中共存元素在电感耦合等离子体焰中光谱特征及规律。通过试验研究了含镁基体和不含镁基体条件下,钾、钠、钙、铅、铁、镉、硼、硫、硅、铝、锰11种元素的分析谱线、高频发生器功率、垂直观测高度、雾化器流量在电感耦合等离子体焰中的光谱特征,优选了产生最大信背比的光谱参数。模拟高纯系列镁基氧化物基体,进行共存元素与背景发射光谱特征的研究,为建立高纯镁基氧化物中痕量杂质元素的检测方法奠定了基础。     

氧屏蔽氩微波等离子体炬的背景发射及其中某些元素发射特征的初步研究

氧屏蔽氩微波等离子体炬(OS-Ar-MPT)是对Ar-MPT新光源的一个重大改进.本文主要探讨了屏蔽气氧气流量变化时对该新光源背景发射光谱及某些元素的原子线、离子线发射的影响.结果表明,该光源简单的背景发射十分有利于作原子发射光谱分析,同时它对多数元素的原子发射线信背比都有明显的改善,是一种很有发展前途的新光源.     

高频感耦等离子体发射光谱法测定毛发、粮食中多种元素

毛发及粮食中某些大量与微量元素的含量与环境及人和动物体健康之间的关系越来越受到人们的关注。本文提出用ICP-AES同时測定毛发、粮食中多种元素的方法。考察了盐酸及高氯酸不同酸度对测定的影响,对基体元素的谱线干扰进行了校正及背景扣除。酸法溶样,快速简便。经标样测定,结果满意。     

ICP-AES法测定钼酸铵及多钼酸铵中14个杂质元素

提出了用浓硝酸沉淀并分离大量基体钼，ICP-AES同时测定钼酸铵中14个杂质元素的方法，考虑了钼基体、酸度、谱线干扰及背景影响等情况。在未引入其它任何试剂的情况下，用硝酸既除去了大量的钼基体，又调整了溶液的酸度，用标准加入法测定钼酸铵中的杂质元素，无需加入高纯基准试剂进行基体匹配，有效降低了分析成本，又消除了由于忽略基准物质中杂质元素的含量给分析测定带来的误差。回收率在85％～112％之间。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镁及镁合金中硅含量

用硝酸及少量氢氟酸可将试样完全溶解,所得溶液可用于电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)或钼蓝分光光度法测定镁和镁合金中的硅含量,对ICP-AES测定硅的分析条件作了试验.为避免各共存元素的干扰,方法中选择波长为Si Ⅰ 251.611 nm及Si Ⅰ 212.412 nm的谱线作为分析谱线.在制作工作曲线时加入与待测样品等量的镁以补偿基体组分引起的基体效应,在选用上述两谱线作为分析线时,硅的质量浓度在40.0 mg·L-1以内时与谱线的发射强度均呈线性关系,所得检出限(3S/N)依次为6.2和15μg·L-1.应用此方法分析了3种镁合金标准样品,所得结果与标准值相符.     

氧屏蔽氩微波等离子体炬的背景发射及其中某些元素发射？…

氧屏蔽氩微波等离子体炬（ＯＳ－Ａｒ－ＭＰＴ）是对Ａｒ－ＭＰＴ新光源的一个重大改进。本文主要探讨了屏蔽气氧流量变化时对该新光源背景发射光谱及某些元素的原子线、离子线发射的影响。结果表明,该光源简单的背景发射十分有利于作原子发射光谱分析,同时它对多数元素的原子发射线信背比都有明显的改善,是一种很有发展前途的新光源。