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相似文献
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1.
本文探讨了用XRF法分析不锈钢时,用个别交叉项系数校正Cr,Fe,Ni之间的交叉效应,从而有效地修正了它们之间的吸收-增强效应,使分析结果得到改善。最大误差不超过0.5%,与C-Q方程相比,该法计算简便,具灵活性和实用性,可推广使用。  相似文献   

2.
X射线荧光光谱分析   总被引:5,自引:0,他引:5  
吉昂 《分析试验室》1991,10(4):133-142
本文是《分析试验室》定期评述中“X射线荧光光谱分析”课题的第三篇评述文章。它收集了国内学者在国内外刊物和专业会议上发表的268篇文章(其中在刊物上发表的153篇),时间基本上限于1988年6月至1990年6月。评述了在此期间我国X射线荧光光谱概况及进展。内容有仪器、进口仪器性能扩充、定量分析、定性和半定量分析、XRF在标准物质研制中的应用及状态分析和解谱程序等六个方面。关于应用方面放在定量分析方法的评述中予以论述。  相似文献   

3.
X射线荧光与粒子激发X射线光谱分析   总被引:4,自引:0,他引:4  
本文是《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第7篇,简述了1996年7月至1998年6月国内X射线荧光光谱分析技术发展的概况,从X射线荧光光谱仪的研制与改造、特殊激发方式的研究与应用、化学计量学与数据处理方法研究、化学态分析、标准物质与样品制备、测定方法研究与应用6个方面评述了国内X射线荧光与粒子激发X射线光谱分析进展。共收录国内学者论文及相关文集143篇。  相似文献   

4.
5.
X—射线荧光光谱背景和基体效益综合校正公式   总被引:3,自引:2,他引:1  
包生祥 《分析化学》1991,19(6):690-693
  相似文献   

6.
以北京钢铁研究院研制的GSB 03-2028系列不锈钢标准物质作为光谱标样,采用基本参数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱测定不锈钢中铬元素的方法.用该方法对标准样品进行分析,分析结果和化学法分析值相吻合,10次制样测量,测定结果的相对标准偏差约为0.14%.  相似文献   

7.
X射线荧光光谱分析   总被引:5,自引:0,他引:5  
吉昂 《分析试验室》1993,12(3):70-79,109
  相似文献   

8.
CHF301是本公司烧结焊剂产品的主要品种之一,用户均要求提供其化学成分的准确值。由于我国只有熔炼焊剂的化学分析方法,所以烧结焊剂的化学分析方法只能参照熔炼焊剂的化学分析方法执行。存在的问题是分析周期长、操作繁杂、成本高。本文提出采用粉末直接压片法制成圆片样,用X射线荧光光谱分析,通过基体校正等手段,实现了CHF301中11种组分的分析,具有快速、准确、简便、成本低等优点。  相似文献   

9.
X射线荧光光谱分析   总被引:7,自引:0,他引:7  
吉昂  卓尚军 《分析试验室》2001,20(4):103-108
作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇,本文收集国内学者在1998年7月至2000年6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的129篇论文,并对此期间对我国X射线荧光光谱分析的概况、发展和国际上的地位进行了讲述,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射X射线荧光光谱、同步辐射光源X射线荧光光谱、粒子激发X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。  相似文献   

10.
X射线荧光光谱分析   总被引:8,自引:0,他引:8  
卓尚军  吉昂 《分析试验室》2003,22(3):102-108
评述了我国在2000年7月-2002年6月间X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。  相似文献   

11.
不锈钢的 X射线荧光光谱分析   总被引:6,自引:0,他引:6  
用高性能飞利浦PW2400X射线荧光光谱仪,测定不锈钢中Al、Si、P、S、Ti、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、As、Mo、Sn、W、Fe15个元素。给出了各元素的干扰校正系数和基体效应校正系数。方法准确、灵敏、稳定性好、速度快。  相似文献   

12.
一种新的基体校正方法在Mn基合金XRF定量分析中的应用   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用谭秉和等人提出的多元素理论影响系数单标样定标的数学校正法及基本参数法对Mn基合金进行了分析,并对新方法进行了检验,结果良好。  相似文献   

13.
成像X射线光电子能谱定量分析研究   总被引:7,自引:0,他引:7  
刘芬  邱丽美  赵良仲 《分析化学》2003,31(9):1082-1084
探索了直接用实验测得的XPS图像强度来做元素或化学态相对定量分析的可能性。以AgCl和Na2S2O3样品为例,实验结果表明:XPS图像强度与成像时间有良好的线性关系,根据图像强度对两种元素或化学态进行相对定量是可能的。  相似文献   

14.
X-射线荧光光谱测定氧化铍中杂质元素   总被引:1,自引:0,他引:1  
拟定了BeO中12种痕量杂质元素的X-射线荧光光谱测定方法,采用光谱纯试剂人工合成校准标样,粉末压块法制备分析样片。考虑到BeO对X射线的透明性,在样片与样品盒支架之间垫置钼片消除试样盒发射线的干扰并产生附加激发以提高灵敏度。本文分析结果与等离子民发射和原子吸收光谱对照相吻合。  相似文献   

15.
钐—钴磁粉中钐,钴含量的X—射线荧光光谱分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
卜赛斌 《分析化学》1996,24(7):841-843
  相似文献   

16.
针对多种类不锈钢多元素成分解析问题,应用X射线荧光光谱分析软件UniQuant,采用扩展基本参数法对多元不锈钢、双相不锈钢进行光谱干扰校正和基体校正,重新设定和优化多元不锈钢基体元素的测试条件,计算背景因子、杂质因子、谱线灵敏度系数和光谱重叠系数,测定Si、Mn、S、P、Ni、Cr、Cu、Mo、V、Al、Ti、Nb、Co、Ta、Fe的相对标准偏差在0.04%~3.8%,Ca、Zr、W、As、Sb、Sn的相对标准偏差在5.4%~20.3%,未知样品检测值与认定值比对结果相当理想,Ni、Cr的平均偏差小于0.05%,可以用很少标准样品实现各类型不锈钢多元素成分准确检测,检测范围宽,适用性好。  相似文献   

17.
岩石样品中主次微量元素的X—射线荧光光谱测定   总被引:2,自引:0,他引:2  
罗丽  包生祥 《分析化学》1998,26(9):1125-1128
利用日本病理学3063型X-射线荧光光谱拟定了岩石中多元素测定方法,采用国家一级标准参照物质为难标准,用适应原子序数范围宽的散射幂函数法校正基体效应,本法获得了低的检出限,高的精密度和准确度。  相似文献   

18.
19.
包生祥 《分析化学》1995,23(5):522-524
本文提出了低温蒸干和炭化制样X-射线荧光分析甜饮料中16种微量元素的方法,试样在电热板上经低温蒸干,于马旨炉中300℃炭化30min,在液压样品成形机上压制成样片进行测定,所测元素不需用任何基体校正,由微机从校正曲线查得含量,榈分析结果与ICP-AES和AAS法相吻合。  相似文献   

20.
田口方法在X射线荧光分析时曲线校正中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
根据田口玄一博士在测量工程学中提出的信噪比概念,计算了X荧光分析中某一标准曲线极限信噪比。当日常测试中系统的信噪比大于极限值时,不需要对曲线进行校正;当日常测试中系统的信噪比小于极限值时,应对曲线进行校正.以保证该测量系统工作的稳定性。  相似文献   

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