喇曼自由电子激光器参量测量用法拉弟杯

喇曼自由电子激光器装置所使用的激光工作物质是准直度好、能散度小的脉冲强流电子束,其动能0.5Mev,电流密度几 KA/cm~2。因此测量脉冲强流电子束的参量以及在引导磁场作用下电子束在真空金属漂移管内的传输特性成为建立喇曼自由电子激光装置的重要环节。本文的法拉弟杯正是为了适应实验提出的测量高电流密度脉冲电子束的要求。     

双光路透射法测量浮法玻璃厚度研究

基于光的折射和透射原理,提出了一种测量浮法玻璃厚度的双光路透射法。该方法采用两个对称放置的线结构激光同时照射浮法玻璃,两束透射光经玻璃另一侧对称放置的双反射镜反射后再经透镜成像在图像传感器CCD的光敏单元上,利用Matlab对采集卡获取的线光带图像进行去噪处理,采用自适应边界阈值定位及灰度重心算法提取线光带图像中心像素,进而计算中心像素差,通过分析给出玻璃厚度与中心像素差变化量的关系式。通过对不同厚度的玻璃进行实验测量,结果表明双光路透射法测量精度高,能够满足玻璃厚度测量国家标准。     

用双光路法加快通信数据传输速率

将来，采用纤维光学波导和激光二极管的光信号传输需要比较高的数据传输速率，它可能要比到那时能应付的数据传输速率高得多，例如，电视电话会谈,就是如此。因此，西门子研究实验室正在研究一种方法，它把激光的产生和调制分开，并允许以低损耗(2分贝）和高达6千兆比特/秒的速率传输信号,这一速率比以前达到的要高一个数量级。     

双光路平衡光电测相

双光路光电测相可以有效地抑制共模漂移。但在内外强不平稳时，人为测相误差。对此可采用ＰＩＤ控制的液昌消光和可变光阑来解决     

激光溅射法生长的CdMnTe纳米晶体的法拉弟效应

较小尺寸的半导体结构是近来最为强化研究的固体介质。对这种结构的兴趣不仅由该材料的独特性质的基本研究引起，而且它们在光电子学和集成光学的应用中具有新的前景。小尺寸量子结构的一个类型是准零尺寸系统或量子点，其中准粒子的运动在三维的各维上都受到限制。扩散至电介质基质中的半导体纳米晶体可在高温玻璃合成［１］时、溶胶－凝胶工艺［２］或借助半导体材料或电介质的磁控管溅射［３］生长。作者曾对扩散至沸石和聚合物基质中的半磁性半导体ＣｄＭｎＴｅ和ＣｄＭｎＳｅ纳米晶体［４］、以及激光溅射的ＣｄＭｎＴｅ薄膜［５］进行…     

光子频率接近吸收边时Hg_(1-x)Cd_xTe的法拉弟旋转

研究固体材料的法拉弟旋转,作为一种获得固体能带参数和研究不同色散机构的重要实验方法,一直受到人们极大的关注。到目前为止,已有不少文章详细地报道了对Ge、Si和Ⅲ-Ⅴ族及Ⅱ-Ⅵ族半导体材料的法拉第旋转的研究。1978年,R.K.Ahrenkiel等研究了x值为0.37的Hg_(1-x)Cd_xTe材料的法拉第旋转。他们的研究表明,Hg_(1-x)Cd_xTe材料具有很高的品质因数,是做波长为10.6μm高能光学隔     

用旋转三角法测量弹头轮廓表面

为了实现对弹头轮廓表面的测量,并且达到高测量精度,文中介绍了对经典三角法加以改进后的旋转三角法,引入球面坐标系,把大测量范围转换为小测量范围,并给出用Visual Basic编译的测量应用程序。根据实验数据重构出弹头的三维轮廓表面,绘出弹头剖面图。结果表明旋转三角法测量结果与理论分析相符,成倍地缩小了测量范围,实现了对大变化范围弹头表面的测量,提高了测量精度。旋转三角法是类球形物体高精度测量的一种推荐使用方法。     

单轴晶体双折射率随温度变化的双光路测量

为了研究单轴晶体最大双折射率在某一波长下随温度的变化情况,根据偏振光干涉的理论分析,推导出了单轴晶体最大双折射率随温度变化的解析式.在此基础上,设计、建立了一套双光路对比测试实验系统.利用该实验系统对石英晶体样品进行测试,获得了其实验数据变化曲线,并总结出了在测试波长下,石英晶体最大双折射率随温度变化的数学式.结果表明,单轴晶体在某一波长下的最大双折射率基本上与温度成线性关系;实验过程中,只要精确调整仪器,并注意控制好实验所需温度,其测量结果是可靠的.     

旋转双光楔光路引导系统Matlab仿真研究

由于光楔在高精度微孔加工中起着对激光光束引导作用,为了提高激光微细孔加工质量,给出了一种提高光楔对激光微加工精度分析的方法。首先提出了单光楔矢量等效概念,基于单光楔矢量定义对双光楔矢量模型进行了建立与分析,并得出了多个光楔进行矢量叠加的新方法;其次,应用Matlab 编写了仿真软件,仿真得出了激光束经过两个相同光楔后的轨迹,并指出了由于运动系统的不同步对激光微孔加工中打孔质量的影响,进行了误差定量分析并给出了误差计算公式。文中结论对高精度激光微孔加工控制系统设计时的性能指标提供参考。     

双光路光电比色计

本文叙述了双光路光电比色计的工作原理,结构、性能和特点。双光路光电比色计是用滤光片取得单色光的专用仪器,是用测量被测物质的吸光度来确定被测质菜元素的含量。仪器采用两个结构完全相同的光路,其中一个为基准光路,另一个为测量光路。仪器由光源、单色器、样品池、光电转换器以及电测量仪号显示系统等五个部分组     

用光纤准直耦合光路测量大气光学湍流

阐述了利用光纤准直器对组成的耦合光路的附加损耗产生的机理,证明大气湍流运动可引起该光路的附加损耗发生随机变化。根据湍流大气光传播原理,推导出了耦合光功率与光路参数和湍流参数关系式。分析表明：实际湍流大气造成的随机附加损耗主要取决于湍流强度。实验验证了利用该光路可在很短的空气间隙内获得湍流强度的变化信息。     

基于Sagnac型的双光路平衡探测光纤声传感器

为解决传统声电传声器易腐蚀、易受电磁干扰等问题,提出了一种用光纤提取声音的声光换能器结构。该传感器以Sagnac干涉仪为原型,利用声压作用于感应光纤产生的光弹效应实现光波相位的调制,采用3 × 3耦合器构建双光路平衡探测系统,通过干涉实现语音信号的解调,将光电转换后得到的幅值相等的两路信号进行差分处理,消除共模干扰信号和降低光源噪声。实验测试表明,系统性能稳定,波形失真小,在300~3 400 Hz范围内实现声音信号的提取与还原。     

用改进双延迟线法测量SAW相速度

双延迟线法是测量声表面波(SAW)速度的一种优秀方法,其样品制备工艺成熟,测量和数据处理简单.从原理上消除了换能器的影响,能达到很高精度.主要测量误差源有中心频率和距离的测量误差两个.对此提出了两项改进措施,即对幅频响应数据进行数字滤波后再做插值,以减小中心频率的测量误差;结合光学显微镜大视野和扫描电子显微镜(SEM)高精度的优点,提高距离测量精度.在128°Y-X铌酸锂基片上进行了实验,测量精度达到数米每秒.     

激光双光路显微干涉仪

本文介绍了一种激光显微干涉仪器，它的基本原理和结构是：借助沙敏干涉仅的结构，可得到等光程的双光路测量系统；采用He-Ne激光（TEM00模）做光源，为了能观察到微小光学材料或介质材料的光学性能，在等光程的一个光路中置入样品，则视场中将出现样品引起的干涉图案，此外，又设置了显微系统进行观察，必要时还可对图象摄影记录。     

法拉级超大静电容量的测量

本文论述利用积分法、微分法、恒电压法、时间常数法、电压分配法以及库仑法测量法拉级超大静电容量的原理和方法,文中最后对各种测量方法进行了讨论。     

基于M-Z干涉原理双折射率测量光路的Matlab仿真研究

为了能在实际生产中简单方便、高精度测量平面光波导回路的双折射率,提出了一种在平面光波导上集成马赫曾德干涉光路的方法测量双折射率。横电模光波和横磁模光波在马赫曾德干涉光路中存在一定双折射现象,导致两出射光在同一干涉级M产生波长漂移Δλ,结合光路两支路相对长度即可计算出双折射率B。仿真结果表明,某一特定波段的测量精度和两支路的相对长度ΔL有密切相关;选取110μm作为ΔL的值在1550波段的测量,测量精度可以达到10^-5。     

利用前向散射实现的双光路能见度激光测量系统

文中介绍的能见度测量系统 ,通过测量 0 .81μm激光光束在前向 30°方向的散射能及在直射方向的透射能 ,计算大气的散射系数 ,测量了能见度。该系统包括光学发射与接收、信号放大与处理及结果显示三部分。光学发射与接收部分主要由半导体激光器、准直镜、扩束镜、接收镜、截止滤光片、窄带干涉滤光片、PIN光电管等组成 ;信号放大与处理部分主要由电压跟随放大电路、采样保持电路、多路模拟开关电路、模 数转换电路、80 31单片机等组成 ;结果显示部分主要由显示器、打印设备、输出端口等组成。简述了该系统的工作原理及基本结构 ,对测量的稳定性、测量精度以及光、电干扰的抑制等技术难点进行了讨论 ,并给出相应的解决方案