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相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 156 毫秒
1.
主要对装备研制生产各阶段过程中,自然环境试验所起的作用及其具体的应用进行了初步的探讨。在装备研制生产过程中,合理地进行自然环境试验,对全面提高装备的环境适应能力,确保装备在全寿命周期内全天候、多地域的使用,具有十分重要的意义。  相似文献   

2.
通过对电子产品的环境试验和环境应力筛选的分析比较,说明两种试验的不同作用和区别,澄清一些模糊认识;同时根据实践经验,对环境应力筛选中存在的问题,提出意见看法,对提高应力筛选效果有一定的作用。  相似文献   

3.
产品全寿命周期管理中的加速环境试验技术   总被引:3,自引:1,他引:2  
加速环境试验技术已应用于电子、军工、航空、航天等领域内的可靠性工程中。将加速环境试验融入产品的设计、研制和生产中,对于提高产品的可靠性水平,增强其市场竞争能力具有现实意义。  相似文献   

4.
机载通信设备在科研生产过程中需要通过各项环境试验来验证产品的环境适应性。该文首先从国家军用标准入手,主要对机载通信设备在生产过程中的环境应力筛选、质量一致性检验及环境例行试验的定义、试验目的和作用进行分析。在对各类环境试验分析的基础上结合某型机载通信产品生产过程的检验验收实践,提出机载通信产品在生产过程中环境试验的类别及试验项目选择的参考意见。  相似文献   

5.
环境应力筛选试验的实践   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文论述了环境应力筛选试验的实践,论述了环境应力筛选的意义,它与环境试验的区别以及实施环境应力筛选试验如何确定筛选对象,筛选时间,筛选应力,循环次数和无缺陷时间等问题。  相似文献   

6.
本文从若干方面对比分析了可靠性工程领域内环境应力筛选与环境试验的主要区别,并结合工厂实际作了举例说明,澄清了实际工作中存在的一些模糊认识。  相似文献   

7.
王宏  陈晓 《现代雷达》2008,30(4):26-28
可靠性强化试验技术正是一项新型的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比,在产品设计中,使用高加速寿命试验与高加速应力筛选技术,有助于设计出成熟的产品。文中对可靠性强化试验技术进行了简要的介绍,讨论了可靠性强化试验对于加强雷达质量控制的作用,并对如何深入开展可靠性强化试验的应用工作提出了建议。  相似文献   

8.
针对平视显示器产品环境应力筛选,指出了现行方案中存在的问题,提出了改进的具体建议。  相似文献   

9.
介绍了环境应力筛选的原理、方法以及在空空导弹上的应用,重点阐述了定量环境应力筛选的参数选择及分析方法。并以某型空空导弹从研制转入批产过程中,产品可靠性的提高在环境应力筛选中的体现为例,初步提出了导弹环境应力筛选的验收判据。  相似文献   

10.
尹大义 《电讯技术》1993,33(5):36-41
本文论述了环境应力筛选(ESS)的原理及其对提高产品可靠性的作用,并简要介绍了美国三军ESS规范和国家军标GJB1032《电子产品环境应力筛选方法》及国外用于实施ESS的设备情况。  相似文献   

11.
张毅梅 《电讯技术》1997,37(1):54-57
本文介绍了在ST-31雷达生产中运用试验提高产品可靠性的经验和体会,在此基础上对怎样根据实际条件科学运用ESS试验提出了看法和建议。  相似文献   

12.
赵永刚  徐炜 《激光与红外》2000,30(2):111-114
根据 CD- R生产工艺流程 ,阐述各工序的质量检测要素及工艺控制方法 ,简要分析影响盘片质量的主要因素。  相似文献   

13.
随着目前国际集成电路封装测试产业不断向中国转移,更多国际知名公司均希望在中国找到低成本、高品质的解决方案。集成电路测试作为品质把关的重要一环,其成本在整个集成电路产业链中占有较高比重。据统计,目前有很多集成电路的测试成本已高达整个集成电路生产成本的45%以上,因此,测试成本的有效降低能够明显减少集成电路制造成本。昂贵的集成电路测试设备是导致IC量产测试成本偏高的主要因素,需要负责IC量产测试的工程技术人员不断地探索和钻研如何最有效地使用这些测试设备。本文详细地阐述了如何使用乒乓测试模式充分利用设备资源,从而有效降低IC的测试成本。  相似文献   

14.
实例表明,将电磁兼容试验置于气候环境影响试验与机械要求试验之前与之后进行所得的结果存在较大的差异。通过分析认为气候环境影响试验与机械要求试验可能会影响被测设备中的某些材料特性,从而影响设备的电磁兼容性能。因此电磁兼容测试应与其他测试一起形成一个有机的整体,合理安排测试顺序,可以更好地发现产品的质量问题,提高产品的技术优势和市场竞争力。  相似文献   

15.
胡建  张红波 《电子质量》2012,(4):29-30,33
在导弹生产试验中,某型专用集成电路的硅片从管壳座上脱落。对失效样品脱落的形貌和能谱图进行仔细分析确定硅片脱离界面,分析工艺过程找到失效原因,改进硅片表面处理工艺。  相似文献   

16.
介绍了某型雷达在设计中突出“三化”要求,加强环境应力筛选工作,加大重点系统的环境试验力度,充分发挥第三方的监督和指导作用等作法,使该型雷达成功地通过了可靠性鉴定试验。  相似文献   

17.
简要地阐述了PDA控制技术原理及其意义,提出了采用PDA控制技术设计分析ESS试验方法的思路,并结合某电子产品实际情况,详细地介绍了PDA控制技术应用实例。  相似文献   

18.
For digital chips containing functional logic and embedded memories, these are usually tested separately: Scan test is used for testing functional logic; Memory Built-in Self Test (MBIST) is run for embedded memories. A new approach is proposed to exercise scan test and MBIST in parallel in order to reduce production test time and improve stress tests. It requires only small additional logic and allows to simultaneously run both test modes. In general, the approach can be used to control simultaneously scan test and any Built-in Self Test (BIST) providing a simple pass/fail result.  相似文献   

19.
电子产品环境应力筛选效果评估与应用初探   总被引:3,自引:2,他引:1  
通过对环境应力筛选概念的分析,描述了一种基于CDE模型的方法。对某电子产品的小子样筛选效果进行定量评估的应用。为常规的环境应力筛选的剪裁和量化提供了一条探索的途径。  相似文献   

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