黄昆X射线漫散射

 本篇是由国家自然科学基金研究项目《黄昆X射线漫散射实验研究》负责人蒋四南先生应本刊特约所撰写.中科院鉴定委员会认为:该项实验装置的物理设计是正确的,实验仪器布置是合理的,改装后的仪器装置达到了设计精度,在77K进行黄昆X射钱漫散射测量数据是可靠的.根据黄昆散射强度的差异,初步阐明了不同注入元素在晶格中的占位状态.这一实验结果已进入了国际研究的前沿.     

同步辐射小角X射线散射研究

应用同步辐射小角X射线散射研究了二醋酸纤维素接枝聚甲基丙烯酸甲酯在二氯甲烷和甲醇4:1的混合溶剂中的尺寸和形态. 结果表明接枝共聚物在溶剂中形成单分子微球. 微球的尺寸随支链的长度增加而增大.     

软 X射线光学表面散射检测

应用自行研制的软X射线反射率计,分别对不同的反射镜样品,在不同的工作波段以及掠射角下研究了软X射线波段掠入射光学表面的散射。实验结果表明：掠射角增加,波长减小,粗糙度增加,软X射线掠入射表面散射程度加重。     

小角X射线散射应用研究若干进展

文章从小角X射线散射（small-ande X-ray scattering，SAXS）的理论分析出发，结合国内外SAXS理论和应用研究的最新动态，总结了文章作者所在的研究小组近年来在SAXS技术用于材料微结构表征方面的研究成果。主要包括以下三个方面的内容：（1）有机／无机杂化材料中电子密度波动的研究；（2）弦长度分布函数材料的周期结构的研究；（3）纳米粉末晶化过程的研究。     

X射线散射法测量超光滑平面

介绍了掠入射X射线散射法(GXRS法)测量超光滑表面的原理及基于商业用X射线衍射仪改造而成的实验装置。以3片不同粗糙度的硅片作为实验样品,分别应用一级矢量微扰理论和改进的Harvey-Shack理论对其散射分布进行处理,所得结果与原子力显微镜测量结果基本相符。分析了探测器接收狭缝的宽度和入射光发散度对实验结果的影响,随着探测器接收狭缝宽度和入射光发散度的减小,测量误差呈指数迅速减小。在所测量的空间频率范围内,功率谱密度（PSD）函数的误差随频率的增加而减小。     

小角X射线散射应用研究若干进展

文章从小角X射线散射（small-angle X-ray scattering, SAXS）的理论分析出发,结合国内外SAXS理论和应用研究的最新动态,总结了文章作者所在的研究小组近年来在SAXS技术用于材料微结构表征方面的研究成果。主要包括以下三个方面的内容：（1）有机/无机杂化材料中电子密度波动的研究;（2）弦长度分布函数材料的周期结构的研究;（3）纳米粉末晶化过程的研究。     

光色玻璃的X射线小角散射研究

用X射线小角散射SAXS)研究了光色玻璃中卤化银微晶尺寸同热处理温度的关系.发现在490℃以下热处理的玻璃,同原始玻璃一样,没有明显的散射.但由银含量仅为0.3(重量%)的玻璃能观察到散射干涉现象正说明银离子被富集在分散的Na_2O-B_2O_3液滴之中.从高温处理后冷却至440℃再快冷到室温的玻璃,其卤化银颗粒的尺寸比直接淬冷到室温的玻璃要大,后者约为110(?).玻璃中加入ZrO_2后,使卤化银颗粒尺寸达到近乎20O(?).基体玻璃中的-液分相,由于分散相与连续相之间的电子密度差太小,难以对其SAXS强度作定量处理.     

爆炸物的X射线相干散射实验研究

采用同步辐射连续光谱的X射线(1.2-38.2KeV),对数种爆炸物(含铝黑色炸药、黑色炸药、黑索今、纯硝铵炸药、硝铵炸药和TNT)和非爆炸物(糖、奶粉、咖啡、纸等)进行了小角度的X射线散射实验,得到了上述几种爆炸物和非爆炸物的小角度相干散射谱. 从爆炸物的X射线散射谱中可以找到他们各自的特征衍射峰作为他们的"指纹",从而可以将爆炸物从非爆炸物中鉴别出来     

小角X射线散射模糊数据解析方法

小角X射线散射(SAXS)是研究多孔材料结构的一种有效方法．可得到孔径分布、平均孔径、比表面、界面层厚度、分形维数等许多微结构信息．SAXS理论公式基于点状光源(针孔准直),但实践中则大多采用长狭缝准直条件．简要综述了SAXS在长狭缝准直条件下直接应用模糊强度进行煤、炭、二凝胶、分子筛等多孔材料结构解析的方法、并与针孔准直进行了对比。     

软X射线激光汤姆逊散射实验尝试

汤姆逊散射是诊断高温稠密等离子体状态参数的重要方法之一, 受到广泛的关注. 但是目前用于进行汤姆逊散射的探针光波长多局限于可见光或紫外光, 能够诊断的区域电子密度远低于驱动激光的临界密度. 相比较而言, 以软X射线激光作为探针, 有希望诊断更高密度区域的等离子体. 利用“神光Ⅱ”高功率激光装置产生的类氖锗软X射线激光作为探针, 开展了软X射线激光汤姆逊散射实验的尝试. 根据散射的条件, 分别进行了非相干散射和相干散射的实验, 但均未能获得明显的散射谱. 理论分析表明, 主要原因可能是实验中作为探针的类氖锗软 X射线激光的聚焦功率密度不够, 通过优化实验条件, 有希望在今后的研究中获得相干汤姆逊散射的结果. 关键词： 等离子体诊断 软X 射线激光 汤姆逊散射     

小角X射线散射实验数据的初步处理

介绍北京同步辐射装置(BSRF)小角X射线散射实验站实验数据的初步处理方法,即由成像板探测器检测到的散射信号转换成角度及其对应的强度数据的方法,并对数据转换过程中可能遇到的问题进行了详细的讨论.     

表面特征与软X射线掠入射光学散射

介绍了短波段掠入射表面散射线性模型,并且根据这个理论,分析计算了不同的表面特征对软X射线掠入射光学散射特性的影响。实验发现:随着粗糙度的增加、自相关长度的减小,软X射线掠入射光学散射越来越严重。     

基于平板模型的X射线散射特性研究

为了进一步研究高能X光散射的特性,以平板为模型,通过解析方法和蒙特卡罗（MC）数值模拟研究了X光散射的规律。研究结果表明：高能X光的散射以康普顿散射为主,当平板厚度相应的X光光程小于2.0时,平板散射中的一次康普顿散射超过75%;当到达探测器的散射照射量最大时,平板厚度相应的X光光程介于1.0与2.0之间。     

小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

溶胶界西层厚应通常是用Porod法对高角区负偏离的队Porod曲线进行拟合求算,但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均阗径之差而获得平均界面厚度。应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度。     

小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

溶胶界面层厚度通常是用Porod法对高角区负偏离的Porod曲线进行拟合求算,但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均半径之差而获得平均界面厚度.应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度 关键词： 小角X射线散射 溶胶 平均界面厚度     

基于平板模型的X射线散射特性研究

 为了进一步研究高能X光散射的特性,以平板为模型,通过解析方法和蒙特卡罗（MC）数值模拟研究了X光散射的规律。研究结果表明：高能X光的散射以康普顿散射为主,当平板厚度相应的X光光程小于2.0时,平板散射中的一次康普顿散射超过75%;当到达探测器的散射照射量最大时,平板厚度相应的X光光程介于1.0与2.0之间。     

用小角X射线散射法研究溶胶结构

采用溶胶凝胶方法在碱性条件下制备了SiO2和ZrO2溶胶,应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)法研究了溶胶的结构.结果表明,溶胶粒子是多分散的,其生长、聚集受RLCA和Eden模型的共同控制,是一种非线性的动力学过程,所形成的聚集体呈随机、分岔、稠密不同的结构,具有质量分形的特征.同时还发现所研究溶胶的散射曲线均不遵守Porod定理,形成负偏离或正偏离,这说明在溶胶粒子与分散介质间有过渡相存在.对上述偏离进行了定性和定量的分析,提出了正偏离时的定量解析方法,从而得到了胶体系统中有关过渡层(界面层)结构的 关键词：     

小角X射线散射中宇宙线噪声去除方法

针对小角X射线散射（SAXS）测量图样中的宇宙线提出一种去除方法,以纳米结构的周期信息为物理先验计算得到周期性散射信号的坐标信息,对各光斑级次有效信号区域内的宇宙线进行检测并去除。数值模拟了含宇宙线的SAXS测量图样序列,测试该方法对SAXS测量图样序列宇宙线的检测和去除效果,并与现有的宇宙线去除方法进行对比。计算不同曝光时间下去噪前和各方法去噪后SAXS测量图样的评价指标,可以说明该方法对于SAXS测量图样中的宇宙线具有良好的去除效果,并能在长曝光条件下获得明显的信噪比增益。     

X射线漫散射研究中的Ewald作图法

Ｘ射线漫散射已经成为研究不完整晶体的有力工具［１,２］．在晶体结构分析中也起着重要作用,我们曾把Ｅｗａｌｄ作图法用于Ｘ射线漫散射研究［３］．在图解法中,各层倒易格点与反射球的关系清晰地表现在图上,不但使实验调整工作简便,而且对分析实验结果也有参考价值．一、原理以简单单斜格子为例进行讨论．考虑倒易基矢ａ＊,ｂ＊所定义的倒易层面．同层倒易格点的指数ｌ相同,与反射球相交于同一纬度的圆环上,简称此圆?...