Die Spektralanalyse von hochreinem Zirkonium

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Zur Spektralanalyse von Siliciumcarbid

Zusammenfassung Aus der Diskussion der Grundlagen einer spektrographischen Siliciumearbidanalyse und deren Ergebnissen folgt die Überlegenheit gegenüber der chemischen Analyse bei der relativen Gehaltsbestimmung verunreinigender Fremdelemente (Al, Fe, Ti und Mg), die bei einfacher Methode mit einem mittleren Fehler von 7 bis 15% durchgeführt werden kann. Die absolute Gehaltsangabe ist größenordnungsmäßig möglich.Die Analysenergebnisse an zahlreichen SiC-Proben zeigen eine deutliche Abhängigkeit der Eigenschaften vom Al-Gehalt, die durch extrem hohe bzw. niedrige Werte von Fe und Ti beeinflußt werden kann.

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Summary The discussion of the fundamentals of a spectrographic analysis of silicon carbide and their results shows its superiority as compared with chemical analysis in the relative determination of the content of contaminating foreign elements (Al, Fe, Ti, Mg). This analysis can be conducted by a simple method with a mean error of 7 to 15%. It is possible to state the absolute content in order of size.The analytical results in many samples of SiC show a distinct dependence of the properties on the Al-content, which may be influenced by extremely high or low values of iron and titanium.

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Résumé De la discussion des principes de base d'une méthode d'analyse spectrographique de carbure de silicium résultel a supériorité de cette méthode par rapport à l'analyse chimique pour le dosage relatif des éléments étrangers (Al, Fe, Ti, Mg); ils sont dosés par une méthode simple avec une précision moyenne de 7 à 15%. On peut aussi déterminer la valeur absolue de leur concentration, au moins en ordre de grandeur.Les résultats d'analyse de nombreux échantillons de SiC révèlent une influence nette, sur leurs propriétés, de la concentration en Al qui peut être modifiée par de très fortes (ou de très faibles) teneurs en fer ou titane.

     

Zur quantitativen Spektralanalyse von Bauxit

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Spektrographische Bestimmung von Beimengungen in Molybd?n und seinen Verbindungen nach der Verdampfungsmethode

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Eine Schnellmethode zur Bestimmung von Antimon in hochreinem Zinnmetall nach der Methode der Amalgampolarographie

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Zur Bestimmung von Chlor nach der Sauerstoffkolben-Methode

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Zur Bestimmung von Beryllium nach der Photoneutronenmethode

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Zur Untersuchung der Spurenverunreinigungen in hochreinem Aluminium

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Zur Automatisierung der Auswertung bei der quantitativen Spektralanalyse

Zusammenfassung Die Eigenschaften der photoelektrischen und photographischen Registrierung von Spektren werden besprochen und die Bedeutung der photographischen Registrierung für die Verfahrensentwicklung und Routineanalyse von Proben wechselnder Zusammensetzung hervorgehoben. Das Programmsystem für den elektronischen Digitalrechner und verschiedene Möglichkeiten der Datenerfassung werden beschrieben. Durch diese Automatisierung der Auswertung wird gegenüber dem herkömmlichen Rechenbrettverfahren eine Beschleunigung um den Faktor 200 erreicht.

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Summary The characteristics of the photoelectric and photographic registration of spectra are discussed and the importance of the photographic registration for the development of methods and the routine analysis of samples of changing composition is emphasized. The program system for the electronic digitalcomputer and different possibilities of data collecting are described. Automating the evaluation has resulted in a speeding-up factor of 200 compared with the traditional computing board method.

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Die obige Arbeit wurde erwähnt von Herrn Dr. Pohl am 6. 10. 1964 in Düsseldorf in seinem Vortrag Erfassen und Verwerten von chemischen Daten. [Diese Z. 209, 19 (1965).]

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Außerdem wurde uns die Arbeit von Tunnicliff und Weaver, Analytical Chemistry 36, 2318 (1964), erst nach Abschluß unserer Arbeit bekannt. Die Autoren befassen sich mit einer ähnlichen Aufgabe, wobei allerdings das Problem der Linienauswahl eingehender behandelt wird als bei uns.     

Zur Bestimmung von Zinn in hochreinem Chrom

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Zur Anwendung des Streudiagramms in der Spektralanalyse

Zusammenfassung Es wird gezeigt, daß man nur dann vollständige Informationen über das statistische Verhalten eines spektrochemischen Verfahrens erhält, wenn man auf die zweidimensionale Verteilung der Y-Wertepaare von Analysen- und Standardlinie zurückgeht. Das Streudiagramm zeigt diese zweidimensionale Verteilung. Es dient zur Abschätzung der Reproduzierbarkeit von Intensitätsverhältnissen und kann zur Prüfung und Auswahl von Standardlinien verwendet werden. Durch eine Konturellipse kann es vervollständigt und zu einem exakten statistischen Prüfverfahren ausgebaut werden. Zahlreiche Beispiele dienen zur Erläuterung.

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Summary Complete informations concerning the statistical behaviour of spectrochemical procedures can only be obtained by applying two-dimensional statistical methods. The scatter diagram is the graph of a sample of analysis/internal standard-line pair values. It can be completed by a contour ellipse. From this diagram the reproducibility of intensity ratios can be estimated and internal standard lines best be choosen. The scatter diagram method can be extended to an exact statistical calculation method. Several examples are given.

     

Zur Frage nach der geordneten Selektion von Sequenzen bei der Kristallisation von Copolymeren

Ohne Zusammenfassung Herrn Professor Dr. G. Kanig m?chte ich recht herzlich für viele hilfreiche Diskussionen danken. Herrn Dipl.-Math.E. Heide bin ich dankbar für die Besorgung der Rechnungen zu Abb. 5–7, sowie für den Hinweis auf eine Vereinfachung beim übergang von Gl. [19] zu Gl. [23a].     

Zur photometrischen Bestimmung von Selenspuren in hochreinem Tellur

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Zur Bestimmung von Sauerstoff in Beryllium nach der Mikro-Vakuumschmelzmethode

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