采用四象限探测器的光斑中心定位算法

为提高激光发射系统的监测精度,提出了一种基于四象限探测器的光斑中心定位算法,首先采用均匀分布的椭圆模型对光斑进行分析,根据四象限探测器工作原理,通过计算椭圆形光斑在四象限探测器上各对应区域所占面积进而推导光斑中心坐标表达式,然后采用解析几何的方法求取椭圆光斑的长轴与短轴,最后搭建四象限监测系统对算法进行实验验证;结果表明,所提算法能有效提高四象限探测器的光束监测精度,较传统方法精度提高21.3%。     

四象限探测器光斑尺寸测量方法的研究

由于四象限探测器具有低噪声、高灵敏度和高带宽的优势,因此被广泛应用于激光光斑跟踪、准直和位置检测等领域。靶面上的光斑尺寸是影响系统性能的重要参数之一。对探测器的光斑位置探测灵敏度指标Sx进行了分析,比较了象限间沟道大小对Sx的影响关系。提出了一种测量光斑半径的方法,该方法利用电控偏转镜扫描探测器靶面,获得位置探测器灵敏度,基于位置探测灵敏度与光斑半径的对应关系,间接测得光斑尺寸。     

一种四象限光电定向装置的实现

本文采用四象限硅光电池作为光电探测接收器．根据和差式原理，设计并在实验上实验了一种四象限可直观、快速观察的光电定向装置。     

红外四象限探测器暗电流自动测量技术研究

简要介绍了红外四象限探测器的暗电流参数特性,针对多元探测器的特点,设计了温度控制电路以及多路切换开关电路,实现了在不同温度和电压下对暗电流的全自动化测量.通过实验数据得出探测器在不同偏压下的温度特性曲线图,证明本测量系统是可行的,并且可以用于其他多元探测器的暗电流检测.     

浅析四象限光电探测系统中信号处理的技巧

通过对四象限光电探测系统中各种信号计算方法及束斑强度分布影响的深入了解可以在系统硬件确定的条件下，利用计算技巧来获得比较理想的系统特性。本文分析、对比了各种计算、处理方法下，束斑在四象限光敏区位移产生的误差曲线。对光强分布均匀的束斑采用了分区平面积分的方法，对光强呈高斯型分布的束斑借助了计算机逐点二维数值积分、曲线拟合等计算手段求解。所得结果均以曲线图形方式表达。     

使用四象限探测器测量微小位移

四象限探测器的工作原理是光生伏特效应,通过4个象限电势的变化可算出光源的位移.使用四象限探测器测量了光源横向和纵向的位移,分析了实验误差的来源并给出了修正方法.实验结果表明,四象限探测器测量位移具有较高的测量精度和较短的时间响应,纵向测量的灵敏度比横向测量的灵敏度低.     

四象限红外光电探测器噪声检测技术研究

分析了红外探测器的噪声组成与形成原因,针对多元探测器的特点,设计了低噪声多路切换开关电路,实现了噪声等效功率NEP的自动化测量,消除了电路中其他器件引入的噪声干扰。实验结果表明,本测量系统不仅具有较低的测量误差(≤2%),并且可以用于其他多元探测器的噪声检测。     

四象限探测器的激光破坏及其对光学制导的影响

 利用YAG脉冲激光器对硅光电池四象限探测器进行了激光破坏实验，证实了破坏后的探测器用于方位角探测时相当于引入了一个固定的角偏差，并讨论了将其用于光学制导时对导弹脱靶量的影响。     

四象限探测器的激光破坏及其对光学制导的影响

利用YAG脉冲激光器对硅光电池四象限探测器进行了激光破坏实验,证实了破坏后的探测器用于方位角探测时相当于引入了一个固定的角偏差,并讨论了将其用于光学制导时对导弹脱靶量的影响。     

四象限探测器用作激光准直的特性分析

以四象限光电探测器用作激光准直为例,对其探测原理、光电转换特性、影响探测精度的因素进行了理论分析。用数值模拟、实验验证了分析结果,并对影响探测精度的因素进行了深入的探讨,从而为四象限探测器用作激光准直提供了有力的理论依据。     

四象限探测器镜头光学质量的检测系统设计

在激光制导中,四象限探测器镜头的光学质量决定了目标定位的精度。鉴于此,设计一种非接触式检测四象限探测器镜头光学质量的系统,该系统能够对四象限探测器镜头的光学质量进行在线批量检测。首先将激光光源整形扩束准直为平顶光束,然后通过四象限探测器镜头在磨砂玻璃上显像,最后通过非接触式长工作距离的显微物镜成像在探测器上以探测光斑的形状、位置及均匀度。设计结果表明,此系统能够有效单独对四象限探测器镜头的光学质量进行批量检测,从而提高四象限探测器镜头的品控,有助于提升四象限激光制导探测系统的整体质量。     

四象限光电检测系统的定位算法研究及改进

在相同硬件条件下,四象限光电检测系统的线性区间和响应灵敏度等会因算法不同而产生差异。首先分析光斑定位的常用算法,通过数值积分和曲线拟合得出具有高斯分布的激光光斑位移量在不同算法下的修正曲线,设计制作了一套精度较高的数字式四象限光电定位系统,并使用该系统验证了理论推导结果。     

一种基于四象限探测器的深孔直线度测量方法的研究

介绍了以半导体激光光束为测量基准,采用四象限探测器进行深孔直线度检测的原理和方法。重点针对实际激光器近似于椭圆形状的入射光斑,推导了输出电压与椭圆光斑中心的变化规律,分析了光斑椭圆度对测量误差的影响,论证了方案的可行性与可靠性。     

基于四象限探测器检测干涉条纹正交信号

 四象限探测器在探测区域具有象限化特征,当干涉条纹方向与探测器坐标轴方向呈不同的夹角时,各象限探测单元的不同位置可探测到不同空间位置的干涉条纹光强分布,利用光强在探测单元内的矢量叠加原理,就可探测到与干涉条纹同周期但相位不同的信号。当旋转探测器到某一特定角度时,发现总有其中两个象限探测单元的信号相位正交,当干涉条纹周期改变时,仅需重新仔细旋转探测器,便可检测到该周期条纹的正交信号。通过理论分析和数值模拟,验证了该方法的可行性和实用性。与传统检测方法相比具有操作简便,适应性强,便于仪器化等优点。     

位置敏感探测器综合实验仪的研制

在研究了位置敏感探测器光斑中心定位理论的基础上,研发了用于学生实验的位置敏感探测器综合实验仪.该实验装置采用硬件和软件2种光斑中心定位方式,能够实现简单、直观、快速、准确的光斑定位与测量.     

双四象限探测器弥散斑测量方法研究

讨论一种利用双四象限探测器本身光机结构、输出电信号特性,对其接收的微小光斑进行精确测量,并可实时调整的方法.所组建的测量系统利用测量测定可旋转反射镜在特定位置的偏转角来计算弥散斑的半径,经实验,弥散斑在0.5mm±0.1mm测量范围内,分辨率可达0.0096mm (角度分辨率为1’).     

光子计数式光电倍增管四象限型和弱光像增强CCD跟踪系统的性能比较

基于光子计数式光电倍增管四象限跟踪系统和弱光像增强CCD跟踪系统的基本原理，分析了这两种跟踪系统的测量噪声误差、系统控制特性和系统闭环噪声等，并重点根据实验结果分析和比较了这两种跟踪系统的性能。结果表明，光子计数式光电倍增管四象限跟踪系统的性能优于弱光像增强CCD跟踪系统。     

光电探测器原理及应用

介绍了光电与系统的组成,阐述了光电二极管和雪崩光电二极管的工作原理及噪声问题,对雪崩光电二极管ＡＰＤ和光电倍增管ＰＭＴ进行了比较,并以四象限探测器为例说明了光电探测器的应用问题。