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线性结构光编码的三维轮廓术 总被引:17,自引:7,他引:10
提出一种新的光学轮廓术-线性编码轮廓术,它利用周期线性结构光编码三维物面,并辅以相移技术来解调相位。本文详细给出了线性编码轮廓术的原理,并通过实验验证了其可行性。 相似文献
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本文讨论了计算机云纹用于三维物体360°面形轮廓测量的原理,并对一样品进行了测试,实验表明,此种方法优于其它测量方法,可快速获得样品360°面形展开图. 相似文献
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提出了一种将原子力显微(AFM)探头与位置敏感探测器测距探头相结合的双探头三维表面轮廓测量新方法, 可在获取样品表面轮廓的同时, 测定样品局部形貌。搭建了双探头三维表面轮廓测量系统, 阐述了系统的工作原理, 并对其结构组成包括双探头、步进扫描台和计算机控制平台进行了说明。用2000 line/mm的光栅进行了扫描实验, 对系统的测量范围进行了标定。以外径8 mm、内径4 mm的金属垫圈为样品, 进行了整体三维表面轮廓与局部表面形貌测量实验, 给出了垫圈表面图和局部三维形貌图。结果表明, 该系统能满足不同尺寸和材质的样品的测量要求, 即可实现对样品轮廓的大范围扫描测量, 又可对样品局部进行高精度形貌测量。 相似文献
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一种新的基于条纹投影的三维轮廓测量系统模型 总被引:1,自引:0,他引:1
提出一种新的光栅条纹投影轮廓测量术系统模型,新模型不要求测量系统满足光心连线平行于参考面、成像系统光轴垂直于参考面以及两光轴相交于参考面上等约束条件,只需投射至参考平面的正弦光栅条纹之间相互平行,简化了系统校准过程,有利于现场测量。得到的高度相位映射关系式中,待标定的系数与像点的坐标无关,不需要对每一个像点进行采样,能够减少系统标定所需的时间。实验表明:所提方法使投影装置和成像系统的位置校准过程简单,提高了系统标定的速度,且具有较高的测量精度,能够测量复杂面形的物体,增强了光栅投影三维测量系统的实用性。 相似文献
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光栅投影轮廓测量的系统标定技术 总被引:25,自引:4,他引:25
针对在光栅投影轮廓测量术中系统标定可操作性不强、精度不高的问题进行了全面的分析 ,在此基础上提出一种新的系统结构 ,并推导了物相关系。由于去掉了传统结构的平行和垂直两个约束条件 ,测量系统中摄像机和投影装置可以采取任意相对位置 ,操作十分灵活。对新系统提出了方便实用的标定方法 ,在其中引入了摄像机定标技术。应用该测量系统和标定技术进行实例检测 ,测量结果证明 :与传统方法相比 ,可操作性和检测精度得到了提高 相似文献
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本文分析了光切法三维轮廓自动测量中产生的数据缺损的类型和原因,并基于人体双目视觉原理中的“无影性”提出了数据修复的图象合成方法,导出了其数学模型,给出了数据修复的实验装置和结果. 相似文献
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结构光三维物体面形实时测量系统 总被引:1,自引:0,他引:1
本文基于结构光投影方法提出了一种新的三维物体面形重建方法,并建立了三维物体面形实时测量系统,系统用硬件电路实现结构光峰值提取,然后由软件对畸变光条峰值分布进行总体面形拟合处理。处理中,可以获得物体在视场内附加了一个倾斜面的三维物体面形分布。物体实际面形可以通过减去这个附加倾斜面而获得。 相似文献
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一种新的相位测量轮廓术 总被引:5,自引:6,他引:5
首次提出了变精度二次测量轮廓术,利用这一技术,在相位过程中,对有断点及边介区域也能得到正确的去包裹相位值。文中讨论了相位恢复的误差容限。最后,把这一技术用于三维面形测量中,并得到了较好的实验结果。 相似文献
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双摄像机相位测量轮廓术系统标定与数据融合 总被引:1,自引:0,他引:1
在将两个摄像机对同一坐标系(全局坐标系)标定的基础上,提出了距离数据及纹理的融合方法。以调制度为模板确定摄像机视线重叠区和数据空洞,在全局坐标中摄像机视线重叠区内根据单位面积采样点数序号最接近原则选取一定尺寸的区域作为数据拼接区。并且考虑在重叠区内一方数据有空洞时的补洞方法,将空洞边界相似放大后,新边界和原边界构成的重叠区域作为数据拼接区。在数据拼接区内将两边的数据以到拼接区中心线距离为权重进行加权平均,实现了数据平滑过渡。实验表明该方法是有效的,为数据融合提供了新途径。 相似文献
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调制度测量轮廓术是一种采用垂直测量方式的三维面形测量方法,可以测量表面有剧烈变化区域的复杂物体。提出了一种基于调制度测量轮廓术测量系统的标定方法,其纵向标定是利用几个相互平行的标定平面建立与CCD像面各像素点对应的测量高度与实际高度之间的映射关系,并利用映射关系确定每一像素点对应的映射关系系数,然后建立映射关系系数查找表,存人测量系统中,完成纵向标定。首先分析了测量系统的误差来源,然后给出了标定方法和标定过程,最后给出了实测结果。结果表明,利用提出的系统标定方法可以有效消除调制度测量轮廓术测量系统误差,显著地提高了系统测量精度。 相似文献
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