X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶薄带中Si,B,Fe的含量合金薄带中硅硼铁

提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4~0.5%,1.3~4.2%和0.2~0.4%。本方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和ICP-AES的测定值吻合较好。本方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析。     

X射线荧光光谱法测定合金中的磷

采用X射线荧光光谱法测定铁基和镍基合金中磷的含量。选用钨的Mα线和钼的Lα线作为测量重叠干扰系数时的参照线。选用合金系统中不存在的钾和钪元素作为校正元素代替钨和钼,这两个元素实际测量的分别是钨的Mα线和钼的Lα线。分别用只含钼和同时含钼、钨的两套标准样品测定了重叠干扰系数,并制定了分析磷的校准曲线。方法应用于标准样品的测定,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=10)为0.68%。     

X射线荧光光谱法测定合金中钨的含量

采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量。方法中选择钨的Lβ1线为分析线,并选择2θ角在39.50°处作为背景位置。在合金中钽的Lβ2线对钨分析线有重叠干扰,选两套标准样品用基本参数法(FP)测出了干扰系数k,将k值列入仪器的FP工作软件中来消除钽对钨测定的重叠干扰。用所提出的方法分析了钨质量分数在0.054%～11.71%内的5个标准样品,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=7)在0.55%～9.5%之间。     

X射线荧光光谱法测定铀钼合金中钼

建立铀钼合金中钼的X射线荧光光谱测定方法.用硝酸–盐酸混合酸溶解样品,调节样品溶液pH值为1～2,在选定的仪器工作条件下进行测定,采用α校正消除干扰.钼的质量分数在1.0％～16.0％范围内与X荧光强度呈良好的线性关系,线性相关系数为0.9999,检出限为0.039％.样品加标回收率为99％,测定结果的相对标准偏差为0...     

X射线荧光光谱法快速测定钢基中锰元素

应用波长色散X射线荧光光谱法对中低合金钢、电工钢、高锰钢、不锈钢中锰元素进行测定.采用经验系数法校正元素间的增强-吸收效应和光谱重叠干扰,元素检测限为2.1μg/g,线性相关系数大于0.9998.考察了分析方法的精密度和准确度,元素的测定结果与认定值一致,相对标准偏差小于2%.     

X射线荧光光谱法测定不同类型分子筛中氧化物的含量

分子筛是催化裂化催化剂中重要的活性组分.产品中Na2O、Al2O3、SiO2、RE2O3,等元素氧化物的含量将直接影响分子筛的质量和性能.通过对方法准确度和精密度的考察,表明X射线荧光光谱法(XRF)测定分子筛中重要元素氧化物的含量,准确度高,重复性好,是一种高效、快速、能有效指导企业生产的分析方法.     

粉末压片-X荧光光谱法测定过磷酸钙中硫含量

硫是过磷酸钙中重要营养指标之一,为准确快速测定过磷酸钙中硫的含量,试验采用粉末压片-X荧光光谱法,将过磷酸钙试样充分干燥后研磨至粒度小于74 μm,采用硼酸镶边,在压力18 Mpa条件下保压30 s,制成样片。通过在过磷酸钙样品中添加不同质量的纯物质硫酸钙（质量分数范围1.52 %～17.21 %）,经过专用混匀设备混合均匀后,与试样压片相同条件下压制标准样片,作为过磷酸钙中硫的标准样品,建立硫标准曲线,曲线线性相关系数R2为0.9995,采用经验系数法校正干扰,建立了粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法测定过磷酸钙中硫含量的方法, 方法检出限为0.002 %。对3个不同硫含量的过磷酸钙样品采用本实验方法重复测量7次,RSD在1.4 %~3.1 %,方法精密度性好,同时用高温燃烧红外光谱法和电感耦合等离子发射光谱法对比,三者测量结果相对极差小于2.0 %,测量结果无显著性差异。此方法不需要对样品进行熔融或溶解,样品制备简单,数据准确度和稳定性好,分析效率高,适合大批量样品中硫的测定。     

X射线荧光光谱法测定超硬铝合金中成分

叙述了用SRS 300型X射线荧光光谱仪测定超硬铝合金中铜、镁、锌、铁、硅、锰、铬、镍、钛、锆的X射线荧光光谱分析方法。试样用车床加工至表面平整、光滑,采用强度校正模型,由计算机拟合回归曲线。此法测定结果与常规湿法化学法测定结果相符。     

铝合金建材的X射线荧光分析

用高性能飞利浦PW2424型X射线荧光光谱仪,测定铝合金建材中的Si、Fe、Cu、Mn、Mg、Zn、Ti、Cr、Ni等9个化学元素的含量.给出各元素的干扰校正系数和基体效应校正系数.方法准确、灵敏,稳定性好,速度快.     

X射线荧光光谱法测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷

采用波长色散X射线荧光光谱仪测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷和砷。考察了试样表面质量对测量结果的影响,并对黄铜中元素间的吸收增强效应进行了研究。实验发现,吸收效应对黄铜的分析结果有较大影响,需用理论α影响系数进行基体效应校正。采用本法分析了多种黄铜标准样品(普通黄铜、加砷黄铜和特殊黄铜),结果显示,普通黄铜和加砷黄铜的分析结果与标称值相符。文中还给出了方法的实验室内和实验室间的精密度试验结果。     

X-射线荧光光谱法测定锌铝铜合金中的铝、铜、铁、硅、镍、铅和镉

建立了X射线荧光光谱法测定锌铝铜合金ZnAl6Cu1中铝、铜、铁、硅、镍、铅和镉的分析方法。探讨了各元素的分析条件,比较了不同制样方式及不同放置时间对铝强度的影响。在最佳的仪器分析条件下,测定了微量元素的检出限及主、次元素的精密度和准确度。检出限结果表明:各微量元素的检出限均满足标准要求,Cd和Pb元素的定量限稍高。精密度和准确度结果表明,铝、铜、铁元素的测量相对标准偏差在2.1%~5.9%,分析结果与国家标准方法一致。     

X射线荧光光谱法分析镁砂中的主次成分

采用镁砂标准样品作为校准样品,建立了熔融制样X射线荧光光谱法测定镁砂中MgO,Al2O3,SiO2,CaO,P2O5,Fe2O3的方法。采用熔融法为样品片和校准片的制备方法,选择四硼酸锂-偏硼酸锂(67+33)为助熔剂,1.00mL LiBr溶液为脱模剂,熔融温度为1 100℃,熔融时间20min。对镁砂样品测定的相对标准偏差(RSD)小于3%,对不同镁砂标准样品进行测定,方法的测定结果与认证值相吻合。     

X射线荧光光谱法测定铝合金中铜元素的测量不确定度评定

利用X射线荧光光谱法(XRF)对硬铝合金中铜元素进行测定,分析了测量不确定度来源,并对不确定度分量进行评定,经计算得出合成标准不确定度和扩展不确定度。当硬铝合金中铜的质量分数为4.33%时,扩展不确定度为0.17%(k=2)。     

熔融制样-X射线荧光光谱法测定铬铁矿中铬、铁、硫等10种主次量组分

采用混合熔剂、熔融玻璃片制样,以适量的NH₄NO₃为氧化剂、Li₂CO₃为保护剂,有效抑制了硫元素的挥发. 使用ZSX Primus ⅡX射线荧光光谱仪测试了铬铁矿样品中的主量组分(Cr₂O₃、TFe)及8个次量组分(SiO₂、CaO、MgO、Al₂O₃、TiO₂、P₂O₅、MnO、S). 方法快速、简便、准确. 用标准物质试样和不同方法进行验证,分析结果与标准值和化学值相吻合,可有效应用于实际科研与生产工作.     

X射线荧光光谱法测定灰岩中14种主次量元素

采用X射线荧光光谱法对灰岩中的Ca,Mg,Si,K,Na,Fe,Al,Ti,P,S,Mn,Sr,Ba,Cl等14种元素进行同时测定,采用硼酸镶边垫底的粉末压样法,优化了测量条件。对比较轻的元素,采用经验影响系数法校正基体效应,对于较重的元素,采用理论α影响系数法校正基体效应。分析标准参考物质GBW 07132,各元素的精密度(RSD)为0.1%~5.9%,分析标准参考物质GBW 07130,各元素的测定值与标准值相符,该方法对各元素的测定范围宽、速度快。     

X射线荧光光谱法快速测定黑铜中的铜、砷、锑、铋、铅、镍、锌和锡

建立X射线荧光光谱法快速测定黑铜中的铜,砷,锑,铋,铅,镍,锌和锡等多种元素含量的方法。采用自制的黑铜样品作为标准样品建立标准工作曲线。实验确定了样品加工时最佳的铣样速度及谱线重叠干扰的校正方法,并用理论影响系数校正基体干扰。试验结果表明,各元素的工作曲线线性关系较好,线性相关系数均大于0.996。各元素的检出限在17~47μg/g之间。测定结果的相对标准偏差为0.038%~2.73%(n=7)。两个样品的测定结果与标准分析方法的测定结果相符。该方法具有较好的准确度和精密度,分析速度快,能满足炉前快速分析的需要。     

Determination of Te,Bi, Ni,Sb and Au by X-ray fluorescence spectrometry following electroenrichment on a copper cathode

The electrodepositons of Te, Bi, Ni, Sb and Au from aqueous solution of pH = 1 on the cathode surface have been studied for X-ray fluorescence analysis (XRF). A special holder for a copper electrode has been constructed to perform the electrodeposition process on only one side of the electrode. After electrolysis, the copper electrode can be easily removed from the holder; after rinsing it with water and drying it can be analyzed by XRF. The proposed method of sample preparation and preconcentration of Te, Bi, Ni, Sb, Au provides suitable samples which are devoid of the negative and undesirable effects of XRF analysis, such as particle size and matrix effects. The influence of time on the deposition yield has been examined. The method of preconcentration is efficient. The inhomogeneity of the prepared specimens has been studied using internal standard method. The calibration is based on using synthetic standards, certified reference materials and standard addition method. The best results are achieved by the standard addition method. The agreement between results obtained with XRF analysis and certified values is satisfactory and indicates the usefulness of the proposed method for determination of Te, Bi, Ni, Sb and Au in anode slime.