ICP—AES半智能直接测定稀土氧化物

本文报道了一种用ＩＣＰ－ＡＥＳ直接测定稀土氧化物的半智能方法，稀土基体对某一稀土分析谱线的光谱干扰补预先扫描并存于谱图集中，在实际测定中，相应的干扰谱图被调用，参加扣除干扰谱线影响的校正计算。结果表明该法令人满意。     

ICP—AES法测定氧化铕中14种数量稀土杂质

采用ＩＣＰ－ＡＥＳ单道扫描光谱仪详细考察了十四种被测稀土杂质元素的４７条灵敏分析线的谱线轮廓及基体Ｅｕ的背景谱线轮廓，从而选定基体干扰小，灵敏度高的分析线及扣除背景的合适位置，试验了酸度，载气流量，观测高度，射频发生器功率等对信号强度和基体干扰程度的影响，采用基体匹配法校正基体测定的影响，建立了氧化铕中１４种稀土杂质的直接测定法，已用于出口产品的分析和标准试样的定值测定，得到了满意的结果。     

硅铝合金中稀土及非稀土元素的ICP—AES法测定

由于稀土元素的化学性质极为相近,通常采用高分辨率的发射光谱法分析。近年来ICP-AES在稀土分析中得到广泛应用。本文在前人工作的基础上,采用ICP-AES测定了硅-铝合金中稀土元素La、Ce、Pr、Nd、Y以及非稀土元素Si、Mn、Mg、Cu、Zn、Fe、Ti等的含量。     

ICP－AES半智能直接测定稀土氧化物

本文报道了一种用ＩＣＰ－ＡＥＳ直接测定稀土氧化物的半智能方法，稀土基体对某一稀土分析谱线的光谱干扰被预先扫描并存于谱图集中。在实际测定中，相应的干扰谱图被调用，参加扣除干扰谱线影响的校正计算。结果表明该法令人满意。     

ICP—AES法测定化探样品中8种元素

本法用HF+HClO_4+HNO_3混合酸溶样,样品溶后不去溶、不分离,清液直接引入ICP光源摄谱。标液中加入模拟基体元素与样品溶液匹配来消除分析误差。检测限和精度均能满足部颁化探分析要求。     

ICP—AES法直接测定纯氧化钆中十四个稀土杂质

试验采用色散率较小的国产等离子体光谱仪直接测定纯氧化钆中14个微量稀土杂质。用正交设计对ICP工作参数进行了最优化选择;研究了基体效应、共存元素干扰及基体浓度对元素的固体检出限的影响;用经验系数法对受干扰的元素进行实验校正。     

ICP—AES法直接测定富钇稀土中钇量

采用ＩＣＰＳ－１０００Ⅱ型单道扫描光谱仪直接测定南方离子型稀土矿料中的Ｙ量，其Ｙ含量为３０％以上。采用正交设计试验对仪器有关工作条件进行优化，研究了共存稀土元素和非稀土元素的光谱干扰，酸度影响加料回收率为９６．５％￣９９．２％。不同方法进行对照，结果相符。     

ICP—AES法测定长石中杂质元素

长石作为陶瓷工业生产的主要原料,它的主要成分是二氧化硅,其杂质含量不等,但杂质的存在将影响产品的质量。目前,长石中铁、铝、钙、镁、钛的测定没有国家标准,所采用的方法均为化学法,较繁琐。JIS M 8853-76方法中,测定铝、铁、钛方法需进行分离测定,步骤较复杂,ICP-AES法同时测定长石中铁、铝、钙、镁、钛元素,未见报道。本文通过试验,提出了用ICPA—AES同时测定长石中铁、铝、     

ICP－AES法测定氧化铕中14种数量稀土杂质

采用ＩＣＰ－ＡＥＳ单道扫描光谱仪详细考察了十四种被测稀土杂质元素的４７条灵敏分析线的谱线轮廓及基体Ｅｕ的背景谱线轮廓，从而选定基体干扰小，灵敏度高的分析线及扣除背景的合适位置；试验了酸度，载气流量，观测高度，射频发生器功率等对信号强度和基体干扰程度的影响，采用基体匹配法校正基体对测定的影响，建立了氧化铕中１４种稀土杂质的直接测定法。已用于出口产品的分析和标准试样的定值测定，得到了满意的结果。     

离子交换—溶剂萃取ICP—AES法测定红泥中的钪

采用偏硼酸锂熔样,试液通过离子交换树脂用浓度为２ｍｏｌ／Ｌ的盐酸可将主量元素（铁,铝,钙,硅钛,钠）和微量元素（镍,锰,铬,钒）洗脱,用浓度为６ｍｏｌ／Ｌ的盐酸定量洗脱钪,钇和镧系元素。用萃取剂：磷酸二（２－乙基己基）酯溶液能将钪选择定量地萃取到有机相中,钇和镧系元素仍留在水相中,用ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定钪,光谱干扰都可排除,检出限１０ｎｇ／ｇ,回收率为９８％。     

仲钨酸铵中17种杂质元素的ICP—AES法测定

钨有丰富的光谱线,在仲钨酸铵中各种杂质含量通常为0.0x～10μg·g~(-1)范围。由于钨对许多元素都存在不同程度的光谱干扰,包括背景干扰和谱线重迭,或非光谱干扰,其干扰综合量大于杂质本身含量,所以不分离钨很难准确测定其含量。文献[1]曾用离子交换分离富集钨酸钠中钙、镁,然后用ICP-AES法测定。测定高含量钨基体样品中多种杂质尚未见报道。本文研究用氨水-过氧化氢分解仲钨酸铵,以钨酸形式沉淀钨与其它元素分离,然后用ICP-AES法测定其中17种杂质,方法分离效果好、快速、准确,加标回收率为95％～108％。 1 试验部分 1.1 仪器与试剂 JY70P Ⅱ(法国):高压4.1kV,阳流400mA;栅流170mA;冷却气13L·min~(-1),雾化气0.3L·min~(-1),保护气0.1L·min~(-1)(测K、Na、Li用0.6L·min~(-1)),溶液提升量1.4ml·min~(-1);观察高度14mm;积分时间20s。     

ICP—AES法测定生铁中硅锰磷的研究

通过正交试验选择出最佳溶样条件,用电感耦合等离子体发射光谱（ICP－AES）法测定生铁中硅,锰,磷,方法简便可靠,具有良好的精密度和准确性,相对标准偏差不大于3．8％。