5m法全电波暗室射频性能评测方法及影响因素分析

本文介绍了5m法全电波暗室的射频性能评测指标,并结合实际建设情况,分别阐述了归一化场地衰减（NSA）、场地电压驻波比（SVSWR）、场地均匀性（FU）和背景噪声这四项指标的校验和评估方法,并对评测过程中对结果造成影响的因素进行了分析。     

用于30MHz～1GHz电磁辐射骚扰测量的全电波暗室场地校验方法

详细介绍了最新国际标准CISPR16-1-4∶2004第5.8条给出的两种评估方法—场地参考法(sitereferencemethod)和归一化场地衰减法NSA。为评估全电波暗室的性能提供重要技术依据。     

电波暗室性能指标的测试方法

介绍了评估电波暗室性能的方法,包括屏蔽效能、归一化场地衰减、传输损耗、场均匀性的详细测试过程,并对可能影响测试结果的因素和需要注意的问题进行了分析.     

3m法医用半电波暗室的建设

结合医用电气设备的特点和医用电气设备的电磁兼容标准,介绍了3 m 法医用电磁兼容半电波暗室的特点,以及实验室建造时应考虑的问题和相关注意事项。     

全电波暗室30MHz～1GHz场地确认方法

该文介绍了全电波暗室30MHz～1GHz场地确认的方法,并对本单位5m全电波暗室的实际测试结果进行了分析总结。     

陶瓷型吸波尖劈在电波暗室中的应用

传统复合吸波材料存在低频特性差、与铁氧体阻抗匹配困难等问题。简述了一种全新的陶瓷型吸波尖劈工作原理,并列举了与铁氧体配合使用时的吸波损耗特性。总结了陶瓷型吸波尖劈的优势,并给出其在标准三米法暗室中的应用案例,检测结果显示归一化场地衰减优于±2.5 d B,场地电压驻波比小于5.0 d B。     

用于30MHz～1GHiz电磁辐射骚扰测量的全电波暗室场地校验方法

详细介绍了最新国际标准CISPR 16-1-4:2004第5.8条给出的两种评估方法-场地参考法(site reference method)和归一化场地衰减法NSA.为评估全电波暗室的性能提供重要技术依据.     

基于系统平均转换系数的全电波暗室系统确认

介绍了IEC 61000-4-22中采用的基于系统平均转换系数的全电波暗室测试系统的确认方法,并与CISPR 16-1-4所采用的自由空间归一化场地衰减及场地电压驻波比(site-VSWR)等场地确认的方法做了相应的对比分析。     

半电波暗室不同测试距离辐射场强的换算模型

分析了使用半电波暗室测量不同距离处辐射场强之间的换算关系。首先介绍基于对数距离路径损耗得到的经验模型,然后通过计算不同发射/接收天线间距的归一化场地衰减（NSA）差值,得到了对同一场地和不同场地的不同测试距离处辐射场强理论模型。对不同场地的工程模型进行讨论,并且使用实验数据分析了不同测试距离处辐射场强的换算关系。实验结果表明,不适宜引入确定性修正因子,对待测物在3 m和10 m法半电波暗室的测试结果进行转换。     

电波暗室的设计及校准测试

电波暗室是电磁兼容检测中非常重要的设施之一,由于场地不同而使测量结果不一致已是不争的事实,优秀的设计和校准是建立一个高性能暗室的基础。介绍了中国计量科学研究院(NIM)电波暗室的设计和测试情况。     

1～18 GHz辐射骚扰测试场地的场地电压驻波比验证方法

CISPR在2007年之前仅对1 GHz以下的频段的辐射骚扰测试进行了规定,而目前完整的CISPR标准规定了1 GHz以上的测试方法,并对测试场地提出了相应的要求.提出了一种用于验证测试场地的新方法(场地电压驻波比法).CISPR标准对用于场地验证的宽带全向天线有严格的要求,奥地利研究中心(ARC)开发出了一种具有较高精度的此类天线(已申请专利).     

电波暗室如何获得FCC认可

介绍了电波暗室如何获得FCC认可,以帮助暗室所有者自主进行FCC认可申请,提高实验室管理水平和知名度.     

电波暗室特性简介

电波暗室（Anechoic Chamber）又称电波消声室,或电波无反射室。有两种结构形式：电磁屏蔽半电波暗室（Electromagnetic Shielded Semi—Anechoic Chamber）和微波电波暗室（Microwave Anechoic Chamber）。     

EMC电波暗室新的设计考虑

主要概括了德国奥尔托项目公司在最近几年为适应市场的大型产品、多标准符合以及快速精确测试需求而完成的各类EMC电波暗室全新设计考虑,包括EMC电波暗室的高静区(大于2m高)设计、10米法电波暗室高频测试的测试距离和天线的选择、双静区双天线法测试和铁氧体射频线缆的使用,这些设计考虑都已成功通过第三方测试并成熟运用.最后,介绍新能源汽车零部件EMC测试的全新暗室解决方案.     

天线相位中心暗室标定法远场条件研究

将有限测试距离引入的测相误差公式由一维辐射源拓展到二维口径辐射源.与传统相位方向图误差分析中只考虑单一方向上测相绝对误差的方法不同,提出全新的基于保证有限测试距离处不同方向相位差与远场相位差一致的有限测试距离相位中心测量误差分析方法.利用文献[6]的天线相位中心暗室测量方法,对有限距离引入的误差进行了数值分析,从而得到满足一定精度要求的远场测量条件.以实际天线相位中心标定例子说明了分析方法的正确性.     

电波暗室的分类及半电波暗室的性能评价指标

介绍了电波暗室的种类,并对电波暗室性能的各项评价指标作了阐述,对相应的有关标准进行了说明.     

CTIA OTA认可中无线终端暗室纹波测量解析

美国无线通信和互联网协会(CTIA)制定的无线终端OTA测试标准,对于移动通信手机等产品的测试具有一定参考意义。该标准中最重要的内容是对暗室纹波性能的测量。通过CTIA OTA实验室认可对我国移动通信手机等产品的出口有益。在CTIA OTA 实验室认可中,OTA暗室的纹波性能是一个非常重要的指标,直接影响着OTA测试结果的不确定度。主要叙述了CTIA OTA实验室认可中的暗室纹波性能测量技术,具体描述了测量原理、测量方法、所用仪器及遇到问题的解决方法,研究工作对获取CTIA OTA实验室资质有着积极的意义。     

电磁兼容测试用暗室的性能设计

作为电磁兼容测试场地,半电波暗室越来越显示出其重要性.介绍了半电波暗室的基本设计方法,并举例介绍了射线法技术,给出了10m法半电波暗室的设计结果.