含轻元素二元合金成分的无标样X光能谱定量分析

本文对利用试样中不同元素X光强度相对比值分析成分的无标样定量分析方法提出了改进。首先对电子散射的“完全扩散”模型进行适当的修正和简化,得到标识X光的台阶状深度分布曲线,从而得到试样成分和标识X光强度的定量关系。对Cu-Si,FeS₂,NaCl和GaAs等二元合金的成分分析得到比较满意的结果。本文比较了用此法和Russ法(利用计算得到的纯元素标识X光强度因子并且经ZAF修正分析成分)得到的结果,表明用我们的方法分析的结果有所改善,计算程序也更简单。 关键词：     

二元化合物成分的X射线能谱无标样定量分析

常规的X射线能谱无标样定量分析采用Russ法。最近吴自勤等人又提出X射线能谱无标样定量分析的直接法。本文仍采用直接法,但吸收了Russ法中的优点。用常规的ZAF修正中使用的物理公式,推出X射线能谱另一种无标样定量分析的方法,它更便于计算。对NaCl,NaI,KCl,AgI,ZnS和GaAs样品的实验分析,证明用本文方法的分析结果优于用Russ法的分析结果。特别是对含有低原子序数元素的样品更为明显。 关键词：     

多元合金的无标样X光能谱定量成分分析

本文将文献[1]和[2]的二元合金直接无标样法加以推广,应用于不含超轻元素的多元合金(包括七元、八元钢样,其中有两至三种元素的含量在0.25—1.0％之间)。与Russ等的间接无标样法程序相比较,总的说来准确度有所提高,分析速度也更快,在速度约为每秒13万次的计算机上(内存约需12K)计算八元合金的成分,仅需约10sec的时间。将多元合金的计算方法用到NaCl等二元合金,结果较前有所改善。 关键词：     

X射线荧光分析二元合金薄膜的成份

一、引 言 随着薄膜工艺的发展,用蒸发、溅射以及外延的方法制备各种薄膜材料,如磁性薄膜、超导薄膜和半导体薄膜等的工作有了很大的发展.薄膜的成份对其物理特性有直接的影响,所以为了研究薄膜的物理特性,就需要定量地分析它们的成份.本文介绍用X射线荧光分析二元钆钴合金薄膜成份的一种方法.这种方法原则上对任何二元薄膜都适用. 用通常的化学分析方法确定钆钴膜的成份有两个缺点,一是样品的量少,化学分析结果的误差较大;二是破坏了样品.而X射线荧光分析法不仅快速、准确,而且不破坏样品. 用X射线荧光分析成份与用电子探针或离子探针定…     

X荧光能谱法测定合金结构钢标样中五个元素

本文提出Ｘ荧光能谱法测定合金结构钢中５个元素含量的方法。本方法采用能说仪中定量分析软件，选择适当工作条件，测定合金结构钢中５个元素。其准确度精确度均能满足分析要求。     

无标样X射线定量分析联立方程组稳定性的统计判据

本文详细分析大量的无标样定量方程组的各种判别因子与解误差间的关系,找出定量判断方程组稳定性的因子g。可根据不同样品组合构成的方程组的g因子大小来选择常态方程,抛弃病态方程,从而提高结果的精度和可靠性,改善无标样X射线定量方法的实用性。 关键词：     

多元合金的无标样能量色散X射线荧光分析

本文在能量色散X射线荧光分析系统的效率刻度及散射修正的基础上,用基本参数法对多元合金进行无标样X射线荧光分沂。分析结果表明,对于主成分元素,分析误差约为2%,对于次成分元素,误差低于10%。     

无标样X射线定量分析最小二乘法方程的稳定解

无标样法是X射线定量分析的重要方法。无标样定量联立方程中经常出现的病态方程使定量结果出现很大的误差。最小二乘法方程组在某些组合情况下也会出现严重的病态方程。本文提出可以获得可靠的稳定解的无标样X射线定量最小二乘法。指出不同样品数及组合条件下获得稳定解的计算方法:直接最小二乘法、算术平均法、稳定性因子判别法。 关键词：     

高谱分辨X光能谱诊断技术

采用国内首次研制出的2 000线/mm的自支撑透射光栅配上背照射软X光CCD(charge coupled device)组成了高谱分辨透射光栅谱仪。通过实验标定和理论模型计算相结合得到了高线对透射光栅的绝对衍射效率;同时建立了透射光栅谱仪测谱解谱方法,编制了相应的解谱程序。在“神光”激光装置上利用该谱仪通过激光打靶实验获得了金腔靶注入口发射的X光能谱定量实验结果,实验结果表明,该谱仪测谱范围在高能区达到6 000eV,谱分辨达到0.1nm,能够清晰地分辨金等离子体M带三峰分布X光谱结构。     

高谱分辨X光能谱诊断技术

 采用国内首次研制出的2 000线/mm的自支撑透射光栅配上背照射软X光CCD(charge coupled device)组成了高谱分辨透射光栅谱仪。通过实验标定和理论模型计算相结合得到了高线对透射光栅的绝对衍射效率；同时建立了透射光栅谱仪测谱解谱方法，编制了相应的解谱程序。在“神光”激光装置上利用该谱仪通过激光打靶实验获得了金腔靶注入口发射的X光能谱定量实验结果，实验结果表明，该谱仪测谱范围在高能区达到6 000eV,谱分辨达到0.1nm，能够清晰地分辨金等离子体M带三峰分布X光谱结构。     

钆-铟二元系合金相图

用差热分析法、X射线衍射法和金相显微镜观察法研究了Gd-In二元系合金相图,实验证实了有六个中间相:Gd₃In,Gd₂In,Gd₅In₃,Gdln,Gd₂In₃和Gdln₃,有五个共晶转变,分别与～12at％In(共晶温度988℃),～30.5at％In(1151℃),～38.5at％In(1114℃),～64.5at％In(1010℃)以及100at％ 关键词：     

Sm-Ni二元系合金相图

本文用X射线衍射、差热分析及金相分析方法测定了Sm-Ni二元系合金相图。在此二元系中观察到8个金属间化合物:Sm₃Ni(664℃分解),SmNi(熔点为1079℃),SmNi₂(1034℃分解),SmNi₃(1135℃分解),Sm₂Ni₇(1220℃分解),SmNi₄(1282℃分解),SmNi₅(熔点为1430℃)和Sm₂Ni₁₇(1288℃分解)。发生三个共晶反应:Sm₃Ni-SmNi(570℃,～32at%Ni),SmNi-SmNi₂(809℃,53.5at%Ni)和Sm₂Ni₁₇-Ni(1280℃,94at%Ni)。无论是Sm在Ni中或是Ni在Sm中,均未观察到明显的固溶度。 关键词：     

Nd-Cu二元系合金相图

本文用X射线粉末衍射法,微差热分析法和金相显微观察,测定了Nd-Cu二元系合金相图。此合金系中共存在着五种金属间化合物,它们是:NdCu,NdCu₂,NdCu₄,NdCu₅和NdCu₆,化合物NdCu₂,NdCu₆分别在830℃,962℃同成份熔化;化合物NdCu,NdCu₄,NdCu₅,分别在602℃,853℃,916℃由包晶反应形成,有三个共晶反应,共晶点成份及其共晶反应温度分别为33at%Cu,478℃;74at%Cu,760℃;91at％Cu,874℃无论是Nd在Cu中或是Cu在Nd中都不存在可觉察到的固溶度,金属间化合物之间也不存在可觉察到的固溶度。 关键词：     

Nd-Ni二元系合金相图

本文用X射线衍射和差热分析方法测定了Nd-Ni二元系合金相图。在此二元系中观察到如下八个金属间化合物:Nd₃Ni(熔点为590℃),Nd₇Ni₃(熔点为616℃),NdNi(熔点为780℃),NdNi₂(940℃分解),NdNi₃(1030℃分解),Nd₂Ni,(1234℃分解),NdNi₅(熔点为1420℃)和Nd₂Ni _关键词：     

Gd-Ni二元系合金相图

本文用X射线衍射及差热分析方法测定了Gd-Ni二元系合金相图。在这个二元系中,观察到如下9个金属间化合物:Gd₃Ni(735℃包晶分解),Gd₃Ni₂。(690℃包晶分解),GdNi(1280℃同成分熔化),GdNi₂(1010℃包晶分解),GdNi₃(1110℃包晶分解),Gd₂Ni₇(1200℃包晶分解),GdNi₄(1270℃ 关键词：     

Dy-Cu二元系合金相图

Dy-Cu二元系合金相图已采用X射线衍射和差热分析方法测出。此系统中存在两个共晶反应,共晶点成份分别为12wt%Cu和83Wt%Cu,对应的共晶温度为808℃和880℃。在室温下存在三个稳定的金属间化合物:DyCu,DyCu₂和DyCu₅,DyCu和DyCu₂分别在840℃和885℃由包晶反应生成,而DyCu₅在970℃液固同成份熔化。在890℃由包晶反应形成的金属间化合物DyCu₇在缓冷至848 关键词：     

Gd-Cu二元系合金相图

本文用X射线粉末照相法和差热分析法测定了Gd-Cu二元系合金相图,发现GdCu₆在735℃发生同素异构转变。此合金系中共存在着四种金属互化物,即GdCu,GdCu₂,GdCu₅和GdCu₆,金属互化物GdCu,在932℃同成份熔化;而GdCu,GdCu₂和GdCu₆分别在759℃,870℃和884℃由包晶反应形成,存在两个共晶反应,分别发生在32at％Cu668℃和92at％Cu875℃,无论是Gd在Cu中或是Cu在Gd中都没有可觉察的固溶度。 关键词：