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原子吸收光谱仪七种元素吸收谱图的研究 总被引:5,自引:0,他引:5
原子吸收光谱分析法具有许多优越性,但其线性范围较窄。各元素的线性浓度范围,国内外仪器厂及有关专著均未给出,这给我们的分析工作带来诸多不利。为此,作者对7种元素的原子吸收谱图进行了分析研究,分别找出了7种元素在4种仪器工作条件下的浓度线性区。对减少样品前处理过程中的盲目性以及提高分析数据的准确性具有重要意义。 相似文献
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文中给出了计算服从Bose-Einstein多原子体系共振荧光的方法。因为满足Bose-Einstein统计,这多 原子体系的波函数应具有排列对称。文中还较详细地讨论了一些有关问题。 相似文献
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火焰原子吸收分析中铁对铱干扰的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
本文研究了铁在盐酸,硝酸和硫酸介质中对铱的干扰规律。无论在哪一种介质中,铁对铱的干扰都是与浓度有关的化学干扰,在盐酸介质中表现为降感作用,在硫酸介质中表现为增感作用,在硝酸介质中,少量铁对铱的吸光度有抑制作用,随着铁浓度的增加,则表现为增感作用。硫酸铜的硫酸镉的混合溶液可消除铁对铱的干扰,本文还探讨了铁对铱的干扰机理。 相似文献
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火焰原子吸收分析中表面活性剂的增感和抑制干扰作用的机理研究 总被引:9,自引:0,他引:9
证实和补充了文献[1]建立的FAAS分析中表面活性剂的增感机理模型,并对FAAS分析中表面活性剂抑制共存元素干扰的作用和机理作了探讨。表面活性剂能抑制共存元素干扰的主要原因是其胶团能和被测元素的离子或干扰离子形成胶团化物;表面活性剂在火焰中中的不完全燃烧使火焰气体还原性增强,温度升高也是其抑制干扰的因素之一。 相似文献
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本文在Hartree-Fock近似下,导出了多电子原子的体系能与轨道能之关系,对常见教材中最低能量原理的表述,作了进一步分析。 相似文献
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采用移动极差统计合并技术来监控ICP-AES测量系统的不确定度 总被引:2,自引:0,他引:2
采用ICP AES(电感耦合等离子体 原子发射光谱法 )测定金属硅中铁杂质含量进行不确定度评估时 ,提出了平均移动极差 (MR)合并统计动态监控技术。研究认为 ,采用该技术来进行ICP AES测量系统的不确定度评估 ,其贡献量分别是由控制样品 (QC)和线性拟合两部分合成。这一结论的得出能最大限度合成各种变异因素的影响 ,避免了相关性的复杂计算 ,有利于ICP AES测量系统的不确定度评估 相似文献
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FAAS法测定饮料中钙的质量控制方法 总被引:2,自引:0,他引:2
本文在应用FAAS法测定饮料中钙的实验过程中,采用X-S控制图和P-SP控制图,对检测过程全面地进行了质量控制。同时采用了平行双样相对偏差表,监控实验过程的精密度,收到了令人满意的结果。较好的解决了用FAAS法测定常量元素钙的质量控制方法,测定值与文献报导值相符。 相似文献
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针对环境模拟试验温度控制系统中被控对象存在的非线性、时滞等特点,本文采用区间限幅PID控制算法和模糊PID控制算法对传统控制方法进行了改进。首先为了解决模拟量三通粗调阀调节缓慢的缺点,建立了区间限幅PID控制算法的控制规则表,并将其在PLC中实现。其次提出用模糊PID控制算法来解决电加热器的非线性、大时滞性问题,并结合实际控制经验建立了模糊控制规则表,然后将模糊PID控制算法在PLC中进行实现。最后将限幅PID和模糊PID控制算法应用于某大型环境模拟试验控制系统,实验结果表明利用改进算法对温度控制具有良好的稳定性及精确度。 相似文献
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探讨了分光光度法测定吸收液中二氧化氮,采用盲样与已知标准样品进行比对,结果表明,该法符合质量控制要求,并对可能影响质控结果的因素进行了讨论。 相似文献
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近红外光谱分析技术在水果品质无损检测上的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
近红外光谱分析技术具有快速、非破坏性、低成本及同时测定多种成分等特点,在很多领域得到广泛应用。本文简介了近红外光谱技术的检测原理,指出其检测优点和不足。综述了国内外将近红外光谱技术应用于水果品质无损检测方面的研究进展,并对利用近红外光谱技术进行水果品质无损检测的研究前景进行了展望。 相似文献
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为了优化高动态范围成像系统的设计,完善地评价系统性能,将信息论应用于高动态范围成像系统中,把高动态范围成像系统看作通信系统,采用端到端的互信息量来评价高动态范围成像系统的成像质量.在COMS采样成像模型的基础上引入空间光调制器反射式硅基液晶的影响,建立了基于互信息的高动态范围成像系统数学模型.利用该模型分析了反射式硅基液晶与CMOS阵列像素数比、像素开口率、相对平移、相对旋转对系统互信息量的影响及造成系统成像质量下降的原因.通过仿真计算,分别得到了像素数比例、像素开口率大小、相对平移量、相对旋转角度与互信息量的相互关系曲线,并定量分析了这些因素变化对系统互信息量的影响程度.仿真结果表明反射式硅基液晶和COMS阵列的最佳匹配条件是:反射式硅基液晶和CMOS像素的占空比尽可能大,CMOS像素尺寸尽可能小,避免相对平移和相对旋转,反射式硅基液晶像素数和CMOS像素数之比为1:1. 相似文献
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为了满足新型陶瓷膜中试流程各操作参数处于最优值,在分析陶瓷膜中试流程结构与工作原理的基础上,分别对控制系统总体方案和系统软硬件展开设计。提出采用三回路专家PID控制算法,实现对压差、流量的精确控制。系统由PLC为控制器,触摸屏为上位机,压力变送器、流量变送器及温度变送器为反馈单元,电动调节阀为执行机构等部分组成。运行结果表明,方案合理可行,保证了被控量的跟踪精度。 相似文献