ICP—AES法同时测定麦饭石中的多种元素

本文阐述了用ＨＣｌ，、ＨＣｌＯ４及ＨＦ在高压溶样哭喊 内消化麦饭石，应用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定麦饭石中的１４种元素。本法的准确度及精密度均达到满意结果。方法简便，快速。     

ICP—AES同时测定钴酸锂中13个杂质元素

利用全谱直读ICP-AES分析技术,对试样处理方法、元素分析谱线、基体干扰、背景校正、仪器分析参数等进行了研究,综合确定了最佳实验条件。将钴酸锂试样用硝酸、高氯酸处理后,再用盐酸与硝酸溶解残渣,ICP-AES同时测定铜、铁、镍、锰、铂、铋、铅、金、铝、镉、钯、锡、砷等13个杂质元素。样品加标回收率为85.2%—113.0%,相对标准偏差为1.0%—7.7%。方法操作简便、快速、准确。     

中药方剂煎煮液中ICP—AES法同时测定16个元素

本文提出了用硝酸－过氧化氢对中药方剂煎煮液进行处理，ＩＣＰ－ＡＥＳ法对煎煮液中Ｌｉ，Ｎａ，Ｂｅ，Ｃａ，Ｓｒ，Ｂａ，Ｍｇ，Ｃｕ，Ｃｏ，Ｎｉ，Ｚｎ，Ｍｎ，Ｃｄ，Ｆｅ，Ｃｒ，Ｖ１６个元素进行同时测定的方法，该方法简单，快速，准确度高，所测元素的加标回收率均在８５～１０３％之间，样品分析结果满意。     

ICP—AES法测定混合稀土铜合金中14种元素

本文研究了用ICP-AES法,不必化学分离,一次同时测定混合稀土铜合金名14种稀土和非稀土元素,获得满意结果。     

ICP—AES测定Ta中杂质元素

本文研究了Ｔａ对Ａｌ、Ｃａ等十三种分析元素的干扰情况，列出了Ｔａ干扰其他分析元素的谱线，研究了操作条件变化时的非光谱干扰分布，对非光谱干扰采用优化操作条件的方法消除，并比较了校正光谱干扰的三种方法。     

ICP—AES同时测定植物中十八种元素的方法研究（干灰化法）

本文应用电感耦合等离子体光谱法(简称 ICP-AES)同时测定植物中十八种元素。用干灰化法制备待测液。选用了仪器最佳折衷条件。并采用了干扰等效浓度消除光谱干扰。本法的准确度与精密度均达到满意的结果。方法简便、快速。     

ICP—AES法同时测定炼锑中砷和铅等六个元素

作者采用浓硝酸溶解试样，用ICP－AES同时测定炼锑中As、Pb、Cu、Fe、Se和S六个杂质元素。本文通过讨论ICP工作的影响，找出最佳的正向功率、观测高度和载气气压。经过回收试验、分析结果的对比、精密度试验，证明本方法适用于各品级炼锑的品质分析，准确度和精密度都能达到国标化学法的规定，本方法的分析速度、准确度和精密度都优于电弧光谱法，解决了原子吸收光谱法测定S和Se的困难。     

ICP—AES直接测定钨产品中杂质元素

本文通过实验详细研究了钨产品中钨基体对杂质元素突出谱线的光谱干扰情况及基体效应，选择了基本步受钨基体干扰的待测元素的分析谱线并利用单纯型加速法优化ＩＣＰ操作条件，建立了一种快速分析钨产品杂质元素的ＩＣＰ－ＡＥＳ法，用本法测定了三氧化钨标准样ＢＹＧ１２０１－２，３，４号样）结果表明所建立的方法灵敏、快速和可靠。     

ICP—AES法直接测定贵金属粉末中8个贵金属元素

本文应用ＩＣＰ－ＡＥＳ法直接测定贵金属粉末中８个贵金属元素，试验了试样分解方法，测定了介质的影响，元素间的光谱干扰，给了了贵金属粉末试样中８个贵金属元素的测定含量，其结果与其它方法一致性较好，结果满意。     

ICP—AES法直接测定高纯Eu2O3中14种稀土元素

建立了ＩＰＣ－ＡＥＳ测定高纯Ｅｕ２Ｏ３中１４种稀土元素的方法，用正交设计法优化仪器测量条件，实验了基体Ｅｕ２Ｏ３对被测元素的干扰和对方法测定下限的影响。１４个稀土元素的测定下限为：Ｙｂ２Ｏ３０．５μｇ．ｇ＾－１，Ｙ２Ｏ３１μｇ．ｇ＾－１，Ｄｙ２Ｏ３，Ｈｏ２Ｏ３，Ｔｍ２Ｏ３和Ｎｄ２Ｏ３５μｇ．ｇ＾－１、Ｇｄ２Ｏ３、Ｓｍ２Ｏ３、Ｅｒ２Ｏ３、Ｃｅ２Ｏ３、Ｐｒ６Ｏ１１和Ｌａ２Ｏ３１０μｇ．ｇ＾－１，Ｌｕ２     

海洋沉积物标样ICP—AES多元素同时分析

本文提出了用ICP-AES法直接对海洋沉积物标准样品中多元素同时分析。ICP-AES法具有灵敏度高,测量精度好,线性范围宽等优点[1-4]。在此文中对样品前处理做了方法的研究,选用了多元素同时测定,空白值低、省时的溶解方法。相对标准偏差为0.03-6.9%,同时对GSD-9标准样进行了分析,结果与标准样值相符。     

ICP—AES法同时测定硼铁中的主要成分及杂质

本文研究了用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定硼铁中的主要成分Ｂ、Ｆｅ及杂质元素、Ａｌ、Ｍｎ，Ｓｉ的方法。采用碱熔融法分解样品，选Ｃｄ作为内标元素。     

可变内参比法ICP—AES同时测定钢铁中六个微量元素

本文选用可变内参比法原理，用钢铁主体元素Ｆｅ作为内标，用Ｆｕｌｌ校准技术校准标准工作曲线，用Ｔｙｐｅ校准技术作为样品测试结果的实时在线校正，文中考察了影响分析信号强度最显著的入射功率，观测高度和载气流量三个操作参数，并对方法的准确度，精密度及检出限进行了讨论。     

三乙基铟中杂质元素的ICP—AES测定

研究了基体铟对１５种杂质分析元素谱线的背景影响和光谱谱线干扰。采用基体匹配－电感耦合等离子体发射光谱法测定了三乙基铟中的１５种杂质元素。样品分析方法检出限大部分低于１μｇ／ｇ，相对标准偏差均小于２％。