X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法

本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。根据70多篇文献和一些常见的资料，作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。     

稀土元素的X射线荧光光谱分析

近十年来,国内外的稀土元素X射线荧光光谱分析工作有了很大进展。随着稀土应用的日益广泛,XRF不仅是常量稀土分析手段,也已用于微量和痕量稀土分析。本文着重在样品的预富集,制样技术,仪器条件,校正谱线干扰以及消除基体效应的数学校正法等方面做了阐述。     

钢中残量元素As,Sn,Sb的X射线荧光光谱分析

本文介绍了用日本理学3530XRF光谱仪扫描道测定钢中痕量元素As、Sn、Sb。由于短波强大的背景破坏了检测线的线性,通过用DATAFLEX 181B背景扣除的数据处理,消除了这些影响,成功地校准了曲线。方法简单;快速;XRFS结果与化学分析一致,该法已用于炼钢的过程控制和原材料分析。     

X射线荧光光谱法测定碳酸锶产品中的主次组分含量

Mg,Ca,Sr,Ba同为碱土金属,性质相似,准确分析SrCO3产品中的Sr,Ca,Mg,Ba难度大,分析繁杂.文章采用人工合成配制系列标准样,以硼酸镶边垫底的粉未压片法制样,建立了准确分析SrCO3产品中主次组分的定垦分析曲线,可同时测量SrCO3产品中的Sr,Ba,Ca,Mg,Si,Fe,Al,S等组分.由于SrCO3产品中Sr含垦高,按照仪器给定的测量条件进行测量产生谱峰饱和现象,造成计数率溢出,分析误差较大,文章对Sr的分析条件进行了分析,提出通过降低Sr的测定功率来降低计数率,达到测量目的;粉末压片制样分析SO4时,随着测量次数的增加,SO42的结果呈递增趋势.在文中提出了解决方法;同时对自成特性很差的SrCO3产品的压片条件进行了讨论.使用a经验系数法校正基体效应,经对配制的合成样进行检验,测最值与标准仉结果吻合.方法的检出限和准确度满足分析要求,除SO42-的RSD＜9.0%,其他主次元素RSD＜2.5%.     

氧化铝的X射线荧光光谱分析方法研讨

简要论述了氧化铝的X射线荧光光谱分析方法原理、样品处理、设备特点;在德国布鲁克公司的S4型X射线荧光光谱仪上用融片法分析氧化铝中的杂质含量,重点论述了用X射线荧光光谱法代替传统的化学分析方法的优势和不足.     

合金铸铁的X射线荧光光谱分析

探讨了用ＸＲＦ法测定合金铸铁中Ｓi、Mn、P、S、Ni、Cr、Cu、Al、Mo、V、T、Nb、Sn、W、Co１５个杂质元素的分析方法，简述了分析条件及实验方法，方法简便、快速、准确、精密度较好。     

GZT吸附剂的X射线荧光光谱分析

自制模拟标样测定GZT吸附剂的Si、Al、Fe含量，数据可靠。     

X射线荧光光谱粉末直接压片法测定哈默斯雷铁矿中的主次元素含量

本方法采用塑料环作镶圈，粉末直接压片，用X射线荧光光谱法测定哈默斯雷铁矿中的TFe、SiO2、Al2O3、P、S、Cu、MgO和Na2O的含量，试验结果表明：基体影响无需进行校正，方法的准确度和精密度均较高，结果令人满意。     

白云石的X射线荧光快速分析

采用粉末压片法制样,用小型多道波长色散X射线荧光光谱仪测定白云石中的SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe3O3。所得结果满足化学分析误差要求,能完全替代化学分析,对白云石瞪分析缩短至30min。本方法快速、简便,结果令人满意。     

X射线荧光光谱法测定工业硅中铁、铝、钙

通过压片法制备样片,用X射线荧光光谱法测量工作硅中铁,铝,钙,探讨了样片制备条件,并通过加入粘接剂提高了样片牢固度,用经验系数法进行元素间增强和吸收校正,经对样品制备精密度及测量准确度分析,X射线荧光光谱法测量准确度和精密度能满足传统化学法要求。     

矿石中多元素的XRF分析

采用熔融法制样,ＸＲＦ分析方法,测定矿石中的多种元素,此法克服了基体效应,方便可靠。     

熔融制样X射线荧光光谱法测定锰铁合金中硅、锰和磷含量

用熔融后的四硼酸锂制作铂金坩埚保护层,以Ba02做氧化剂,在马弗炉内通过逐渐升温来氧化锰铁合金,然后熔融制取玻璃熔片,用X射线荧光(XRF)光谱分析锰铁中硅、锰和磷含量.本法有效消除了锰铁合金熔融制样过程中的坩埚腐蚀问题,分析误差可完全控制在国家相关标准允许的偏差内,实现了锰铁合金各元素的快速准确测定.     

X-射线荧光光谱法测定溶样后熔融制样金属硅中铁、铝、钙、钛、磷、铜

本文提出了溶解、蒸干然后用熔剂熔融残渣的样品制备方法,解决了金属硅不易直接熔融制样的难题,可以同时测定金属硅中多种杂质元素,消除了基体效应的影响,克服了标准样品对测定的限制,测定范围广,准确度高,通过安排正交试验确定了样品制备条件。     

XRF测定硅铁的制样方法研究

通过试验对取样量、研磨时间、粉末粒度、称样量、压力、保持时间、光洁度等进行了研究，制定了硅铁粉末直接压片的制样方法，用ARL8480型X射线荧光光谱仪测定了硅铁中硅、铝、钙、铬、锰、磷、硫等元素，特别是对高含量硅的测定其准确度与精密度都取得了令人满意的结果。     

XRF法测定锌合金中的铝

建立了XRF法测定锌合金中Al的分析方法.方法简便、快速、准确,在生产分析中发挥了重要作用.     

X射线荧光光谱法测定钒铁冶炼炉渣中的主要成分

利用X射线荧光光谱仪测定钒铁冶炼炉渣中的TV、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、SiO2等主要化学成分的含量。采用自制标样绘制校准曲线,利用光谱干扰校正系数和基体效应校正系数消除光谱干扰和基体效应。试验结果表明:该方法简便快速、有良好的精密度和准确度,所得结果与湿法化学结果一致,能及时指导钒铁冶炼生产。     

塑料中金属氧化物的XRF分析

本文描述塑料中A1、Ti、Mg和Fe的氧化物的一种测定方法。以石蜡代替塑料制备校准标准,塑料样品直接压片侧量其金属氧化物含量,方法准确、快速,满足生产要求。     

XRF法测定铂制品中的Pt、Au、Pd、Ag、Cu和Ni

本文利用XRF金标样的多元素回归方程，对Pt、Pd的荧光强度进行修正，修正后的荧光强度当作Au、Ag的荧光强度代入回归方程中，利用计算机编程计算铂制品中的Pt、Au、Pd、Ag、Cu、Ni等6种元素的含量。PT的测定范围为85%-99.92%时，该法测定的准确度优于0.5%，具有无损、快速、准确、可靠等优点。     

X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫

采用X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫，代替传统的化学分析方法。原样品粉末直接压片，标准样品采用国际焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片，采用散射线背景校正法校正基体的影响，效果良好，简便易行。本方法的精与准确度均较好。