X—射线荧光分析散射幂函数法原理的提出和应用──Ⅰ．RhKα相干散射平方法

本文报导了6-40号元素对能量为20leV的X-射线的质量吸收和质量相干散射系数之间呈二次幂函数关系，并据此提出了X-射线荧光分析新方法-RhKα相干散射平方法。经国家标准物质实验证该原理是成立的，且比传统的内标法优越，该法已用于地质样品中微量元素的测定。     

在现代X-射线荧光光谱仪中用公共背景法校正背景和基体效应

在现代顺序式X-射线荧光光谱仪中大多数计算机程序都不具备公共背景法校正背景和基体效应的功能,同时由于厂家技术封锁用户不能对软件进行修改。本文通过计算公式的推导和数学变换、计算过程的合并与简化、以及从光谱仪和计算机接口向程序输入数据等措施,从而解决了上述问题。为便于不同型号的仪器采用公共背景法,文中提出了四种具体方案。     

X-射线荧光光谱背景和基体效应综合校正公式

本文根据散射内标和公共背景法的有关理论,导出了两个X-射线荧光光谱分析校正方程,将背景、基体吸收和重叠干扰校正,以及校正曲线定量分析等多种运算合并进行,因而应用起来十分简便,两个方程在数学形式上与目前使用的X-射线光谱仪计算机程序中通用的数学模型相似,便于推广应用。     

定量X-射线荧光光谱分析中用于计算理论α系数的计算机程序DRALPHA

在修改后的基本参数法程序NRLXRF基础上本文所研制的计算机程序DRALPHA可用于计算Lachance-Traill或Claisse-Quintin方程中的理论α系数以校正X-射线荧光定量分析中元素间的吸收-增强效应。     

手持式X-射线荧光光谱仪在金属材料检测中的应用

系统评述手持式X-射线荧光光谱仪的发展过程,详细比较、分析其辐射情况,探讨金属材料状态对检测的影响。综合基本参数法、自动选择模式测试金属材料的数据,提取检测结果,与认定值或其他方法的分析结果基本吻合。     

直接压片X-射线荧光光谱法在赤泥分析中的应用

对采用直接压片X射线荧光光谱法测定氧化铝生产中赤泥的各元素含量进行了研究。采用TL 数学模型校正,测定范围分别为Al2O3:10.00%～36 50%,SiO2:4.50%～10.50%,Fe2O3:25.00%～45.00%,CaO:12.50%～26 50%,Na2O:1.00%～5.00%,测定结果的RSD分别为0 22%、0.19%、0 38%、0.16%、0 33%,可用于控制分析。     

X-射线荧光光谱分析技术的发展

归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射线荧光光谱仪的发展趋势———手持式、偏振、微束分析等进行了评述,并对其技术的发展方向进行了展望。     

X-射线荧光光谱分析中谱线重迭干扰的校正方法——线性规划法

本文叙述了用线性规划法校正稀土元素谱线重迭的方法,并对有关参数进行了讨论。本法成功地应用于EuLβ1和DyLa1、HoLβ1和LuLa1、HoLa1和GdLβ1的谱线重迭的校正。     

粉末压片X射线荧光光谱法与红外吸收光谱法联合测定萤石中各组分

采用粉末直接压片法,用X-射线荧光光谱法[1]测得萤石中Ca总量,Fe2O3,P,SiO2,K2O的含量,再用红外吸收光谱法测得样品中碳含量,换算得到CaCO3中的钙含量,进一步求得萤石中CaF2含量。此方法简便、准确。用9个标准物质制定了工作曲线,并进行了自测,另用该系列中5号样品(GBW07254)进行准确度和精密度测试,结果令人满意。     

RIGAKU理论基体校正系数的修正计算及其在建材非金属矿产地质样品X-射线荧光光谱分析中的应用

本文认为RIGAKU理论基体校正系数在熔融样品中对基体效应校正效果不佳的原因是在计算中没有考虑到烧失量的影响。为此,提出了修正计算方法和计算了新的校正系数;并在建材非金属矿产地质样品XRF分析中应用,提高了分析数据的准确度,获得了满意的结果。     

石墨样品中杂质元素的X-射线荧光光谱法直接测定

本文介绍X-射线荧光光谱分析石墨中15个杂质元素的方法。首次提出用化探标样按不同比例稀释在石墨粉中研制标准样品。以纤维素作粘结剂直接粉末压片,本法适用于石墨精矿和石墨产品的分析。     

X-射线荧光光谱法分析硅质耐火材料的主次成分

采用硅石标准样品作为校准样品,建立了熔融制样X-射线荧光光谱法测定硅质耐火材料中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、P2O5、Fe2O3、TiO2、K2O、Na2O的方法.采用熔融法为样品片和校准片的制备方法,选择四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比为67∶33)为助熔剂,1.00mL LiBr溶液为脱模剂,熔融温度1100℃...     

X-射线荧光光谱分析中偏最小二乘回归技术与基本参数法的研究

将偏最小二乘回归技术(PLS)与X-射线荧光分析中的基本参数法(FP)相结合,编制PLSFP软件,运用熔样技术,可以定量测定地质岩石样品中的十三个主,次量元素,并使准确度提高,模型预测能力增强。模型选择和最佳维数的确定方法是成功的关键。PLSFP软件采用结构化编程,由标准FORTRAN 77语言写成,可在UNIX,XENIX和DOS操作系统下运行。     

应用理论α系数校正X射线荧光光谱法分析锰矿时的基体效应

在锰矿的X-射线荧光光谱分析中应用理论a系数法对其基体效应作了校正,从而使锰矿中主要及次要组分(包括Mn、Fe、MgO、Al2>O3>、SiO2>、P、S、K2>O、CaO、TiO2>、NiO、Cu、Zn及BaO等14项)的测定结果与所分析的标准物质的证书值相符.锰矿样品用四硼酸锂熔融,所得熔片用于X-射线荧光光谱分析.此外还发现,由直接灼烧锰矿试样所测得的灼烧损失值与由锰矿与四硼酸锂一起灼烧所测得的值不同且常小于后者.基于这一事实,提出了由灼烧锰矿与四硼酸锂混合物的条件下测定灼烧损失的方法,测得制备锰标准曲线的标准偏差为0.08%;测定一种矿样中锰量时其结果的相对标准偏差(n=11)为0.19%.     

理论α系数-X射线荧光光谱法分析水系沉积物中主次量元素

本文将NBSGSC程序移植到长城0520计算机中,求得一组COLA模式的a系数并输入到3080E3型XRF光谱仪计算机中,作联机分析,只需10个标样即可得到满意的结果,可与用50个标样的经验系数法相媲美。     

田口方法在X射线荧光分析时曲线校正中的应用

根据田口玄一博士在测量工程学中提出的信噪比概念,计算了X荧光分析中某一标准曲线极限信噪比。当日常测试中系统的信噪比大于极限值时,不需要对曲线进行校正;当日常测试中系统的信噪比小于极限值时,应对曲线进行校正．以保证该测量系统工作的稳定性。     

X-射线荧光光谱法测定钛铁中的硅、锰、磷、铝

介绍用X-射线荧光光谱仪测定钛铁中Si、Mn、P、Al含量的方法,通过试验确定了合适的研磨时间、压力和保压时间,用压片法制样,建立了各元素的工作曲线,各元素的测定范围分别为Si3.00%～6.00%,Mn1.00%～3.00%,P0.030%～0.070%,Al5.00%～9.00%。通过强度测量得到测定Si、Mn、P、Al的相对标准偏差分别为0.074%、0.308%、0.383%、0.040%,精密度满足测试要求。将该方法测定结果与化学法比对,准确度满足国家标准方法分析误差的要求。     

X-射线荧光光谱法测定锌铝铜合金中的铝、铜、铁、硅、镍、铅和镉

建立了X射线荧光光谱法测定锌铝铜合金ZnAl6Cu1中铝、铜、铁、硅、镍、铅和镉的分析方法。探讨了各元素的分析条件,比较了不同制样方式及不同放置时间对铝强度的影响。在最佳的仪器分析条件下,测定了微量元素的检出限及主、次元素的精密度和准确度。检出限结果表明:各微量元素的检出限均满足标准要求,Cd和Pb元素的定量限稍高。精密度和准确度结果表明,铝、铜、铁元素的测量相对标准偏差在2.1%~5.9%,分析结果与国家标准方法一致。     

X-射线荧光光谱成型滤纸片法测定原油中的钒、镍、锰和铜

本文介绍了一个以有机金属标准试剂配制标准样品,成型滤纸片作为标样与试样的支撑材料,点滴法制备样片,用透空照射法直接测定原油中V、Ni、Mn和Cu的X-射线荧光光谱法。方法检出限低,制样与测量精度小于6％,标准加入回收率较好,具有简单、快速、实用的特点。