两款原子吸收光谱仪的塞曼背景校正装置

讨论了永久磁场塞曼背景校正原子吸收光谱仪的外光路和磁场的设计工艺,描述了可以同时获得交流磁场和直流磁场塞曼背景校正测定结果的新系统,以及可以克服洛伦兹力对测定产生影响的磁场和石墨炉的供电系统.     

新型原子吸收背景校正装置的研制

本文研制了一种新的原子吸收背景校正装置,将自吸效应校正背景吸收的光源和产生自吸分为两个部分,自吸在一个被称为自吸管的装置内发生,文章讨论了这种分离式自吸效应校正原子吸收背景的可行性及可能存在的优点,研制成的自吸管对铜、锌、铁、铬、镍空心阴极灯光源的自吸收达到一定的深度。     

原子吸收光谱分析中各种背景校正方法的新进展和评价

随着石墨炉原子吸收光谱分析技术的发展,背景校正方法已有连续光源法(氘灯法),塞曼法,自吸收法(S-H法)等三种已成为商品仪器。连续光源、中阶梯光栅单色器波长调制法(CEWM法)是目前在实验研究中很有前途的一种背景校正方法。关于这些方法的原理已有专文报道。本文旨在对这几种背景校正技术的新近发展作简要介绍,对各种方法的性能进行比较和讨论。为集中讨论问题,本文仅限于上述四种方法的论述。     

原子吸收光谱分析背景校正技术的新进展

对在2004年推向市场的两种商品仪器所采用的两种新的背景校正方法,从方法的原理、演变与形成过程及分析性能等方面进行了较为详细的讨论和解析。     

石墨炉原子吸收分光光度法

本书是一本全面系统论述石墨炉原子吸收光谱分析法的专著。全书共分9章,约37万余字。对石墨炉原子吸收光谱分析法的基本理论、原子化机理,石墨炉原子化器的结构,各种石墨管、石墨炉电源、石墨炉法分析技术,背景校正技术,对实验室和分析过程的要求,都做了详尽的介绍。在应用一章中全面介绍了     

原子吸收背景校正的新技术——史密斯-希夫叶法

背景校正在原子吸收光谱分析中是非常重要的,尤其对于石墨炉原子吸收分析。1965年氘弧背景校正器问世,1968年开始商品化,自那以后,大多数原子吸收光谱仪都配备了它。70年代后期,利用塞曼(Zeeman)效应的背景校正器被用于原子吸收光谱仪,但目前仅用在为数不多的仪器上。在1982年的第三十三届匹兹堡分析化学和应用光谱会议上,史密斯—希夫叶(Smith-Hieftje)背景校正法第一次公诸于世,在1983年于阿姆斯特丹举行的第二十三届国际光谱讨论会和第十届原子光谱会议上,H.L.Kahn又再次对其进行描述。本文将介绍这一看起     

原子吸收光谱分析中背景校正性能的测试方法研究

本文根据前人和作者的工作实践提出了一套对原子吸收光潜分析中背景校正性能的测试方法。从光子噪声的观点分析背景吸收产生的影响,指出在一定背景值条件下测量原子化过程的吸收信号,与实际背景校正过程比较接近,且更苛刻,不受波长或元素的限制,能在全波段进行,认为从四个方面进行测试能比较全面和实际地反映各种背景校正方法的性能。     

塞曼原子吸收(ZAA)仪器

样品基体引起的非特征吸收往往是限制原子吸收光谱法分析准确度的主要因素。1965年,Koirthyohann和Picket提出了利用连续辐射光源(如氘放电灯)的背景校正系统。如今在原子吸收光谱仪器上,尤其是无火焰原子化的情况下,这种背景校正系统已成为标准配件。但是,应用背景校正系统却需要有丰富的经验,因为在分子带引起有精细结构的背景时,它们可能导致虚假的校正。另外,它们不能在整个波长范围内采用,而且氘灯辐射强度低,要求初级线光谱辐射光源也在对应的辐射强度下工作,以便使两者的辐射光谱输出相匹配,因此可能限制低含量元素的检测能力。     

原子吸收光谱分析中的背景校正法

本文系统地分析和总结了原子吸收光谱分析中的背景校正技术。从分析背景信号的来源和特点开始,对背景校正方法和如何检验背景校正的效果诸问题,在理论上、技术上作了简明的论述。     

塞曼原子吸收校正曲线的实验和探讨

塞曼效应用于原子吸收背景校正后,许多作者研究了其校正曲线的“翻转”(roll over)现象。也有作者对大量元素的曲线“翻转”作了实验研究,并对此作了理论解释,在解释中还考虑到分析线精细结构和超精细结构的影响。然而这些实验和讨论都忽略了杂散光来源和自吸等因素对校正曲线形状的复杂影响。本文仅就横向恒定磁场偏振分离调制方式商品ZAA仪器(CPMPM)中校正曲线的形状作进一步的研究和解析。     

碱消解-火焰原子吸收光谱法测定土壤中六价铬

建立了碱消解-火焰原子吸收光谱法测定土壤中六价铬的方法.讨论了pH值对六价铬测定的影响.干扰实验的结果表明同等含量的三价铬对六价铬测定无干扰.实验对比了无背景校正、氘灯背景校正、塞曼背景校正三种工作方式,分别对低、中、高三个水平土壤六价铬标准物质进行了测定,结果表明,低含量的土壤样品用塞曼背景校正方式测定的结果更准确,...     

原子吸收光谱法测定水中重金属镍的干扰研究进展

讨论了影响原子吸收光谱法测定水中镍元素的干扰因素及消除或抑制的方法,并展望了光谱干扰中背景校正技术和原子吸收仪器的发展前景.     

等温平台石墨炉原子吸收法测定食用明矾中的铅

本文介绍了通过应用等温平台石墨炉,以(NH_4)_2HPO_4为基体改进剂,塞曼背景校正和积分吸收信号测定食用明矾中的Pb。本法有效地抑制了样品中基体干扰。重现性好,检测限为10pg,平均回收率为101.1%。     

原子吸收分析中的氘灯背景校正技术原理

根据入射光强度、背景吸收和元素吸收的关系,入射光强度与透过光强度的关系,背景吸收与波长的关系,氘灯和空心阴极灯在仪器的有效光谱带宽度内的辐射强度分布以及吸光度的加和性原理,推导出氘灯背景校正技术原理的理论依据。     

LPDA技术在石墨炉原子吸收光谱分析中的应用研究——Ⅱ、一种新的背景校正方法

本文报道的背景校正方法,利用了测量锐线光源辐射谱线轮廓上不同波长位置相应的吸收系数进行背景校正,是作者在利用LPDA作为光电检测系统进行AA研究工作中提出来的。文章论述了方法的基本原理和作者所做的实验研究,7个元素的实验数据证明了方法的正确性。利用这种方法还可以观察原子吸收线与原子发射线之间中心波长的位移现象。     

采用三磁场塞曼效应背景校正技术的石墨炉原子吸收光谱仪──AAS ZEEnit 60

采用三磁场塞曼效应背景校正技术的石墨炉原子吸收光谱仪──AAS ZEEnit 60     

塞曼原子吸收光谱法应用技术

一、塞曼原子吸收光谱法的特点塞曼原子吸收光谱法的主要特点是背景校正能力强。本文从分析单色器光谱通带内谱线情况入手,将背景情况分类,进而讨论塞曼法对名类背景的校正能力。     

MIP—AAS测镍时2种放电—吸收管性能的比较

本文以镍为例,分别对MIP-AAS中所使用的T形和L形2种放电-吸收管的性能进行了详细的比较研究。讨论了各种实验参数对不同放电-吸收管的影响差异,从中总结出了一些初步的经验规律.     

巯基棉富集—脉冲火焰原子吸收法测定水中的铅

运用巯基棉能成功地富集和解吸水中的金属元素,但富集后的水样基体干扰也会相应增加。在原子吸收光谱仪无背景校正的情况下,采用少量样品的脉冲进样,由于进样量较少而相应地降低了基体干扰。本文综合了这两种技术的优点,成功测定了水中的铅。方法的检出限为0.86/μg·L~(-1)。     

ZAA仪器的信噪比特性研究

塞曼效应背景校正装置在AAS中得到了广泛的应用,许多研究工作者不断地研究和制成了各种调制方式的ZAA仪器。文献[1]和[2]分别对各种实验装置和商品仪器作了评价。横向恒定磁场置于原子化器的ZAA商品仪器最多。这种方式必须采用P_H和P_L调制,即偏振分离调制。这种调制还可以多种方式实现,并且显示了不同的信噪比特性。