椭偏法测量云母波片相位延迟量及双折射率(英文)

为了得到云母波片的相位延迟量和双折射率随波长的变化关系,利用椭偏光谱仪连续测量了云母波片在400～770nm光谱范围内的延迟量.在对云母波片进行校准后,测量的数据被光电探测器收集并输送到计算机,根据输出的数据可以得到云母波片的相位延迟量随波长的变化.利用测得的延迟量计算出了云母波片在一定光谱范围内的双折射率,得到了云母波片的双折射率色散曲线,并通过拟合得到了双折射率色散公式.该方法能测量任意波片的相位延迟量,并且具有测量方便、周期短、精度高等特点.     

测量任意波片相位延迟量的简便方法

为了更方便的测量待测波片的相位延迟量,提出了简便易行的测量任意波片相位延迟量的方法,无需标准1/4波片,而且还可以利用一套实验系统同时测量2个未知波片的相位延迟量,并从理论上推导出了通用测量公式,从实验上进行了实际测量.     

偏光干涉法测量波片相位延迟量和厚度

基于偏光干涉理论,提出一种宽光谱范围内测量波片相位延迟量和厚度的方法。利用矩阵光学方法分析了光谱透射率曲线与中值透射率直线交点波长之间的关系,给出待测波片的相位延迟量、波片厚度等多个物理量的计算公式并进行了误差分析。误差分析表明本方法相位延迟量测量最大误差为3.38°,厚度测量最大误差为0.66μm。实验上利用分光光度计验证了本方法的有效性。本方法能够实现波片多物理量的同时测量,且调节过程对于起偏器、检偏器透光轴方向及待测波片快轴方向无严苛要求,测量过程对波片也无损伤和污染,在波片加工、使用前质量评估等方面都具有一定的应用价值。     

1/4波片延迟量的相位调制椭偏测量法

利用椭偏测量术中的相位调制椭偏测量原理测量了1/4波片的延迟量。该方法预先对测量光束的偏振态进行调制,以生成随时间变化的光强信号,通过对信号中的谐变成分进行分析而获得待测波片的延迟量。测量了四个波片,其中三个波片的延迟量已经用电光调制法精确测量过,经对比测量的结果符合较好。观察到了和理论相符的云母波片延迟量的振荡现象。实验结果说明这种方法是一种有实际意义的方法。     

波片相位延迟量精密测量新方法

利用旋转波片的偏振干涉技术，结合机械－光学旋光调制器对光相位的调制，通过判断方波信号的有无，可精密地确定被测定片相位延迟的数值，机械－光学旋光调制器的使用，大大简化被测样品和测试装置中四分之一波片光轴方位的调整，也显著地提高了装置测量的灵敏度和波长测量范围，对环境不作特殊控制，依据本方法建立的测试装置的相对测量误差可小于千分之五。     

二元复合波片延迟相位方位效应探讨

在多级波片方位效应的基础上，探讨了复合波片的方位效应问题。通过对多级波片的设计与测量，论证了入射光方位是影响波片延迟量的关键因素。     

晶体相位延迟量的测量

通过2束平面偏振光的合成推导出椭偏测量的基本原理,给出了用标准1/4波片测量晶体相位延迟量的测量原理.在测量时不必知道待测晶体的具体光轴方位,只需调节标准1/4波片、待测晶体的快(慢)轴与起偏方向平行,然后将晶体逆时针转过45°.测量装置采用了步进电机带动检偏器旋转,使用光电探测器采集数据,经计算机处理,根据数据曲线直接读出待测晶体的相位延迟量.该方法可以方便快捷地测量任意相位延迟.     

基于最小二乘拟合的波片相位延迟测量

提出一种精密测量波片相位延迟的新方法.将待测波片置于起偏器和检偏器之间,通过步进电机控制波片匀速旋转,基于最小二乘法拟合出射光强随波片方位角变化的曲线,进而得到波片延迟.根据上述原理,建立了一套波片延迟测量系统,并分析了系统的稳定性、可测量的延迟范围、接收器件的非线性效应、系统误差源这4个影响测量精度的主要方面.结果表...     

任意波长云母波片的制作技术

本文给出了由已测得的云母片对6328 A激光的相位延迟,推算任意波长的延迟的几种方法。对这几种方法进行了分析、比较。根据误差讨论,确定了制作任意波长波片的方法。     

基于光弹调制技术的波片相位延迟量测量方法

提出了一种基于光弹调制技术的波片相位延迟量测量方法,利用米勒矩阵对其进行了理论推导和误差分析。测量光路包括激光器、起偏器、光弹调制器、被测波片、检偏器和光电探测器,利用探测信号的归一化基频分量和二次谐波分量精确计算出被测波片的相位延迟量。该方法能测量紫外到红外光谱范围内任意相位延迟量的波片,误差分析表明其误差小于0.05°。实验验证了该测量方法的有效性,波片相位延迟量的重复测量精度为0.0048°。     

1/4波片相位延迟分布的动态测量

通过密勒矩阵和斯托克斯参量法对一种1/4波片的相位延迟分布的测量模型进行了推导,并设计出一种空间分光移相器,取代一般测量系统中的检偏器,使得系统能于瞬间同时采集四幅具有90°移相步长的干涉图,避免了环境振动对测量的影响,从而可以对1/4波片的相位延迟分布进行动态在线测量.对一个实际标称波长632.8 nm的1/4波片进行了测量,结果显示其平均延迟量为149.36 nm,且接近75%部分其相位延迟误差在5 nm之内,显示出较好的延迟均匀性.     

Birefringence of muscovite mica

Birefringence of muscovite mica (n_e−n_o) is usually calculated from the dispersion relations of the indices n_e and n_o. As small differences between relatively large experimentally-measured values, the few available data for birefringence of mica are widely distinct and sometimes contradict basic experimental facts. A different procedure is adopted in this work to measure birefringence directly as a single quantity in terms of the thicknesses of mica plates and the wavelengths at which they act as quarterwave or halfwave phase retarders. Birefringence is found to decrease gradually from −0.0040 at 420 nm to −0.0046 at 700 nm in conformity with pertinent independent experimental results.     

基于椭偏光谱仪的石英波片光轴方位探测

波片的光轴方向是波片应用中最重要的参数之一。在椭偏光谱仪透射模式下,利用琼斯矩阵对波片旋转过程中P和S两方向上位相的变化进行分析,设计了一种判断石英波片光轴方向的新方法。应用此方法判断光轴方向,具有光路结构简单,检测速度快的特点,且具有很好的实用性。     

双折射位相差的拟合表达式及其应用

探讨双折射晶体的ｏ光和ｅ光的位相差的表达式，对文献中常引用的表达式作近似展开，得到一个适用性的拟合表达式及其拟合系数与昌体或液晶双折射率之间的关系，并给出该表达式的简单应用。它可作为设计晶体旋转法测试液晶双折射和预角测试仪的原理。     

四区域法消除偏振棱镜缺陷对波片相位延迟测量的影响

在起偏器-待测波片-检偏器系统基础卜提出一种四区域测量波片相位延迟量的方法.调整待测波片和检偏器的方位角,获得相应的四组光强值,通过线性运算得到待测波片的相位延迟量,完全消除了起偏器和检偏器不完全消光带来的误差.由于测量系统中不存在标准波片或其他相位调制元件,允许测量波长仅受偏振棱镜和探测器的限制,因此四区域法可适用于很大波长范围内的波片测量.以λ/4波片为例,理论分析了测量系统利用四区域测量法后的仪器误差为σφ≤士3.49065×10-3rad(约0.2°),精度比原算法提高约1个数量级.实验验证了四区域法能有效提高系统精度.     

Retardation calculation for achromatic and apochromatic quarter and half wave plates of gypsum based birefringent crystal

This paper presents retardation calculations for achromatic and apochromatic half and quarter wave retarders of gypsum based birefringent crystal. The calculations indicate that an achromatic wave plates can be obtained by combining gypsum crystal with KDP, ADP, MgF₂, sapphire and calcite birefringent crystals. The residual variation percentages of retardations as a function of wavelength for gypsum/KDP, gypsum/ADP, gypsum/MgF₂, gypsum/sapphire and gypsum/calcite were found to be ± 1.7%, ± 3%, ± 12.2%, ± 12.0% and ± 7.2%, respectively. To reduce the spectral variation of retardations, a third layer (apochromatic) of birefringet material is added to the aforementioned achromatic wave plates. The proposed apochromatic wave plates are gypsum/KDP/quartz, gypsum/ADP/quartz, MgF₂/ADP/gypsum, MgF₂/KDP/gypsum and gypsum/sapphire/MgF₂. The addition of a third layer has reduced spectral residual variation percentages of retardations of the aforementioned apochromatic designs to ± 0.27, ± 0.33, ± 0.3, ± 0.17 and ± 0.45, respectively.     

石英波片偏光干涉谱的研究

根据石英晶体双折射率的色散特性,对石英波片的偏光干涉谱进行了理论分析和数值模拟,提出了一种石英波片延迟量和厚度的偏光干涉标定法。即由偏光干涉谱,可以得出石英波片在200~2000 nm宽光谱范围内的延迟量;通过对长波段的偏光干涉谱极值波长的精确判断,可以准确地计算出该石英波片的厚度。利用Lambda900紫外-可见-近红外分光光度计对一片石英波片的偏光干涉谱进行了测量。在波长精度为0.1 nm的情况下,测量的厚度精度为0.1μm。误差分析结果表明,通过提高光谱的最小分辨力及选择较长的光谱波段进行测量计算,可以有效地降低误差。     

环境温度对纳米磁流体场诱导光学双折射的影响

在20~80 ℃温度范围内,研究了两种浓度的铁氧体(主要成分为Fe3O4)磁流体在一系列固定磁场强度(场强范围为0~200 mT)下的双折射与温度的关系.结果表明不同浓度磁流体的双折射具有类似的磁场和温度依赖性.固定磁场强度时,磁流体的双折射值与温度成反比|而温度恒定时,磁流体的双折射值与外磁场的强度成正比|在相同磁场强度、恒定温度下,高浓度磁流体的双折射值比低浓度磁流体的大.详细分析了实验结果,并深入讨论了磁流体双折射的温度、场强和浓度依赖性的物理机理.