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1.
应用LAS-2000二次离子质谱表面分析系统作了如下测量:(1)测出HL-1装置的总出气量以及其主要出气组分的出气量百分比和出气峰值温度等参数;(2)对等离子体-表面相互作用进行了SIMS/蒙特卡洛互补分析,测出等离子体边界层中氢气量径向特征长度和氢粒子注入硅片的特征深度,估算出氢通量平均动力温度;(3)对硅收集探针的SIMS/AES分析表明,HL-1等离子体删削层中主要杂质组分为O、C、Ni、Mo和Cr,同时给出原子密度相对百分比;在HL-1装置中用原位蒸钛来吸氧、碳杂质,从而提高了等离子体纯度和品质;(4)定期检测表明,装置的器壁表面污染呈减弱趋势,这说明HL-1真空系统的设计研制及运行维护技术措施等是合适的。 相似文献
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在欧姆放电,超声束流入和多发弹丸注入期间,利用马赫/朗缪尔探针组测量了HL-1M装置刮层和边界层的边缘电场和等离子体旋转;环向马赫数Ma、极向流速度vpol和电场Er的径向分布是分别在超声束注入和多发弹丸注入期间进行测量的。 相似文献
3.
本文结合HL-1M的基本参数,利用准线性的低杂波电流驱动理论和等离子体的电回路方程,研究了在控制等离子体总电流不变情形下欧姆感应和低杂洲入组合驱动电流的问题。结果表明,这一组合驱动方案对HL-1M装置的运行是可行的,其驱动电流分布可以通过发迹低杂流注入功率、波谱形状、等离子体电子温度、密度以及总等离子体电流等加以控制。 相似文献
4.
本文叙述在HL-1M装置上用弯晶谱仪获取Fe的类He离子谱,用谱线的多谱勒加宽测量等离子体的离子温度,得到的等离子体HL-1M装置离子温度为500—800eV。 相似文献
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HL-1M感应与低杂波组合电流驱动研究 总被引:1,自引:1,他引:0
本文结合HL-1M的基本参数,利用准线性的低杂波电流驱动理论和等离子体的电回路方程.研究了在控制等离子体总电流不变情形下欧姆感应和低杂波注入组合驱动电流的问题。结果表明,这一组合驱动方案对HL-1M装置的运行是可行的,其驱动电流分布可以通过改变低杂波注入功率、波谱形状、等离子体电子温度、密度以及总等离子体电流等加以控制。组合驱动的电流分布将优于欧姆驱动的电流分布,并可能抑制诸如锯齿振荡等一些MHD不稳定性。 相似文献
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采用立体探针与二次离子质谱计(SIMS)分析相结合,对HL-1装置刮削层空间的杂质沉积特性和分布规律进行了实验研究。测量了在石墨活动孔栏条件下,立体针表面杂质沉积特性和分布规律进行了实验研究。测量了在石墨活动孔栏条件下,立体探针表面杂质沉积的径向分布,纵向分布,极向分布和H^+剖面分布。并讨论了实验结果。 相似文献
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HL—1M装置等离子体离子温度测量 总被引:3,自引:3,他引:0
张集泉 《核聚变与等离子体物理》1998,18(A07):33-38
在HL-1M托卡马克装置上,利用8通道中性粒子能谱仪测量的等离子体离子温度。在等离子体电流和密变化、激光吹气、弹丸注入,超声分子束注入和低混杂波加热等实验条件下,观测了Ti的变化。 相似文献
8.
本文介绍了用于HL-1和HL-1M装置的抽气孔栏(PL-1,PL-1M),着重于PL模件的工程设计,简要叙述了PLC的制造和在装置上运行的实验结果。 相似文献
9.
本文简要叙述了HL-1M的DC辉光放电清洗技术和放电结果。实验表明,类似HL-1M托卡马克装置的真空室,经过烘烤,Taylor放电和DC放电清洗后,有可能得到高品质的等离子体。 相似文献
10.
应用LAS-2000辐照设备、射频离子源设备及HL-1M装置对等离子体与石墨及其涂层的相互作用进行了系统研究,为进一步优化HL-1M装置原位处理工艺、杂质控制以及HL-2A装置第一壁的选材和第一壁处理、杂质控制等提供依据。 相似文献
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得益于低温技术和超导磁体技术的发展,10T以上无液氦超导磁体技术已经比较成熟.作为提高高温超导材料性能的手段,强磁场技术应用于高温超导材料制备过程中的研究得到了广泛开展.本文介绍强磁场下高温超导材料制备研究的现状、进展及发展趋势. 相似文献
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高速高分辨率圆感应同步器测角系统的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
本文基于新的思路,突破纯开环或闭环的模式,采用总体开环和数字信号处理部分闭环的方案设计了圆感应同步器测角系统.讨论了其工作原理、硬件框架、典型电路分析,及系统在提高运行速度和减小动态误差方面所采取的措施.整个系统结构简单,并具有较高的跟踪速度、测角精度和工作稳定性. 相似文献
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得益于低温技术和超导磁体技术的发展,10T以上无液氦超导磁体技术已经比较成熟.作为提高高温超导材料性能的手段,强磁场技术应用于高温超导材料制备过程中的研究得到了广泛开展.本文介绍强磁场下高温超导材料制备研究的现状、进展及发展趋势. 相似文献
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本文报导用低频扭摆在四种高铬钢和八种高铬镍钢中在高温下观察到的几个内耗峯。在铁素体型的三种高铬钢中(27Cr、25CrTi和20Cr),从高温淬火后都在570℃附近观察到一个内耗峯,用27Cr和20Cr试样求出了这个内耗峯所包含的激活能,为87,000卡/克分子左右。上述三种高铬钢从高温炉冷后,还可以在640℃附近出现一个内耗峯,另一种13Cr试样从高温炉冷后,可以在610℃附近出现一个内耗峯。在奥氏体型的八种高铬镍钢中,都在730℃附近观察到一个内耗峯,用18Cr 18Ni试样求出了这个内耗峯所包含的激活能,为85,000卡/克分子左右。根据初步实验结果,讨论了引起这几个内耗峯的可能原因。 相似文献
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采用高阻抗探针,测量了热电子等离子体的高频扰动,扰动频率与外磁场的关系及爆发区域匠实验观察表明,高频扰动为离子漂移回旋不稳定性。 相似文献