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针对抑制电磁干扰和降压用金属化薄膜电容器工作一段时间后容量不正常衰减的问题,通过样品解剖和理论分析,收集不同试验条件下的数据,发现金属化薄膜层间空气和封装方式导致容量不正常衰减.将热聚合温度从85℃提高到120℃,选用高温环氧树脂封装,可使所制金属化薄膜电容器在使用过程中电容量衰减小于1%,保证了电子产品在寿命周期内的... 相似文献
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本文扼要阐述了CBBFJ型金属化聚丙烯膜交流电容交流声产生的根源,深入分析了其形成机理,并探讨了有效的解决途径。 相似文献
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金属化聚丙烯电容器在脉冲电路中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
金属化聚丙烯电容器采用无感式卷绕,电感量比一般式卷绕箔式电容器小得多,在接入电路的瞬间,将受到比同规格箔式电容器更大的电流冲击。而金属化电容器极板为蒸镀的金属层,其厚度约为铝箔的1%,端部以喷金颗粒在压力下与极板接触,此接触电阻较大,在大电流冲击下极易受到损伤而使电容器失效。因此,金属化聚丙烯电容器,一直被认为不适宜用于有频繁大电流冲击,特别是大功率的场合,如脉冲电路中。对可能出现大冲击电流情况的电容器,为保证电容器正常运行,在标准中还对出现大电流冲击的峰值、次数有严格规定。例如GB12747《低压自愈式并联电容器… 相似文献
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阐述了CBBFJ型金属化聚丙烯烯膜交流电容器交流声产生的根源,深入分析了其形成机理,并探讨了有效的解决途径。 相似文献
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三、新一代金属化安全膜防爆电容器的寿命 近年来国内不少电容器生产厂家生产了金属化安全膜防爆电容器,由于个别厂家因材料质量问题或工艺缺陷使产品存在一定的质量问题。大家担心它的寿命是否要比一般普通金属化膜电容器要短些?实际不然,只要设计合理正确、材料合格、工艺正确同样能生产出高可靠、长寿命的电容器来。 我公司生产的CBB65D型金属化安全膜防爆电容器被多家公司作了认定试验,并大量上机使用。从认定报告中的耐久性试验结果看,新一代金属化安全膜防爆电容器在上限温度及1.25Vn电压下电容量随时间的变化是十分缓慢的,变化量都小于CB3667-1997的指标。 相似文献
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金属化有机薄膜电容,电性能优良,且有良好的自愈性,与其它类型电容器相比较其可靠性较高,被广泛地用于对可靠性要求较高的电子设备中.因金属化有机薄膜在电容器连续发生自愈击穿的过程中,在电弧高温作用下,自愈点周围的有机薄膜局部软化,使电性能急剧下降,甚至使多层介 相似文献
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低噪声系列金属化聚丙烯交流电容器可用作电子设备用交流和脉冲电容器、交流电动机和放电灯用电容器、并联电容器和电热电容器。额定电压:AC 0.1~2.0 kV;额定频率:50~2 500 Hz;标称电容量:0.1~1 000 霧;相应采用多种不同形式的内部和外部结构。采用电容器低噪声技术设计、生产和管理。电容器在1.5~2倍额定电压下,基本上无放电声及自愈声,纯交流噪声声压级为22~40 dB(A),能满足不同使用环境的“静音”要求。耐峰值电流、耐热带气候、安全性、耐久性等均较现有技术显著提高。 相似文献
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采用新型耐高温金属化聚丙烯膜材料作为介质和电极,采用高温绝缘环氧树脂灌封料进行封装,采用加严的制作工艺,设计出耐高温(上限类别温度为125℃)的金属化聚丙烯膜介质交流脉冲电容器,扩展了聚丙烯膜电容器的应用范围。 相似文献
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本文介绍了研制小型精密金属化聚丙烯电容器的经过、产品的结构、基本性能、关键问题的处理和产品的性能试验。并指出该品在通信设备和精密仪器中的应用前景。该品已于1990年获国家专利。 相似文献
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通过金属化聚丙烯电容器的失效机理分析,提出了相应的对策,以提高该类产品的可靠性。对于该类产品的设计、制造和使用具有参考价值。 相似文献
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在GB 3 667-1997《交流电动机电容器》标准中对绝缘电阻无专项要求。通过对电动机用CBB型金属化聚丙烯薄膜交流电容器的试验分析认为 :电容器生产企业有必要对电容器绝缘电阻进行检测 ,以提高电容器性能。 相似文献
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简要介绍了金属化膜分切设备研发的市场需求、技术关键、主要技术指标以及与先进技术水平的比较,通过对其使用情况的调查和了解,分析了该项目所产生的经济和社会效益,可望对电容器有机材料行业的发展起到一定的促进作用。 相似文献
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以X2类MKP型金属化聚丙烯薄膜电容器为例分析了影响该类电容器tgd 的主要因素。指出薄膜的方阻大小、芯子的错边、喷金粒子的大小、喷金前芯子端面上的灰尘是导致电容器芯子在经过赋能、成品耐电压试验、脉冲电压试验后tgd 变大的主要原因。在这类电容器制造过程中应严格控制这些因素。 相似文献
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S校正电容器损耗测试频率分析 总被引:1,自引:1,他引:0
通过试验和分析说明彩电用S校正电容器tgδ的测试频率为1kHz是不合适的,应选用更高一些的频率。当选用10kHz测试,tgδ控制在40×10-4以下比较合适。 相似文献
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以X2类MKP型金属化聚丙烯薄膜电容器为例分析了影响该类电容器tg■的主要因素。指出薄膜的方阻大小、芯子的错边、喷金粒子的大小、喷金前芯子端面上的灰尘是导致电容器芯子在经过赋能、成品耐电压试验、脉冲电压试验后tg■变大的主要原因。在这类电容器制造过程中应严格控制这些因素。 相似文献