紫外及可见光探测器光谱响应测试系统的研制

设计与研制了紫外及可见光探测器光谱响应测试系统。系统包括:复合光源室;三光 栅单色仪和复合探测器室,由计算机配套专用软件对光源、单色仪和信号接收进行自动控制和处理。测试原理采用了参考探测器替代法测定待测探测器的光谱响应度,重点解决测量精度和稳定性的技术关键,通过反复测试证明,系统性能稳定并具有结构紧凑,全自动和操作方便等特点。     

硅光探测器紫外响应的改善

利用透过二氧化硅层进行杂质扩散的方法，获得低表面浓度浅结深并具有漂移自建场的掺杂层，制作最佳厚度的光透射膜，使硅光敏二极管的紫外响应获得改善，得到在254nm波长下响应度达0．18A／W的结果．     

多学多道分析仪系统光响应测量

实验测量和研究了光学多道分析仪系统的光谱响应，光强响应线性范围和道的光强响应的均匀性问题，并讨论了实验结果。     

探测器波段响应率及其测试定标法

描述了碲镉汞红外探测器相对光谱分布Ｇ（λ）和波段响应率Δλ的测试计算方法，以及其在１０５Ｋ温度下工作时，其中的一些定标问题，给出了１０５Ｋ温度下工作，空间应用的碲镉汞光导红外探测器有关测试方法、设备及测试结果，并给出了相应的测试误差。     

用光声光谱法测量紫外光探测器的光谱响应

为了解决紫外光探测器的光谱响应难以准确测量的问题,采用光声光谱的方法,以自制的高灵敏度光声探测器为标准探测器,建立了一套紫外光探测器的光谱响应测量系统,分别进行了理论分析和实验论证,取得了两种紫外光探测器的光谱响应的数据。实验结果表明,该测量系统结构简单、工作可靠、重复性好,在250nm~450nm范围内,能较准确地测量紫外光探测器的光谱响应曲线。这一结果对解决紫外光探测器的光谱响应难以准确测量的问题是有帮助的;该系统也适用于可见光探测器的光谱响应的测量和固体样品的光声光谱分析。     

1310nm有线电视光发送机的设计与测试

本文通过介绍A1611P激光器的构成，分析了1310nm光发送机的工作原理，阐述了其中主要电路的设计，主要性能参数的测试，同时指出在设计、生产和使用光发送机时的注意事项。     

数字化红外焦平面探测器光谱响应测试系统研究

针对目前没有设备可对数字化红外探测器的光谱响应进行测试,利用可测模拟电平输出型红外探测器光谱的傅里叶光谱仪,研制了一块电路板装置,实现了将数字化红外探测器转换为与模拟红外探测器一样的输出形式,解决了数字化红外探测器光谱无法测试的问题,且具有结构简单、一板多用等特点,可在不同型号的傅里叶光谱仪上使用。该方式成本低且易实现,不仅操作简单,而且测试性能稳定,适应于各种形式的数字化探测器,使得数字化红外光谱响应测试系统具有更高的兼容性和灵活性。首先对红外光谱响应测试系统进行了介绍,然后对所研制的模数电路板装置进行了原理分析,最后对此电路板进行了硬件实现,并编写了内部测试程序,进而完成了功能验证。理论分析和硬件功能验证表明,带有新研制模数电路板装置后的红外光谱测试系统不仅可以实现不同位宽输出的数字化面阵探测器或线列探测器光谱测试,而且光谱测试结果准确可靠。     

数字化红外焦平面探测器光谱响应测试系统研究

由于目前没有可测试数字化红外探测器光谱响应的设备,研制了一种可将数字化红外探测器的输出转换为与模拟探测器一样形式的电路板装置,并利用原有的傅里叶光谱仪解决了无法测试数字化红外探测器光谱的问题。该方法成本低、易实现,不仅操作简单,而且测试性能稳定,因此适用于各种形式的数字化探测器。首先介绍了红外光谱响应测试系统,然后对研制的模数电路板装置的原理进行了分析,并对此电路板进行了硬件实现,接着编写了内部测试程序,最后完成了功能验证。结果表明,配有新研制模数电路板装置的红外光谱测试系统可以测试不同位宽输出的数字化面阵探测器或线列探测器的光谱数据,而且测试结果准确可靠。     

LCD 参数测试系统中的偏光响应

由于一般的液晶显示器件都使用了偏振片，对其参数的测试类似于偏光元件的测试，系统的偏光响应会影响某些参数的准确评价，通过分析液晶器件参数测试系统LCT5016，我们发现光谱仪的偏振依赖性敏感度和部分偏振的光源严重影响了某些测试结果，探讨了一系列的消除偏光响应的方法，包括测试过程和光学系统的设计，我们设计的补偿器能够在整个可见光谱范围内有效地消除偏光成分，这些方法可用于消除一般光学测试系统中的偏光响应。     

结构光法钻头形貌测试系统

本文提出了基于结构光的钻头三维形貌快速检测系统。文章分析了系统的组成、工作原理及系统集成方法 ,重点研究了形貌数据的处理方法。包括 :滤波及图像的自动分割方法研究 ;不同坐标系间的数据转换及回转体多个测量数据块的数据融合 (data merging)技术研究 ;钻头参数测量方法研究。文中给出了钻尖磨损图、钻头横截面模型图以及用本系统及三坐标测量机 (CMM)测量钻头形貌时的比对测量数据。研究表明 ,系统的测量精度约为 30μm和 1°;测量速度小于 10 min     

1550nm外调制光发射机及EDFA光放人器的测试

1550nm外调制光发射机和EDFA光放大器在有线电视传输系统系统中应用广泛。本文着重介绍它们的作用和测试方法。     

高响应度InGaAs PIN光电探测器的研制

分析了影响探测器响应度的各因素，在此基础上设计了InGaAs/InP PIN探测器的外延材料结构并优化了增透膜厚度和p-InP区欧姆接触电极图形的设计，以达到提高响应度的目的。采用MOCVD技术和闭管扩散等工艺制备了器件并测量了其响应度。结果显示，器件的光谱响应范围为1000-1600nm，在1500nm激光的辐照下，5V反向偏压时器件的响应度可达0.95A/W以上。     

高响应度InGaAs PIN光电探测器的研制

分析了影响探测器响应度的各因素,在此基础上设计了InGaAs/InP PIN探测器的外延材料结构并优化了增透膜厚度和p-InP区欧姆接触电极图形的设计,以达到提高响应度的目的。采用MOCVD技术和闭管扩散等工艺制备了器件并测量了其响应度。结果显示,器件的光谱响应范围为1000~1600nm,在1500nm激光的辐照下,5V反向偏压时器件的响应度可达0.95A/W以上。     

高响应度InGaAs PIN光电探测器的研制

分析了影响探测器响应度的各因素,在此基础上设计了InGaAs/InP PIN探测器的外延材料结构并优化了增透膜厚度和p-InP区欧姆接触电极图形的设计,以达到提高响应度的目的.采用MOCVD技术和闭管扩散等工艺制备了器件并测量了其响应度.结果显示,器件的光谱响应范围为1000～1600 nm,在1500 nm激光的辐照下,5 V反向偏压时器件的响应度可达0.95 A/W以上.     

谐振腔增强型光探测器的高速响应性能研究

高速长波长光探测器是高速光纤通信系统和网络的关键器件，它要求光探测器具有宽的频率响应带宽和高量子效率。常用的PIN光探测器由于量子效率和高速性能均受到吸收层厚度的牵制，使得二者相互制约，成为一对矛盾。谐振腔增强型(RCE)光探测器为这一矛盾的解决提供了有效的方案。基于谐振腔增强型光探测器的实际设计和制作模型，分析了器件吸收层中的光场分布，并将其运用于载流子的连续方程，从理论上详细地分析了器件的高速响应特性，给出了计算结果。针对研制的高速长波长谐振腔增强型光探测器，进行了理论分析和实际器件测试的结果比较，得到了比较一致的结果。     

1 310 nm和1 550 nm光发系统在乡镇光缆联网中的应用比较

为了实现“村村通”广播电视 ,各地都在采用光缆进行联网 ,商丘市有线电视台自 1999年开始在市属两区乡镇实施光缆联网 ,是采用 1310ｎｍ系统还是采用1550ｎｍ系统呢 ?这也正是各地进行乡镇光缆联网时面对的共同问题 ,对此我们从以下几个方面进行比较。1　工程造价造价一直是困扰有线电视发展的主要障碍 ,特别在经济欠发达地区更是如此。在工程规划设计时工程造价应是首先考虑的问题 ,再好的技术方案 ,如造价过高也无法实施。表 1为需要覆盖的各乡镇的距离及在 1310ｎｍ窗口和 1550ｎｍ窗口下的光信号损耗及需要的功率。表 1序号 距离(ｋｍ)…     

浅议SDH光缆传输系统工程测试与验收

针对目前正在建设和“九五”期间将要大量采用ＳＤＨ光缆传输系统的需要，论述ＳＤＨ系统工程测试与验收中的一些技术问题，介绍了测试项目和电路、仪表配置和测试方法。最后提出做好工程测试与验收的几点建议。     

1550nm光传输系统中的外调制光发射机

本在对1550nm光传输系统性能在分析的基础上，详细阐述了1550nm外调制光发射机设计的原理、方法和注意事项。     

InP/InGaAs探测器光响应度与波长关系的研究

对于正面光入射的InP/InGaAs探测器,入射光会在空气、增透膜、InP盖层和InGaAs层之间发生多次反射.为了研究其对光响应度的影响,我们测量发现:探测器的光响应度会随探测波长出现非平坦的峰谷曲线,并且通过对该曲线上峰谷波长的简单数学处理,可以提取出已封装器件的结构参数和材料参数,而且这些参数与实验曲线符合得很好.利用该方法可以简单方便地提取出已封装器件的实际结构参数和材料参数.