锡,锗化合物的光电子能谱和质谱研究

用光电子能谱（ＸＰＳ）和质谱（ＭＳ）分别研究了９种锗，锡的化合物Ｇｅ３ｄ，Ｓｎ３ｄ轨道电子结合能化学位移与其所处不同化学环境的关系。着重讨论了取代基团电负性对Ｇｅ３ｄ，Ｓｎ３ｄ结合能化学位移的影响。     

有机锡化合物的光电子能谱研究

本文研究了五种有机锡化合物的光电子能谱图，讨论了影响锡原子内层ｄ轨道电子结合能化学位移的几种因素，比如，取代基的影响，基团电负性的影响。     

含磷杂环化合物的光电子能谱和质谱研究(Ⅰ)

本文用光电子能谱（ＸＰＳ）和质谱（ＭＳ）方法研究了七种新合成的含磷杂环化合物。通过对ＸＰＳ和ＭＳ数据分析，讨论了该类化合物的同分异构体存在的形式及存在的方式，并证实同分异构体只存在于气相和液相中。     

有机锡化合物的光电子能谱（XPS）和质谱（MS）研究Ⅱ

本文报道了７种新合成的（Ｚ）－１－（２－（三芳基锡）乙烯基）－１－环庚醇有机锡化合物的ＸＰＳ和ＭＳ结果，通过ＸＰＳ讨论了化合物中不同取代基的存在，对锡内层电子的影响及取在对Ｏｈ结合能化学位移的作用，结果表明，卤素在这里起着得要的作用，通过ＭＳ和ＸＰＳ讨论了不同取代基对Ｏ→Ｓｎ键的影响。     

杂多阴离子柱撑水滑石层柱相互作用的光电子能谱研究

本文用Ｘ－光电子能谱仪对二十二种同多和杂多阴离子柱撑水滑石层和柱中元素电子结合能的化学位移进行了研究。同时通过ＩＲ，ＸＲＤ的分析，对ＸＰＳ结果的讨论提供了一定的补充，探讨了同层不同柱，同性不同层的ＰＯＭ－ＬＤＨＳ的层柱相互作用机理。     

Ce(Ⅳ)和Ce(Ⅲ)化合物系列的X射线光电子能谱研究

用XPS研究了标称四价铈盐系列:硫酸铈铵、硫酸铈、二苯基羟乙酸铈、碘酸铈、过氧化铈、二氧化铈以及三价铈盐系列:草酸亚铈、硫酸亚铈、二苯基羟乙酸亚铈、碘酸亚铈和氯化亚铈.结果表明,上述标称四价铈盐都属于混合价化合物,其Ce3d电子能谱呈现Ce⁴⁺和Ce³⁺的二组谱线结构的混合.在真空中加热后CeO₂的Ols电子能谱有两个氧峰,这说明 Ce(4f⁰)O(2p^π)←→Ce(4f¹)O(2p^n-1) 类型价态波动的可能性较大.三价铈盐的3d谱线的低结合能端约3.5—4eV处则存在摔落伴峰.     

用质谱和光电子能谱研究飞秒强场中的电离动力学

报导了用自制飞秒激光器通过飞秒多光子电离质谱和光电子能谱对飞秒强激光场与分子（氨、苯）相互作用的研究,飞秒激光脉宽约１００ｆｓ,二倍频中心波长４０７．５ｎｍ,聚焦后脉冲功率密度达到１０＾１２Ｗ／ｃｍ＾２,氨的光电子能谱显示了（２＋２）ＲＥＭＰＩ和（２＋２）＋１ＡＴＩ、（２＋２）＋２ＡＴＩ三组电子峰,每组峰又包括伸缩振动ｖ１的带系,ＡＴＩ峰的振动布居出现反转,随着光强增加,谱峰加宽而且振动能级出现平     

含磷杂环化合物的光电子谱能和质谱研究（Ⅰ）

本文用光电子谱和质谱方法研究了七种新合成的含磷杂环化合物。     

蓝色氧化钨的光电子能谱研究

本文用光电子能潜技术对蓝色氧化钨的表面价态进行了一系列研究。结果表明:蓝色氧化钨并不是单一价态的氧化钨,而是由W⁺⁵和W⁺⁶两种价态组成。氩离子刻蚀,真空高温处理都是一个失氧还原过程,也是钨由高价态向低价态的转变过程。同时,费密能级附近的态密度随着价态变低而逐渐增加。 关键词：     

光电子能谱研究Ce表面的氧化

利用光电子能谱技术研究了室温Ｃｅ膜表面的氧化，分析了在不同氧气暴露量下，稀土金属Ｃｅ氧化状态和样品功函数的变化，结果表明，在Ｏ２吸会的过程中，生成两种Ｃｅ的氧化物，在低的暴露量时，氧在Ｃｅ表面的吸队十分迅速，生成Ｃｅ２Ｏ３，同时，Ｃｅ２Ｏ３中的Ｃｅ３ｄ和Ｏｌｓ谱峰随着氧气暴露量的增加向低结合能方向漂移，在高的暴露量下，氧在表面的吸附趋子缓慢，表面的Ｃｅ２Ｏ３被氧化成ＣｅＯ２，通过对样品加热，能使得     

X射线光电子能谱在炼油催化剂中的应用

X射线光电子能谱(XPS)能给出固体材料表面元素的定性、定量和化学态信息,是炼油催化剂最重要的表征手段之一。对XPS在加氢催化剂、超深度脱硫吸附剂、稀土改性Y型分子筛等典型炼油催化剂研究中的应用作了阐述和举例说明。对Mo(W)-Co(Ni)/Al₂O₃(SiO₂)型硫化态加氢剂,阐述了其无水无氧转移方法;总结了S(2p),Mo(3d),W(4f),Co(2p)和Ni(2p) XPS谱的识别、分峰拟合方法及各元素的典型化学态,从而获得活性金属的硫化度及催化剂硫化不完全原因。对S Zorb超深度脱硫吸附剂,介绍了利用XPS激发的ZnLMM俄歇峰获得Zn存在形式的方法,并研究了吸附剂的破碎机理和失活原因;通过XPS和氩离子刻蚀XPS研究了S元素在吸附剂表面及其随深度的分布情况;利用原位XPS研究了待生剂中含S和含Ni物种在临氢条件下的转化行为,为吸附剂再生条件的选择提供支持。对铈离子改性Y分子筛,通过分析XPS定量结果和Ce(3d)化学态研究了铈离子在改性Y分子筛中笼内外的存在情况,结果表明液相法比固相法利于铈离子向分子筛内迁移。     

X射线光电子能谱在配合物研究中的应用及其研究进展

通过研究内层电子结合能及其氧化态的变化,X射线光电子能谱(XPS)可以鉴别元素种类和价态、测定元素的相对含量、了解中心离子与配位原子的相互作用和验证量子化学理论。XPS已成为研究配合物中配位位点、电荷分配和配合物结构的有力工具。     

The Bonding of Dibenzyldithiocarbamate Metal Complexes by X-Ray Photoelectron Spectroscopy

Core orbital binding energies for N 1s and S 2p_3/2, in the metal chelates of dibenzyldithiocarbamic acid M(DBDTC)_n for n=2, M=Cu(II) and Zn(II), and for n=3, M=Bi(III), have been measured using x-ray photoelectron spectroscopy. The nature of the spectral peaks and the core binding energies indicates that the nitrogen atom in the DBDTC is not intramolecularly bound with the metal as had been previously suggested. The relatively high binding energies for the N 1s orbitals indicate planar geometry for the ligands, and the form to reasonably represent their structure, which agrees with previous infrared studies.     

二氧化硅吸附铝离子的X射线光电子能谱(XPS)表征

用X射线光电子能谱技术研究了不同pH条件下二氧化硅对铝离子的吸附作用。在pH分别为3.74、4.25和4.88条件下,吸附在二氧化硅表面的铝离子的Al2p电子结合能依次为74.30、74.90、75.10eV。根据Al3 在水溶液中的一级水解常数pK1=4.99,认为在pH=3.74条件下,吸附在二氧化硅表面的铝离子的形态为Al3 ,而在其余两种pH条件下表面铝离子的形态为Al(OH)2 。     

Study on Surface Oxidative Characterization of LPE HgCdTe Epilayer by X-Ray Photoelectron Spectroscopy

This report presents a surface pre-treatment method of LPE HgCdTe epilayer to reduce and remove the oxides and contaminants. The surface oxidative characterization of LPE HgCdTe epilayer has been studied by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and scanning electron microscopy (SEM). HgCdTe surface exposed by various processing steps has been measured and analyzed, the results show the native oxide film can be removed by the solution of lactic acid in ethylene glycol after etching by bromine in absolute ethyl alcohol. It indicates that the mainly optical and electrical parameters of LPE HgCdTe epilayer have not been changed. It is evident that the pre-treatment before HgCdTe surface passivation affects the passivant/HgCdTe interface properties.     

PTCDA/ITO表面和界面的X射线光电子能谱分析

利用X射线光电子能谱对PTCDA/p-Si有机/无机光电探测器中PTCDA/ITO表面和界面进行了测试分析。结果表明,苝环上的C原子的结合能为284.6 eV,酸酐中的C原子的结合能为288.7 eV,并存在来源于ITO膜中的氧对C原子的氧化现象,界面处C(1s)谱中较高结合能峰消失,且峰值向低结合能发生化学位移;CO键中O原子的结合能为531.5 eV,C—O—C键中的O原子的结合能为533.4 eV。     

氮化碳薄膜的X射线光电子谱

用ＸＰＳ研究射频－直流等离子体增强化学气相沉积获得的氮化碳薄膜的化学结构。Ｃ１ｓ和Ｎ１ｓ芯能级电子谱分析表明：在ＣＮ膜中含有Ｎ－ｓｐ＾３和Ｎ－ｓｐ６２两类化学结构,在高含Ｎ膜中还含有少量的Ｎ－ｓｐ相,且代表Ｎ－ｓｐ＾３结构的原子 比为１．２８,接近４：３,证明此膜中存在类β－Ｃ３Ｎ４相。     

Ni3V2O8催化性能与X射线光电子能谱分析

文章采用微波加热,草酸盐共沉淀法制备了Ni3V2O8催化剂,并对催化剂进行了BET,XRD,H2-TPR,XPS,TEM和电导等技术表征,分析研究了Ni3V2O8催化剂的丙烷氧化脱氢(ODH)制丙烯催化性能与其表面物种的关系.XRD,TEM和电导实验结果表明本方法制得的Ni3V2O8催化剂晶粒均匀,平均粒径为30 nm,具有p-型半导体性质.TPR和XPS实验结果显示Ni3V2O8催化剂中,晶格氧可以较容易转换成未完全还原氧,使催化剂内各种价态的钒之间易于进行氧化还原反应并形成氧缺位,从而催化剂的表面含有较多未充分还原氧物种O-和V4 物种.催化活性结果显示当丙烷的转化率为18.60%,丙烯选择性达到60.02%,在相同转化率条件下,比文献报道的NiO和Ni3V2O8共存催化体系中的丙烯选择性高,说明Ni3V2O8催化剂中存在未充分还原的O-和V4 物种有利于提高丙烯的选择性.     

Iron-Alloyed Vanadium Dioxide Analysis Using X-Ray Photoelectron Spectroscopy Technique

Russian Physics Journal - The paper presents the qualitative and quantitative elemental analysis of V0.93Fe0.07O2 compound powder performed by the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) technique....