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高温超导体处在临界温度以下时,能隙会引起体内电子分布的改变。本文在考虑到能隙对体内电子分布影响时,分析了高温超导体的场致发射电流密度和场致发射电子能谱。 相似文献
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高温超导体在场致发射时伴随正常态部分的空穴的产生 ,会出现非平衡现象。这会引起超导体电子平衡态的化学势偏移 ,增加外电场在高温超导体发射体内的穿透深度 ,使导带底弯曲影响超导体场致发射的电流。 相似文献
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为研究场致发射的温度效应对微波管中爆炸电子发射过程的影响,在对比分析低温条件下的场致发射电流密度Fowler-Nordheim(FN)和一般的电子发射电流密度积分公式的基础上,利用细长圆柱形微凸起模型,重点考虑焦耳加热和热传导两个因素,编程计算得到了微凸起内部的温度分布和不同位置处温度随时间的变化。结果表明:场致发射的温度效应是一个重要影响因素,考虑温度对场致发射的影响后,微凸起内部各点的温度随时间呈非线性增长,且增长速率越来越大;在微波电场强度较弱时,若不考虑场致发射的温度效应而直接用FN公式表示的电流密度代入计算,会使爆炸发射延迟时间变短;当微波电场很强时,温度效应对爆炸发射延迟时间的影响则较小。 相似文献
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为研究场致发射的温度效应对微波管中爆炸电子发射过程的影响,在对比分析低温条件下的场致发射电流密度Fowler-Nordheim(FN)和一般的电子发射电流密度积分公式的基础上,利用细长圆柱形微凸起模型,重点考虑焦耳加热和热传导两个因素,编程计算得到了微凸起内部的温度分布和不同位置处温度随时间的变化。结果表明:场致发射的温度效应是一个重要影响因素,考虑温度对场致发射的影响后,微凸起内部各点的温度随时间呈非线性增长,且增长速率越来越大;在微波电场强度较弱时,若不考虑场致发射的温度效应而直接用FN公式表示的电流密度代入计算,会使爆炸发射延迟时间变短;当微波电场很强时,温度效应对爆炸发射延迟时间的影响则较小。 相似文献
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"运用电子束诱导沉积技术在钨针尖表面沉积钨纳米线.在透射电子显微镜中,原位测量单根纳米线的电阻与场发射特性,并观察其显微结构变化.样品台为特制的电性能测试样品台,包括步进电机和压电陶瓷驱动的装置.导电铜片作为与纳米线相对的另一极.自行设计制作锁相放大器电路测量纳米线的电阻.结果表明,纳米线的电阻为0.1*10-3 -m量级.纳米线头部的几何缺陷将影响其场发射特性.纳安级电流将改变纳米线头部的几何结构与微观结构.场发射开启电压比结构变化前低11 V左右." 相似文献
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在考虑平面型摆动器(Wiggler)场误差△B(z)的情况下,求解电子在磁场中运动的洛仑兹(Lotentz)方程,得到场误差对电子横向速度的改变,然后作傅里叶变换即为电子自发辐射谱的改变,并讨论了各种场误差对自由电子激光器自发辐射谱的影响,选择北京自由电子激光器(BFEL)参数,进行模拟,最后确定出各种场误差的可接受条件。 相似文献
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采用蒙特卡罗方法,模拟了O2非平衡态直流放电等离子体过程。计算了不同E/N条件下电子在氧气中的漂移速度,结果与实验数据符合得很好。模拟了电子平均能量和电子激发态粒子数随E/N的变化关系。提出了一种通过监测两条紫外谱线202.6和280nm强度之比来监测电子平均能量的方法。该方法对于非平衡态气体放电等离子体在材料制备、激光应用及微电子技术等领域中的应用具有重要意义。 相似文献
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Electron temperature fluctuation in the HT-7 Tokamak plasma observed by electron cyclotron emission imaging 下载免费PDF全文
The fluctuation of the electron temperature has been measured by
using the electron cyclotron emission imaging in the Hefei Tokamak-7
(HT-7) plasma. The electron temperature fluctuation with a broadband
spectrum shows that it propagates in the electron diamagnetic drift
direction, and the mean poloidal wave-number $\bar{k}_{\theta}$is
calculated to be about 1.58 cm-1, or
\bar{k}θ ρs≈ 0.34. It indicates that the
fluctuation should come from the electron drift wave turbulence. The
linear global scaling of the electron temperature fluctuation with
the gradient of electron temperature is consistent with the mixing
length scale qualitatively. Evolution of spectrum of the fluctuation
during the sawtooth oscillation phases is investigated, and the
fluctuation is found to increase with the gradient of electron
temperature increasing during most phases of the sawtooth
oscillation. The results indicate that the electron temperature
gradient is probably the driver of the fluctuation enhancement. The
steady heat flux driven by electron temperature fluctuation is
estimated and compared with the results from power balance
estimation. 相似文献