X射线荧光光谱分析法测定多金属矿中的铅锌铜

采用粉末压制的样片进行Ｘ射线荧光光谱分析，测定多金属矿选矿流程中的Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ。选择康普顿散射线作Ｐｂ的内标，分析线附近的散射线作Ｚｎ、Ｃｕ的内标，用经验系数法校正基体效应。其分析范围是Ｐｂ：０．１９～７９．２９％，Ｚｎ：０．４５～５０．１１％，Ｃｕ：０．０２１～３１．１０％，分析结果与化学法相符。     

X射线荧光光谱法快速测定多金属矿中的砷

阐述了少量样品与微晶纤维素混合，直接压片成型后的测定其中的砷，采用经验系数法校正基体效应，分析范围为０．１１～３１．０３％，砷含量１６．０２％时，方法的相对标准偏差为２％，分析结果与化学法相符。     

X射线荧光光谱分析

作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇,本文收集国内学者在1998年7月至2000年6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的129篇论文,并对此期间对我国X射线荧光光谱分析的概况、发展和国际上的地位进行了讲述,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射X射线荧光光谱、同步辐射光源X射线荧光光谱、粒子激发X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2002年7月～2004年6月间X射线荧光光谱, 包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用, 内容包括仪器的研制、维护和维修、样品制备技术、 X射线荧光光谱基础研究、谱处理、分析方法研究和应用.     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用.     

X射线荧光光谱分析

本文是“分析试验室”定期评述中“Ｘ射线荧光光谱法”学科的第六篇评述，它收集了国内学者１９９４年７月到１９９６年６月期间发表的在国内外刊物上的１４９篇文章，并对此期间我国Ｘ射线荧光光谱分析的概况和发展进行评述，内容包括ＸＲＦ仪器，同步辐射ＸＲＦ，全反射ＸＲＦ，粒子激发Ｘ射线发射光谱，定量，定性和化学态分析方法，制样技术，以及在各个科学和工业领域中的应用。     

高压覆膜制样X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素

采用新的制样技术——高压(1800 kN)覆膜(3.6μm Polyester Film)制样,波长色散X射线荧光光谱测定多金属矿中19种组分。该制样技术对高硅锌矿石GBW07237(SiO282.95%),不加黏结剂,也能制出理想的样片。测定结果显示1800 kN制备样品多数组分的灵敏度、精密度和检出限较400 kN制备的样品有所改善。15个多金属矿标准物质建立校准曲线,使用Rh Kα的瑞利散射线作内标测定Cu、Pb、Zn、As和Rh Kα的康普顿散射线作内标测定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及经验系数法校正基体效应。Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo的测定结果与化学法相符,可同时分析其中的Cd、S、Fe、SiO2、Al2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O等成分。实现了固体直接进样测定多金属矿中的多种元素。高压覆膜制样技术是制样技术的突破,国内外尚未见报道。     

X射线荧光光谱分析

评述了我国在2000年7月-2002年6月间X射线荧光光谱，包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用，内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。     

X射线荧光光光谱分析

评述了我国在2007～2008年X射线荧光光谱,包括质子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、基础研究和分析方法研究及其应用.     

全反射X射线荧光光谱法同时测定地气样品中锰,镍,铜,锌,铅,铷和锶

论述了利用自行研制的有３个反射体的全反射分析装置，用钼靶Ｘ光管激光发，以Ｓｅ为内标，同时测定了地气样品中Ｍｎ，Ｎｉ，Ｃｕ，Ｚｎ，Ｐｂ，Ｒｂ和Ｓｒ等元素。对纳克级元素含量，方法的精密度为７．２％，绝对检出限为１０＾１０－１０＾－１１ｇ。其分析结果的准确度与无火焰原子吸收相符。     

铁矿的X射线荧光光谱分析

采用无水四硼酸锂为溶剂,硝酸锂为氧化剂,经高温熔融制成的玻璃熔片,进行进口铁矿的主次元素含量测定。试验结果表明,分析结果经基体校正后与标样值比较,其准确度令人满意,与化学法相比,方法简便快速,精密度高,准确度好。     

X射线荧光光谱分析

本文是《分析试验室》定期评述中“X射线荧光光谱分析”课题的第三篇评述文章。它收集了国内学者在国内外刊物和专业会议上发表的268篇文章(其中在刊物上发表的153篇),时间基本上限于1988年6月至1990年6月。评述了在此期间我国X射线荧光光谱概况及进展。内容有仪器、进口仪器性能扩充、定量分析、定性和半定量分析、XRF在标准物质研制中的应用及状态分析和解谱程序等六个方面。关于应用方面放在定量分析方法的评述中予以论述。     

高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素

采用新的制样技术——高压(1 800kN)覆膜(3.6μm Polyester Film)制样,波长色散X射线荧光光谱测定多金属矿中19种组分。该制样技术对高硅锌矿石GBW07237(SiO_2 82.95%),不加黏结剂,也能制出理想的样片。测定结果显示1 800kN制备样品多数组分的灵敏度、精密度和检出限较400kN制备的样品有所改善。15个多金属矿标准物质建立校准曲线,使用Rh Kα的瑞利散射线作内标测定Cu、Pb、Zn、As和Rh K_α的康普顿散射线作内标测定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及经验系数法校正基体效应。Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo的测定结果与化学法相符,可同时分析其中的Cd、S、Fe、SiO_2、Al_2O_3、MgO、CaO、Na_2O、K_2O等成分。实现了固体直接进样测定多金属矿中的多种元素。高压覆膜制样技术是制样技术的突破,国内外尚未见报道。     

X射线荧光光谱分析不锈钢的数学校正方法

本文探讨了用ＸＲＦ法分析不锈钢时，用个别交叉项系数校正Ｃｒ，Ｆｅ，Ｎｉ之间的交叉效应，从而有效地修正了它们之间的吸收－增强效应，使分析结果得到改善。最大误差不超过０．５％，与Ｃ－Ｑ方程相比，该法计算简便，具灵活性和实用性，可推广使用。