采用X-射线衍射测定YBa2Cu3Ox中的氧含量

本文详细介绍了采用X-射线衍射测定YBa2Cu3Ox中氧含量的实验细节并采用此法测定了六个样品的氧含量。结果表明：分别在空气和氧气中生长的名义成分为123 15wt.!1 0.5wt.?O2的样品的氧含量分别为6.63和6.76。经渗氧处理后，氧含量分别增加至6.88和6.94。在名义成分为123 15wt.!1 0.5wt.%Pt的样品中也得到类似的结果。本文对采用X-射线衍射测定YBa2Cu3Ox中氧含量的合理性和测定精度进行了讨论。     

含非晶相样品的X射线衍射无标定量相分析方法

提出一种以各物相的X射线衍射系数K为未知量组成的方程组求解K值,进而求解各物相含量的无标定量相分析方法.该方法不需加入参比物相,允许待测样品含有一个非晶相.采用了最小二乘方程组的抛弃平均法处理数据求其最优解. 关键词：     

X射线分析氢化物汽相外延法生长GaN薄膜

氮化物研究在90年代取得显著进步,成功制造出蓝色发光二极管和激光二极管.由于氮化镓与衬底(如:蓝宝石,碳花硅)间存在大的晶格常数和热膨胀系数失配,外延膜中有非常高的位错密度.研究氢化物汽相外延法生长的氮化镓膜中倾斜和扭转现象,并应用到以X射线摇摆曲线的半峰宽计算氮化镓膜中位错密度.Ф扫描曲线表征外延的氮化镓晶体六方对称性,而极图表明氮化镓膜中存在马赛克结构.计算出螺位错密度为:2.93×109cm-2和刃位错密度为:5.25×1010cm-2.     

Bi—Sr—Ca—Cu—O体系中的120K超导相研究

本文报道了在 Bi-Sr-Ca-Cu-O 体系中发现120K 相的实验结果.样品的电阻在130K 时开始超导转变,在120K 时下降到约为130K 时的8%,最后在98K 出现零电阻.文中对样品进行了相分析和显微结构观察.     

Bi2O3—Sb2O3二元系的研究

本文用 X 射线衍射及差热-热重分析方法研究了 Bi_2O_3-Sb_2O_3二元系在 N_2和空气中的相关系.研究结果表明,在 N_2中发生自氧化-还原化学反应5Bi_2O_3+3Sb_2O_3→4Bi+6BiSbO4在空气中 Bi 和 Sb 分别主要以+3和+5价的形式存在.Sb 在 Bi_2O_3中的溶解度不超过3mol%.形成三种化合物:Bi3SbO_7、Bi_5Sb_2O_(12.5)和 BiSbO_4.前两者为包品反应产物,后者为固液同份化合物.BiSbO_4的熔点为1276℃.BiSbO_4与Sb_2O_4属共晶反应.并讨论了Sb 对 Bi-Sr-Ca-Cu-O 体系形成超导相的影响.     

Gd掺杂的Bi系2212相单晶电子状态的X射线光电子能谱研究

利用X射线光电子能谱(XPS)研究了Bi系纯2212相超导单晶和Gd掺杂的2212相绝缘体单晶的电子状态的区别。实验结果表明Gd掺杂引起超导电性的变化是由于D_2p轨道空穴填充引起。本文还对Cu2p_3/2XPS卫星峰与主峰强度之比(I_s/I_m),Bi-O层性质以及Bi系Fermi能级附近态密度的来源等问题进行了讨论。 关键词：     

Y—Ba—Cu—Al—O体系的X射线光电子能谱研究

对单相样品YBa₂Cu_3-xAl_xO_7-y进行了X射线光电子能谱(XPS)、O缺位以及电阻-温度关系的测量。结果发现,Al在1-2-3相中有可能部分地替代了Cu和Y的位置。由于Al³⁺的存在,使得含量增加,0的环境趋于一致,XPS图谱上O₁₅两个状态的区别很不明显。而明显地观祭到了Cu³⁺的存在。 关键词：     

纪念X射线发现100周年

评述了发现Ｘ射线１００年来的主要发展历程、我国学者的贡献以及Ｘ射线应用于分析领域的种种特点．     

X射线研究CeO2缓冲层

我们在有和无离子束辅助两种情形下,在双轴织构Ni基底上制备了CeO2薄膜,结果表明,无离子束辅助沉积时,薄膜表现出(111)取向,在离子能量为240eV,束流为200μA/cm2,基片温度为360℃的条件下沉积的CeO2薄膜呈现出良好的立方织构.另外,我们分析了薄膜应力随温度和离子辅助条件的变化关系,结果表明,离子束轰击可以减小薄膜应力,在360℃附近薄膜应力几乎被完全弛豫.     

YBa2Cu3O7—y膜中重离子无序的X射线衍射研究

我们发现ＹＢａ２Ｃｕ３Ｏ７－ｙ薄膜的实测Ｘ射线衍射强度与理论强度不一致，且用重离子坐标微变化和重离子替代无序解释了这一现象。与工艺、性能联系起来，可得到结论：这种无序与沉积所用的靶材和衬底材料有关，对超导转变温度无明显影响。     

轻基体中稀土氧化物的X射线荧光分析：非相干散射应用研究

本文通过研究轻元素的非相干散机机制，将非相干散射和特征线以散射归－化相结合计算表观浓度，利用强度校正模型和线性方程组的最小二乘法回归分析以及实验室标样，建立了轻基体之－Ｌｉ２ＣＯ３中少量Ｓｃ２Ｏ３，Ｙ２Ｏ３，Ｌａ２Ｏ３，Ｔｍ２Ｏ３和Ｌｕ２Ｏ３的Ｘ射线荧光分析方法，本方法测定的精密度均优于４．０％，最佳的可达２．１％。这种定时分析方法具有准确，简便，快速和多元素同时测定等优点。     

全反射X射线荧光分析

介绍了全反射Ｘ射线荧光分析的基本理论，实验装置和定量分析方法，简述了其发展史及其在医学，法学，环境科学，地矿科学，材料科学等领域的应用。评述了今后Ｘ射线荧光发展的方向。     

微束X射线荧光分析

用能量色散微束X射线荧光分析仪实际测量了微束准直器孔径和X射线强度对微束空间分辨率的影响,在准直器孔径为0.1mm条件下,获得以FWHM定义的空间分辨率最好为0.073mm。通过微束扫描测量出某硫化锰矿微区内的Mn、Fe、Zn、Pb的三维等高线荧光强度分布图和不同小区域内的能谱。     

晶体X射线衍射实验的数据分析模式

针对粉末X射线衍射谱分析软件CSM的特点,利用CSM软件附带的用户程序库功能,实现了固溶体的物相分析和固溶度的定量计算,扩展了CSM软件的使用范围,提高了物相分析的准确程度.     

Bi—2201单晶调制结构的X射线衍射观测

本用Ｘ射线的方法对Ｂｉ－２２０１大片超导单晶的调制结构进行了研究，在衍射谱中，除了００１的主衍射峰外，还出现了一系列卫星峰。由这些卫星峰的位置可以得到这种单晶的调制波矢ｑ＝０．２０８ｂ＾＊＋０．３６ｃ＾＊。这与用电子显微镜观测的结果基本一致。