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在Ni-MH和Ni-Cd电池制造业中,对钴的价态确定是重要的。高自旋二价钴给出较强的Shake-up伴峰,而三价钴是反磁性的,没有伴峰,由此可以确定钴的价态,并进行定量分析。由实验结果得出下面的经验方程:X%=100(13-20C)/13(C 1)。式中X%是三价钴的百分含量,C是待测样品Co2p1/2Shake-up伴峰与主峰强度之比。此方程可以给出三价钴近似含量。我们从Cop1/2与Shake-up伴峰之间距离或者从伴峰与主峰强度之比,可以鉴别氢氧化亚钴与氧化亚钴。 相似文献
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X射线光电子能谱法分析爆炸残留物 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了用X射线光电子能谱法(XPS)对某爆炸案件的爆炸残留物进行定性、定量分析,同时以X射线荧光光谱仪(XRF)、扫描电镜能谱仪(SEM/EDX)为辅助测试手段,判断为氯酸盐类炸药,所用炸药为烟火剂。结果表明:XPS可以无损、快速地检测出无机爆炸残留物的元素成分及含量,并确定主要爆炸成分的化学式,进而确定罪犯所用炸药的种类,为侦破案件提供线索。 相似文献
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用角分布X射线光电子能谱(XPS)测试和样品原位加热相结合的方法研究了阴离子是对甲苯磺酸根的电生导电聚吡咯的化学和聚集态结构.其结果表明聚吡咯表面约几个原子层内原子的相对浓度依下述次序递减:C>O>S>N;导电聚吡咯中的氮原子至少有吡咯氮和氧化态氮两种;在200℃加热以后聚合物链不受影响,但阴离子向表面迁移,同时氧化态氮大大减少. 相似文献
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X射线光电子能谱技术在高分子材料摩擦化学研究中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
X射线光电子能谱技术(XPS)是材料表面分析的重要手段,其近年的快速发展促进了表面化学领域研究的深入.高分子及其复合材料在摩擦学性能方面具有普遍的优势,通过XPS对高分子及其复合材料摩擦表面的分析,可以确定摩擦过程的化学变化,并对改进材料的摩擦学性能起到理论的指导作用.作者主要介绍XPS技术的基本原理,及其在高分子与复合材料摩擦学性能研究中的应用. 相似文献
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利用X射线光电子能谱研究马家塔煤显微组分中氧的赋存形态 总被引:1,自引:0,他引:1
煤中氧的赋存形态是煤结构研究的重要内容,煤炭加工转化(如煤的热解、直接加氢液化等)也需要确实详尽的煤中氧赋存形态的数据信息。x射线光电子能谱法(x—ray Photoelectron Speetroscopy,XPS)是近年来新出现的最有效的元素分析方法之一,目前,已在化学、物理、生物等各个领域中得到广泛应用。1974年,XPS分析方法首次用于煤的研究,近年来,XPS成为研究煤中硫和氮存在形态的有效方法之一。许多学者在煤中无机矿物中碳、氧、硫的存在形态及XPS直接测定煤中有机硫等方面做过较多研究工作,但由于煤结构的复杂性、实验条件不尽相同以及煤中矿物的干扰等,以往的研究结果并不完全相同。 相似文献
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用紫外光谱和X射线光电子能谱研究金属卟啉自组装膜 总被引:1,自引:0,他引:1
金属卟啉化合物由于具有丰富的电子结构和特殊的物理化学性质,因而在光电材料、分子器件和非线性光学等领域具有广阔的应用前景.有机硅可用于提高高分子化合物在氧化物基底表面的附着力;在气相和液相色谱中可作为固定相;在生物传感器中可用于蛋白质的固定. 相似文献
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砷化镓半导体表面自然氧化层的X射线光电子能谱分析 总被引:1,自引:0,他引:1
用X射线光电子能谱(XPS),测量了Ga3d和As3d光电子峰的结合能值,指认了砷化镓(GaAs)晶片表面的氧化物组成,计算了表面氧化层的厚度,定量分析了表面的化学组成;比较了几种不同的砷化镓晶片表面的差异。结果表明:砷化镓表面的自然氧化层主要由Ga2O3、As2O5、As2O3和单质As组成,表面镓砷比明显偏离理想的化学计量比,而且,氧化层的厚度随镓砷比的增大而增加;溶液处理后,砷化镓表面得到了改善。讨论了可能的机理。 相似文献
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X射线光电子能谱仪(XPS)是材料表面元素定性和半定量分析的重要手段之一,是表面分析科研工作的必备仪器.为提高测试效率,实施了大型仪器设备开放共享优化,总结了在推动XPS开放过程中管理的经验和体会. 相似文献
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应用X-射线光电子能谱对铀氧化物(UO2、UO3、U3O8)的化学态及其不同价态的相对含量(U^4+/U^6+)进行了研究,结果表明,常温下UO2在空气中可氧化形成UO2+x;UO3易与水结合形成水合物,在高温和高真空中易脱氧,部分U^6+转变成U^4+;U3O8中存在U^4+和U^6+两种价态,其相对量之比为1∶2。铀氧化物中U^4+和U^6+的U4f7/2结合能相差1eV左右,借助于曲线拟合技 相似文献
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磁透镜引起的氯化银谱峰异常位移及其在X射线光电子能谱成象分析中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
用X射线光电子能谱(XPS)分析了与样品托有良好电接触的银片及其上面的AgCl。观察到在使用样品磁透镜和非单色化X射线源的实验条件下不导电的AgCl的电子峰产生异常大的谱峰位移,还发现这种异常谱峰位移可以应用于XPS成象分析,以提高化学位移很小的元素化学态(如Ag^0和Ag^ )的XPS象的分辨能力。 相似文献