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一种单双目视觉系统结合的三维测量方法 总被引:6,自引:3,他引:6
在投影栅相位法的单日和双目三维测量结构的基础上,提出了一种单双目结合的三维测量方法.采用双目测量系统的架构,对两相机的公共区域使用双目的方法进行复现,同时分别将两个相机与投影仪组成两个单目测量系统,通过标定的统一可以将两者的世界坐标系统一到一个共同的基准上,利用单目的测量结果对双目测量的哪缺失区域进行填补.在对石膏头像的测量中,利用该方法避免了双目测量中在鼻梁附近出现的数据丢失.在保证双目复现区域精度的基础上,该方法有效地改进了测量结果的完整性. 相似文献
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本文介绍的是以丙三醇-三乙醇胺-水与基本组份,并添加适量的硫酸铝钾盐,EDTA二钠盐为澄清、沉淀剂的水基型光学玻璃高速精磨冷却液的化学作用,它不仅冷却、清洗和润滑性能好,且具有良好的化学作用;不仅对金刚石磨具的“自锐”性能好,且能保持冷却液和磨具表面清洁,为此,进一步提高了冷却液和磨具的使用性能和使用寿命,以及光学玻璃零件加工的效率和表面质量。 相似文献
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利用频闪结构光测量旋转叶片的三维面形 总被引:3,自引:0,他引:3
在对快速甚至高速运动物体进行研究时,需要对运动物体各个时刻的三维面形和形变量进行数字化描述。提出了一种利用频闪光作为结构照明光源,基于傅里叶变换轮廓术对旋转叶片每个时刻的三维面形和变形量进行动态测量的光学方法。使用自行设计的同步控制单元对风扇叶片旋转位置进行检测,用该检测信号同步驱动频闪结构光源的发光和图像采集系统“冻结”记录下旋转叶片表面变形条纹的瞬时图像,再运用傅里叶变换轮廓术计算出每一瞬间时刻旋转叶片的三维面形,分析这些三维面形数字化结果可以进一步得到旋转叶片的变形量。通过对家用电风扇的实验,验证了该方法的合理性和可行性。该方法可望在高速运动物体的面形和变形研究上有广泛运用。 相似文献
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基于无约束系统的结构光三维测量方法 总被引:2,自引:5,他引:2
针对传统结构光系统进行三维测量时,要求满足双瞳平行于参考平面和摄像机光轴垂、直于参考平面这两个强约束条件,建立了新的系统结构,去除了平行和垂直的约束,摄像机和投影仪位置可自由摆放.基于该无约束系统结构,提出了一种新的系统标定方法,通过重建"投影仪摄像机参考平面"三者的空间关系,可以简便而精确地获取传统"高度相位"公式中参量:双瞳的距离和摄像机到参考平面距离;同时,推导了无约束系统结构下新的物相关系方程和高度计算公式.实物测量结果证明,基于无约束系统的结构光三维测量方法可操作性强,测量精度可达0.1 mm. 相似文献
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一种用于光学平面面形误差绝对测量的新方法 总被引:2,自引:1,他引:2
本文探讨了一种可绝对测量光学平面面形误差的新方法,利用该方法可以消除或修正干涉仪测量光学平面面形误差时所存在的固有系统误差和参考光学平面本身的面形误差,同时也对干涉仪进行了绝对校准。 相似文献
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水中物体的光学三维形貌测量的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种对水中物体进行光学投影式表面三维形貌测量的新方法。通常的测量方法都是假设摄像机和被测物体都处于空气中,测量水中物体时,由于光在空气、水分界面上发生折射,投射到被测表面的光条纹图像发生扭曲,从而给三角测量法带来误差。新方法可以精确测量出水中被测物表面的三维坐标并计算出物体的几何尺寸,实验验证了该方法的有效性。考虑折射后,该测量类似于在空气环境中的测量。采用的极线约束及亚像素技术,提高了测量精度和速度。 相似文献
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提出了一种基于条纹反射和相移技术的类镜面三维面形测量的新方法。首先在平板显示器上显示正弦条纹,然后用CCD相机分别记录由待测面和标准面反射的正弦条纹像,通过相移得到各自的相位分布,与标准面相位分布相比较得到待测表面起伏引起的相位变化。推导了相位变化量与待测表面梯度的对应关系,分别对待测面进行水平和垂直两个方向光栅相位测量,通过计算可得到梯度分布并由梯度分布恢复待测表面面形。同时初步分析了影响条纹反射技术测量精度的因素。测量中,光栅由计算机产生,可以实现精确的相移,而且可以方便地调节光栅的周期及方向,通过预设标记点来引导相位展开有效地解决待测面和标准面的条纹对应问题。实测了建筑用釉面瓷砖表面起伏,验证了该方法的可行性。 相似文献
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S变换是一种集合了窗口傅里叶变换和小波变换优点的时频分析技术,目前一维S变换已成功应用于结构光投影的条纹相位解调中。由于二维S变换可以对图像在两个方向上进行时频分析,具有更优于一维S变换的分析和处理能力。为了完善S变换的条纹相位解调理论,将二维S变换方法引入到基于结构光投影的三维光学测量中,研究了二维S变换在条纹相位解调中的原理及应用,给出了详尽的理论分析,并同一维S变换结果进行了比较。模拟和实验都表明,在条纹图解相中,二维S变换比一维S变换提取的相位精度更高,即使在存在较严重噪声污染的情况下也表现出良好的可靠性,体现出二维S变换提取相位的优势。 相似文献
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A Novel Micro-Displacement Measuring Method Based on Optical Path Modulation 总被引:1,自引:0,他引:1
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According to the interference theory of double-grating interferometers, the feature of Moire fringe imaging in each region is investigated and a novel micro-displacement measuring method based on optical path modulation is proposed. The basic measurement principle is that the displacement is measured through Moire fringe shifting, which is caused by the whole phased object thickness variation, in the case of non-relative movement of gratings. The object displacement measured can be changed into the phased object variation inserted in region Ⅱ using a mechanical arrangement. The principle of the micro-displacement measurement is analyzed theoretically. The light intensity of the distributing image in each interference region is given no matter whether we insert the phased object or not. The effect on the Moire fringe of the whole thickness variation of the phased object is also discussed. It is confirmed that the Moire fringe shifts with phased object variation by calculation with MATLAB. The experimental result proves that the resolution of this method is 2.1093 μm, and the resolution of the system is 0.5273μm after a four-subdivision circuit. 相似文献
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G. Gomez-Rosas H. Wang J. Hurtado-Ramos D. Malacara F. Villa O. Pompa 《Optical and Quantum Electronics》1998,30(3):181-186
In this letter we report a new method for measuring light scattered from optically rough surfaces. By collecting scattered light in a given solid angle, the measurement system does not require a detection unit with an extremely large dynamic range. This in turn significantly simplifies the system configuration. Measurements of scattering close to specular reflection (the so-called small angle or near-specular scattering) also can be completed without any difficulty. Unlike in the common angle resolved scattering (ARS) measurement system, in this system a linear movement instead of rotation is adopted to scan scattered light. In this way, the angular resolution of scattering measurements is independent of the resolution of the translation stages and may be adjusted. 相似文献