远紫外及真空紫外反射率测量的研究

本文报道了一种采用成象式折叠腔测量真空紫外区域绝对反射率的方法,测量准确度为±5×10~(-3),精密度为±5×10~(-4).     

超高反射率的损耗比较测量法研究

描述了一种用两个激活谐振腔的损耗比较测量超高反射率的有效方法。其基本原理源于菲涅耳公式和布儒斯特定律。测量精度为±５．０×１０－５，并讨论了测量系统的若干问题。     

透反射率自动化测量系统设计

应用虚拟仪器技术,基于"DF透反仪"的测量思想和光路设计,设计了大角度范围自动化测量透反射率系统,工作波长为6328nm,透反射率测量角度范围可以达到5°~80°。重点讨论了透反射率自动化测量系统的测量原理和信号获取方法,介绍了系统的机械设计、自动化测量以及数据的采集和处理。     

一种测量光学元件高反射（透过）率的有效方法

本文提出一种测量激光谐振腔反射镜高反射率和测量镀有减反膜的高透过率光学元件的有效方法.特点是同时测量几块高反射率凹面镜或高透过率光学元件,其误差是普通单块测量方法的1/n.详细分析了一组激光腔镜高反射率和一组镀减反膜的平行薄片高透过率的测量结果.     

真空紫外反射率计用于BRDF的测量

：介绍了一种真空紫外反射率计,采用间接测量方法,在该反射率计测试了聚四氟乙烯漫反射板的双向反射率分布函数（ＢＲＤＦ）,正入射时该聚四氟乙烯漫反射板１５°到７５°的双向反射率分布函数偏差为１３％。     

大口径元件反射率的镜面扫描精密测量系统

 为了测量高功率激光传输系统中大口径高反射率元件,研制了一种镜面扫描的精密测量系统。介绍了该系统的结构及其工作原理,分析了影响系统测量精度的因素,理论上估算的测量精度为2×10^-5。在直腔下对该系统的性能进行了实验测试,分析表明,系统的测量不确定度优于2.052 28×10^-5,最大测量误差为3.554 04×10^-5,与理论预计结果吻合较好。对大口径元件进行的多次实验扫描测试,结果显示,镀膜加工误差导致反射率分布是关于镜面中心呈旋转对称。该系统的使用大大简化了元件表面反射率分布的测量。     

nm量级薄膜厚度测量

 为了获得nm量级薄膜样品的精确厚度,采用软X射线反射率拟合方法、Bragg衍射方程方法和反射率Fourier变换方法分析了常规Cu靶X射线衍射数据及软X射线反射率数据。对厚度测量结果进行比较,3种方法得到的结果一致性很好。其中,软X射线反射率拟合和Bragg衍射方程方法精度很高,优于1 nm,Fourier变换方法精度稍低。对于单层W薄膜样品,3种方法获得厚度分别为(15.21±0.60) nm,(14.0±1.0) nm和(13.8±1.5) nm;对于双层W/C薄膜样品,W层厚度分别为(12.64±0.60) nm,(13.0±1.0) nm和(13.9±1.5) nm。这3种方法测量结果精度主要取决于反射率数据测量精度,而Fourier变换方法精度随着能量升高而提高,随着掠入射角范围增大而提高。     

正入射全自动扫描反射率绝对值光谱仪的研制

采用Ｍ型棱镜分光束法研制了一台全自动扫描绝对反射率光谱仪，测量光谱范围为３５０ｎｍ～８２０ｎｍ（１．５～３．５ｅＶ），样品入射角为５°，测量和数据采集处理全过程由计算机控制．测量绝对值精度优于±１％，测量重复性优于０．１％．采用本谱仪对热蒸发金膜和（１１１）锗本征体单晶进行测量，获得了与椭偏测量以及文献报道相一致的结果．     

镀减反射膜后半导体激光器端面反射率谱的测量

比较相同偏置条件下镀减反射膜前后的半导体激光器端面自发辐射谱，测得了端面反射率随波长变化的关系曲线。该方法突破了Ｋａｍｉｎｏｗ法单一波长测量的限制，同时也避免了Ｋａｍｉｎｏｗ法在两端面镀膜后所遇到的调制度过小的问题。实验中确定出了低于８×１０（－５）的第二镀膜端面反射率。     

磁光盘反射率测试方法研究

磁光盘反射率是一个重要的参数，在磁光盘的研制和生产过程中必须进行测试。本文首先介绍了反射率测试的典型方法，然后结合磁光盘磁光特性伺服测试系统提出了一种测试磁光盘反射率的实用有效的方法，使磁光盘磁光特性测试仪既能测试克尔角又能测试反射率。最后对该方法测试反射率的误差进行了评估，并给出了测试实例。     

星际~（26）Al核合成研究面临的困难──核天体物理学的重大疑难问题

介绍了有关星际￣（２６）Ａｌ（衰变伴随１．８０９ＭｅＶγ射线）的空间观测结果;讨论了与￣（２６）Ａｌ及其有关放射性核素（￣（２２）Ｎａ）的核反应链及其最近核物理实验进展;并由此分析了目前关于星际￣（２６）Ａｌ起源的各种天体模型面临的困难。最后,作者提出一种产生星际￣（２６）Ａｌ的新的可能的途径与Ｉａ型超新星模型的设想。     

焦距法测试自聚焦透镜折射率分布常数

本文介绍了一种测量自聚焦透镜折射率分布常数的方法─—焦距法，并进行了原理公式推导，和精度分析，其测量不确定度为±１×１０￣（－３）；其次，简要地介绍了实验方法。实验结果证明了焦距法是测量自聚焦透镜折射率分布常数的简单实用的方法，它具有装置简单、数据处理也不复杂的特点，是一种非破坏性的测试方法。     

直线感应加速器

本文描述了直线感应加速器（ＬＩＡ）的原理,组成和特点;综述了国内外的研究动态;概略介绍了ＣＡＥＰ流体物理研究所（ＩＦＰ）研制的１０ＭｅＶＬＩＡ．ＬＩＡ的技术特点和主要参数:可产生强脉冲Ｘ射线;打靶束流２．１ｋＡ,焦斑约４．５ｍｍ、距靶１ｍ处射线照射量约为２．３×１０￣（－２）ｃ／ｋｇ;该机前段（３．３ＭｅＶ）可与整机脱开、平移后与摇摆器（ｗｉｇｇｌｅｒ）对接,用于自由电子激光研究．对１０ＭｅＶＬＩＡ的关键技术研究和新的研究计划也作了描述． The basic principle,construction and characteristics of the LIA, together witha summary of the recent developments and achivements in the scientific field both at homeand abroad are presented in this paper.A10MeV LIA has been developed at IFP, CAEP forflash X-ray radiography application.A 2.4kA,70ns electron beam can be transportedthrough the accelerator, while 2.1kA is focused onto the target (Ta) With about 4mm spotto produce intensive pulsed X-ray.The dosage is 3×10￣(-2)C/kg at 1 meter from...     

核泵浦气体激光研究

本文介绍了利用核能激励Ｎｅ、Ｈｅ、Ｘｅ、Ａｒ等气体产生激射这一领域内所取得的成果．利用￣（２３８）Ｐｕ源激励Ｎｅ、Ｈｅ－Ａｒ、Ｎｅ－Ｈｅ、Ｎｅ－Ｈ＿２体系,测到了Ｈｅ、Ｎｅ、Ａｒ、Ｈ＿２对Ｎｅ（２ｐ＿１）态的倒空速率常数．利用３００￣＃稳态堆激励Ｈｅ－Ｈｅ体系,测得其增益为２×１０￣（－２）／ｃｍ．在ＣＦＢＲ－Ⅱ脉冲堆上进行了Ｈｅ－Ａｒ－Ｘｅ体系的激射实验,测到了激光信号,其波长为１．７３μｍ,激光功率约为１０ｍＷ． The results of nuclear pumping Ne, He, Ar, Xe are introduced in this paper.￣(238)Pu was used to exite Ne, Ne-Ar, Ne-He, Ne-H_2 systems. The elimination rate constantsof Ne (2p_1 ) by Ne,He,H_2,Ar were measured. 300￣# stable reactor was used to encourage HeNe system, the gain measured was 2 ×10￣(-2)/cm. Lasing experiment of He-Ar-Xe system wasdone on CFBR-Ⅱ pulse reactor, lasing sign was measured, λ=1.73μp, lasing power wasabout 10 mW.     

变焦凸轮曲线的优化设计

本文以２．５￣（×）小变焦照相物镜为例。推导了变焦凸轮曲线斜率之间的关系式，以及如何选取变焦凸曲线压力角的值域。并介绍了具体的设计步骤、方法。     

光学玻璃光学均匀性高精度测量技术

高质量的透射光学系统对光学材料的光学均匀性要求非常高 ,材料局部折射率 10 -6 量级的变化就可能破坏整个系统的性能。详细介绍了三种用于测量光学玻璃光学均匀性的干涉法 ,研制了一台高精度光学玻璃材料光学均匀性测量仪。实验结果表明 :40mm左右厚的光学玻璃材料的光学均匀性检测精度可达 1× 10 -6 。     

高光洁度玻璃基片的表面散射和体散射测量

 提出了一种利用总积分散射（TIS）测量K9玻璃基片表面散射和体散射的实验方法。首先采用磁控溅射技术在基片表面沉积厚度为几十nm的金属Ag薄膜,然后将基片的表面和体区分开考虑,通过TIS测得了基片上下表面的均方根粗糙度, 进而求得基片的总散射和表面散射,最后计算得到了体散射。分别利用TIS和原子力显微镜（AFM）测量了3个样品上表面所镀Ag膜的均方根粗糙度,两种方法所得的均方根粗糙度的数值相差不明显,差值分别为0.08,0.11和0.09 nm, 表明TIS和AFM的测量结果相一致。利用该方法测得3块K9玻璃基片的总散射分别为6.06×10^-4,5.84×10^-4和6.48×10^-4,表面散射介于1.25×10^-4~1.56×10^-4之间,由此计算得到的体散射分别为3.10×10^-4,3.30×10^-4和3.61×10^-4。     

Precision spectroscopy technique for dipole-allowed transitions in laser-cooled ions

In this paper , we present a technique for the precise measurement of electric dipole-allowed transitions in trapped ions. By applying a probe and a cooling laser in quick succession, the full transition can be probed without causing distortion from heating the ion. In addition, two probes can be utilized to measure a dispersion-like signal, which is well suited to stabilizing the laser to the transition. We have fully characterized the parameters for the measurement and find that it is possible to measure the line center to better than 100 kHz with an interrogation time of 30 s. The long-term stability of the spectroscopy signal is determined by employing two independent ion trap systems. The first ion trap is used to stabilize the spectroscopy laser. The second ion trap is then employed to measure the stability by continuously probing the transition at two frequencies. From the Allan variance, we obtained a frequency instability of \(1\cdot 10^{-10}\) for an interrogation time of 1,000 s.     

进一步寻找磁单极子的实验进展

本文介绍了进一步寻找磁单极子的实验进展。目前没有新的磁单极子候选者被观测到。慢磁单极子的实验流强上限:速度在(10~(-4)-10~(-2))c范围内的观测,低于3.0×10~(-12)cm~(-2)sr~(-1)s~(-1);在(10~(-3)-10~(-2))c范围的观测,低于4.1×10~(-13)cm~(-2)sr~(-1)s~(-1)。     

农药荧光全光谱检测与分析系统研究

基于有机物农药的荧光机理,利用光纤传感技术、光栅分光技术和多通道图像传感器(Multi-Channel ImageSensor)技术提出了一种用于有机农药的荧光全光谱检测与分析系统。系统以脉冲氙灯为激发光源,采用光纤进行传输和探测荧光,以自制的小型平场光谱仪对荧光进行色散分光,并设计了相应的高速数据采集电路,实验结果由微机进行分析。利用该系统实现了对西维因农药的荧光光谱的检测和荧光强度与农药浓度的分析。结果表明,以319nm波长紫外光为激发光,一次曝光可获得西维因农药的荧光光谱,光谱带宽为160nm;系统的最小检测浓度为4.0×10-3mg/L,农药浓度在4.0×10-3~100.0×10-3mg/L之间时系统具有较好线性关系,线性相关系数r为0.9986。用该仪器对河水和地下水中痕量西维因进行了测量,回收率接近100%。