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我国同步辐射小角X光散射装置 总被引:1,自引:0,他引:1
小角X光散射是当X光照射到物质上时发生的在原光束附近小角度范围内的电子相干散射,凡是存在纳米尺度的电子密度不均匀区的物质均会产生小角X光散射现象,因此它是表征纳米、多孔材料结构的理想手段。普通X光源产生的X光强度弱,限制了小角X光散射的应用,采用同步辐射为X光源,则可以大大提高X光强度。目前我国已建立同步辐射小角X光散射站,本文对其装置进行了介绍。 相似文献
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本文分析了同步辐射小角X射线散射的特点与应用、国内外现状及新建北京同步辐射小角X射线散射站的必要性与机遇。 相似文献
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用衰减法和水标样法测量多孔SiO2的小角X光散射绝对强度,并以此计算样品中的空隙体积分数关系。将所得结果与用氮气吸附法得到的结果进行比较,表明了用标样法得到的结果更加接近于氮气吸附法测量得到的结果,因而间接地表明了标样法要比衰减法测得的小角散射绝对强度更加可靠。文章进一步讨论了这两种方法的特点以及误差产生的原因。该实验结果和讨论将有助于进一步加深对这两种绝对强度测试方法的理解,并在实验中选择合适的测量方法。 相似文献
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在北京同步辐射装置上应用同步辐射X射线小角散射技术研究TATB样品微孔状况,分析了微孔结构参数的变化。采用不同制备工艺(机械研磨、化学合成、气流细化、全结晶、粉碎)和不同存放时间的TATB粉末样品共计7份。 相似文献
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X光磁圆二色谱及其应用 总被引:2,自引:1,他引:1
介绍了一种新近发展起来的、以同步辐射技术为基础的磁学测量方法———X光磁圆二色谱.该方法不仅具有元素分辨和空间分辨等突出优点,而且在一些场合下还能分别确定轨道磁矩和自旋磁矩对总磁矩的贡献,为当今非常活跃的磁性薄膜和多层膜研究提供了有力的手段. 相似文献
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采用小角X射线散射(SAXS)方法对Ti-Mo合金氢化物的微观缺陷进行了研究.结果表明,氢化物样品中Mo含量为5at%时,所测定的SAXS强度在高散射角区明显低于其他样品的SAXS强度.氢化物中的晶粒及其内部的亚结构是引起SAXS现象的散射体,而这些亚结构是由合金氢化时引入的大量位错所产生.Mo 含量为5at%合金主要为hcp结构而其他合金为bcc结构,但两种合金氢化后都成为fcc结构的氢化物.据此,认为hcp结构与bcc结构Ti-Mo合金在氢化时氢化物结构相同但引入的位错缺陷特征不同.
关键词:
Ti-Mo合金氢化物
小角X射线散射
微观缺陷 相似文献
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应用小角X射线散射技术(SAXS)对两亲嵌段共聚物聚苯乙烯聚丙烯酸(PS-b-PAA)胶束形貌的温度影响进行了原位表征.SAXS结果表明:随着水含量的增加,粒子尺寸相应增加;对于水含量10%的PS_(3000)-b-PAA_(5000)胶束溶液,发现了明显的SAXS双峰现象;双峰的位置不随着温度的变化而改变,但是peak 1和peak 2的相对强度随着温度发生了减弱和增强的交错变化;相邻的SAXS双峰说明在PS_(3000)-b-PAA_(5000)胶束溶液中最初形成的粒子尺寸并不是均匀的,主要分为尺寸极其相近的两种球形粒子;随着温度的升高,粒径大小不同的两种粒子存在着一种消融和生长的过程,并且保持着一个相同的归一化动态平衡速率. 相似文献