光纤型偏振器消光比测试方法研究

介绍了单模光纤偏振器和保偏光纤偏振器 (包括研磨型保偏光纤偏振器和线圈型保偏光纤偏振器 )消光比的基本测试方法。单模光纤偏振器的基本测试方法有偏振控制器法和旋转波片法 ;研磨型保偏光纤偏振器的基本测试方法有起偏器 45°法和消偏法 ;线圈型保偏光纤偏振器的基本测试方法有偏振控制器法和消偏法。对每种方法的优点和缺点以及在测试过程中可能会出现的问题进行了详细分析 ,并通过实验进行了验证     

偏振棱镜消光比参量精密测量方法

为解决偏振棱镜消光比参量传统检测方法中,由于光线的非垂直入射和消光位置定位误差等因素的影响,导致不能精确测量的问题,以格兰-泰勒棱镜为例,通过对偏振光进行磁光调制以精确确定待测棱镜消光位置,并在消光位置附近多次小角度转动待测棱镜,以减小光线的非垂直入射对出射光强产生的非线性微扰.仿真和实验验证表明,该方法可以准确地得到消光光强与平行光强,得出消光比参量,满足测量准确度要求.     

一种多波长激光晶体消光比测试仪的研究

介绍一种三波长的激光晶体消光比测试仪。该测试仪具有全自动，多波长的特点，其系统消光比优于５０ｄＢ，不确定度小于２％，具有很好的重复性。     

偏振态的高速实时测量方法的研究

偏振态的测量在光通信领域有着重要的作用,因此越来越受到人们的关注。在分析现有方案的基础上,推导出了新的斯托克斯计算公式,以此公式为依据提出了一种能对高速变化的偏振态进行实时测量的新方案,并对可能产生的误差因素进行了分析。给出了制作实用化测量模块所要达到的器件要求和制作工艺。     

光源的偏振态对动态光散射颗粒测量结果的影响

研究了在动态光散射纳米颗粒测量中,光源的偏振态对测量结果的影响。采用了粒径为100nm、体积浓度为0.5%的标准颗粒作为样品,使He-Ne激光通过起偏器得到0°～180°方向的偏振光,测量了散射光强、偏振度和粒径测量值的变化,计算了相应的粒径均值偏差和标准差,并将这一结果与无偏振He-Ne激光入射进行了比较。结果表明,当入射光为线偏振光时,偏振方向垂直于散射面时测量效果最好;另一方面,由于颗粒系散射迭加造成的散射光偏振度降低,使线偏振光源与无偏振光源产生的散射光偏振度无明显差别,证明在测量中可以使用无偏振He-Ne激光代替。     

偏振分束器对光学电流传感器稳定性的影响

采用偏振光学理论,详细分析了光学电流传感器中偏振分束器消光比的变化对传感器性能的影响,得到了偏振分束器消光比与传感器输出的关系式,并用系统实验进行了验证.理论及实验结果的吻合证明了光学电流传感器稳定性直接受偏振分束器两路消光比影响的结论.     

高消光比定向耦合器开关设计

首先对对称结构定向耦合器的原理作介绍,分析造成该定向耦合器消光比降低的各种影响因素,提出一种带补偿电极的对称结构定向耦合器的设计方案.这一方案可以补偿制造工艺过程中的误差对耦合器的不良影响,提高耦合器的消光比.     

两偏振态测量偏振相关损耗

基于具有偏振相关损耗和双折射的密勒矩阵洛伦兹变化特性,提出了一种测量偏振相关损耗的新方法.证实了测量偏振相关损耗取决于密勒矩阵的第一列元素.提出了一种实用的测量方法.新方法对于偏振相关损耗的测量只需要两个输入偏振态,因此具有测量速度快和测量误差小的优点,实验的测量结果证实了该方法的可靠性.     

利用四元数方法研究各态遍历偏振态发生器

各态遍历偏振态发生器(PSG)是偏振测量不可或缺的基本设备,偏振态和偏振器件的描述对于编写偏振态发生器的控制算法是至关重要的。采用四元数来描述和分析各态遍历偏振态发生器中偏振态与偏振控制器,导出了三级偏振控制器的四元数公式,得到了描述其旋转轴与旋转角度的公式。实验测量了单级偏振控制器的四元数,得到了普通单模光纤受挤压时对应的应力四元数公式以及改变电压时的四元数公式,利用该公式编制的算法,实现了各态遍历的偏振态发生器。     

采用光纤消光法检测脉冲激光测距仪消光比的研究

阐述了光纤消光法检测脉冲激光测距仪消光比的测试原理,采用光纤消光法分析了光纤对大功率脉冲激光的耦合与传输等关键技术问题,提出了0．22NA、400μm大功率传能光纤方案,并设计了耦合器和光学系统,分析了聚焦透镜的损耗、光纤端面的损耗、光纤耦合器与光纤的对准误差等影响耦合效率的因素,计算了光学系统弥散斑数据,接收光学系统和发射光学系统在1ω视场的弥散斑分别为9．03μm和10．6μm。设计分析结果对光纤消光法的工程应用具有一定的研究价值。     

高精度保偏光纤偏振测试系统的设计

介绍了保偏光纤的偏振串音和h参数以及它们的相互关系。给出了高精度起偏系统和检偏系统的光路结构。对影响测试精度的各种因素进行了详细分析,并使用自制的测试系统对国内几个单位生产的保偏光纤进行了测试,得到了理想的测试结果。其中,2m长的保偏光纤的偏振串音达到了-50dB以下,其测试精度达到了国际先进水平。     

保偏光纤偏振特性自动测试系统的研制与开发

介绍了保偏光纤偏振特性的基本测试原理,给出了高精度检偏系统的光路结构,硬件检测电路和分析软件的结构框图,并对实验结果进行了精度分析。实验表明:光功率测试范围可达0 2nW—2mW,测得2m长保偏光纤最大消光比47 2dB,对于40dB以下的偏振态测量,误差优于±0 1dB。     

脉冲激光测距机消光比测试系统精度分析

介绍了脉冲激光测距机最大测程———消光比测试方法中的消光比测量原理公式。并以原理公式为依据 ,对影响系统测量精度的诸因素逐一进行了分析和估算 ,根据测量消光比值的合成标准的不确定度进行精度分配。     

光全散射法测量微粒尺寸分布的研究

本文从光全散射法的基本原理出发,提出了测量微粒尺寸分布的独立道模式光全散射测量法和非独立模式光全散射测量法,解决了以往光全散射法只能测量微粒的平均直径,不能给出尺寸分布,并且测量范围小,测量结果有多值性的缺陷,独立模式光全散射测量法还能用于测量多峰分布微粒的尺寸分布,数值计算和实验研究表明用本文方法,测量结果准确,可靠。     

光学系统的偏振效应研究

本文研究了光线经过光学系统时偏振度的变化,发现:对某一类非消偏振光学系统,部分偏振光经过它时偏振度降低.     

保偏光纤双折射主轴的旋转对消光比的影响

本文利用无穷切片模型和Jones矩阵理论,给出了主轴连续旋转的保偏光纤的等效矩阵,并讨论了主轴旋转对消光比的影响.     

基于可调偏振度源的PSIM偏振光谱仪线偏振度测量结果定标校正

提出了一种基于可调偏振度源的偏振定标方法,利用方法完成了基于偏振光谱强度调制(PSIM)技术偏振光谱仪的线偏振光偏振度测量结果定标校正。以可调偏振度源输出的不同偏振度的线偏振光作为待测光源,用PSIM偏振光谱仪测量待测光源输出得到原始数据。将原始数据解析处理得到的偏振度谱与待测光源输出的理论偏振度谱进行线性拟合,得到校正系数。利用该校正系数对PSIM偏振光谱仪的测量处理结果进行定标校正。结果表明:在有效测量波段内(500~650nm),定标校正后PSIM偏振光谱仪的线偏振度测量解析精度明显提高,与待测光源输出的标准偏振度值间的最大误差由0.017减小到约为0.003,基于可调偏振度源的偏振定标校正方法具有可行性。     

快速空间测角系统中偏振像差的分析与研究

快速空间测角系统需要在一定的平移范围内均能实现测量功能,这就要求光束在接收单元具有一定的覆盖面积.受器件尺寸所限,选择对入射光束进行扩束,然而非正入射光经过系统会产生偏振态变化,存在偏振像差,引起测量误差.本文通过采用偏振光线追迹的方法,结合电磁场的边界条件,对快速空间测角系统中一定方位及入射角范围内的光束通过偏振棱镜后出射光束的偏振态变化与分布进行了理论研究及仿真分析;并通过搭建实验平台,利用平移接收单元来模拟不同的入射方位及角度变化.根据实验值与仿真结果的对比分析,得出在方位角为0o时,测量误差较小,在方位角为90o时,测量误差最大,且随平移距离(即入射角)的增大,测角误差增大.验证了偏振像差的存在对系统测角带来的影响及理论分析的正确性,并提出了改进措施.所得研o究结果对优化系统结构并进一步提高系统性能具有一定的指导意义.     

Heterodyne Interferometers Using Orthogonally Polarized and Two-Frequency Shifted Light Sources with Super-high Extinction Ratio

This paper describes heterodyne interferometers using orthogonally polarized and two-frequency shifted light sources of two types with super-high extinction ratio to reduce non-linearity of the interferometer due to polarization cross-talk. The acousto-optic modulators are used to shift light frequency. In the first interferometer the light source with Glan-Thomson prisms of very high extinction ratio (50 dB) is used to make the polarization cross-talk very small. In the second interferometer the light source of two-frequency shifted beams with small crossing angle (2.5 rnrad-10 mrad) is used to completely exclude non-linearity of the interferometer due to polarization cross-talk. By measuring the thickness of vacuum evaporation film, it was demonstrated that the interferometers are useful to measure thickness of a thin film in nanometer order.