图形测试:多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键

1介绍多工位测试是大多数模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.随着并行测试工位数的提高,模拟和混合信号器件测试系统的设计人员需要     

Zetex半导体选择科利登的ASL3000测试其类型广泛的模拟和混合信号器件

半导体业界从设计到生产测试解决方案世界领先的供应商美国加州MILPITAS——科利登系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。Zetex半导体总监兼团队主管Ted Wiggans说：“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。     

基于测试码的测试：多测试位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键问题

1介绍 多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石。一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足,使得并行测试效率降低。测试系统架构不断地发展,寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,以实现更高的并行测试效率。     

基于DSP的多频带混合信号测试系统

根据现代芯片制造和测试技术的趋势,论述当今混合信号测试的特点和要求,阐明国内外混合信号测试现状,探讨混合信号传统测试方法的不足。针对国内测试设备制造业的现实情况,提出一种新的混合信号测试方案,该方案基于高速数字信号处理技术,成本低廉、遵循标准化和模块化的设计思路,解决了多种频带的混合信号测试问题,是业内现实情况下测试设备制造业的一个探索。     

应对目前模拟混合信号器件的复杂测试挑战

介绍 随着计算机、通讯和消费类市场便携式应用的不断增长,对复杂模拟混合信号(AMS)器件的需求全也大幅增加.AMS器件为高量产产品,如手提电脑、音频/视频设备、DSL调制解调器和机顶盒,提供信号转换,电源管理和其它物理接口功能.由于需要提供这些功能,新型的AMS器件为半导体制造商带来了大量新的测试挑战.