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X射线荧光光谱法测定钒钛磁铁矿成分 总被引:10,自引:2,他引:10
试样经熔融制成玻璃样片,用X射线荧光光谱法测定钒钛磁铁矿主要成分,实验确定最佳熔融条件和测定条件,测量结果与标样值、未知试样化学分析值对照表明,本法快速、简便、准确、可靠。 相似文献
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X射线荧光光谱法测定桔梗中的微量元素 总被引:4,自引:2,他引:4
采用X射线荧光光谱法(XRF)对3种不同产地的桔梗样品的元素种类和含量进行了测定。结果表明,桔梗中含有K、Ca、Fe、Mg、Zn、Mn等多种微量元素,不同产地桔梗中微量元素种类大致相同,而元素含量却各有差异。为桔梗药效功能的进一步研究提供一定的科学依据。 相似文献
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采用折算方式进行X射线荧光光谱测定冶金熔剂,解决了该方法没有标准样品及烧失量大的难题,得到满意的分析结果。 相似文献
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陈永君 《光谱学与光谱分析》1993,13(1):149-152
本法用50mg稀土氧化物样品,经四硼酸锂熔融后,粉碎压成薄片,以透空照射法,直接测定15项稀土分量和铀、钍。本法消除基体效应好,制样精度高,测定含量范围宽。 相似文献
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XRF基本参数法测量和计算电子材料的组成 总被引:3,自引:0,他引:3
本文主要探讨用XRF基本参数法测定电子陶瓷材料的成分含量,计算所需的基本参数都通过数学计算处理,用C语言设计编面测试软件,该法也适用于定量分析合金材料成分,稳定性和重现性好,高含量时的测试误差小于3%,低含量的误差也较小。 相似文献
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用普通X射线荧光光谱仪进行铁价态的定量分析 总被引:5,自引:1,他引:4
本文用普通X射线荧光光谱仪,结合自编的PEAKFIT谱处理系列软件,对按不同比例配制FeO和Fe2O3混合物的Kβ谱形及谱峰参数进行了研究,用数学方法把实测的谱峰(各价态的重叠峰)分解为各化合态的子谱峰,求出了子峰的面积与总面积的比值,科学地找出了谱峰参数与铁价态的关系。 相似文献
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X射线荧光光谱法测定硅酸盐中硫等20个主、次、痕量元素 总被引:39,自引:1,他引:39
本文使用新研制的偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂,在1000℃熔融制样,以X射线荧光光谱法测定硅酸盐等样品中的S,Na,Mg,Al,Si,P,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Cr,V,Sr,Zr,Rb,Cu,Ni和Nb等20种元素,采用理论α系数和康普顿散射线作内标校正元素间的吸收-增强效应。其分析结果的精密度和准确度可与化学法相比 相似文献
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硒的原子吸收分析进展 总被引:15,自引:1,他引:15
米瑞华 《光谱学与光谱分析》1993,13(4):103-110
本文对1985年以来硒的原子吸收分析,从石墨炉法、氢化物法、氢化物-石墨炉法和火焰法四个方面的分析进展进行综合评述。 相似文献
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实验测量了Ce:KNSBN双光束耦合信号光有效增益G随入射光强比m的变化关系.用中间段光折变理论对此变化关系进行了参量理论分析.结果表明,理论和实验结果定性符合. 相似文献
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本文以单道中阶梯米栅ICP光谱仪,用浓度比可变内标法,辅以灼烧减量,测定镁砂中氧化镁.二氧化硅,三氧化二铝,三氧化二铁,氧化钙以及二氧化钛等成分。其精密度和准确度都可满足出口镁砂规范要求。 相似文献
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吸光度比值K系数法测定安痛定注射液的含量 总被引:1,自引:1,他引:0
吸光度比值K系数法是一种可以同时测定多元混合组分的分光光度法,本文成功地应用该法测定了安痛定注射液中氨基比林,安替比林和巴比妥三种组分的含量,其平均回收率和相对标准偏差分别为98.96%,0.41%,100.6%,0.34%,98.33%,0.65%,本法简便快速,结果准确可靠。 相似文献
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此文用代数张量法导出甲烷分子两个基频谱带的转动跃迁矩阵元,对这两个谱带的谱线强度进行了计算和比较,给出满意的结果。 相似文献
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采用随机表面的高斯相关模型和统计光学原理,推导出弱散射体在4f系统中的像面上光强的表达式.在此基础上提出了均方偏差粗糙度和横向相关长度的标定方法,该方法用理论结果对实验测量的像面散斑平均光强随滤波孔半径的关系曲线进行拟合,同时测量出被测样品表面的两个统计量.实验上制作了高斯相关随机表面样品,对其表面参数进行了测量,与AFM所测结果符合得较好,这表明该方法具有较高的精度.
关键词:
弱散射体
像面散斑
平均光强 相似文献