等离子体增强化学气相沉积法制备含氢类金刚石膜的紫外Raman光谱和X射线光电子能谱研究

利用脉冲辉光放电的方法,在硅片上采用不同的沉积工艺制备了含氢类金刚石膜层,并采用Raman光谱和X射线光电子能谱(XPS)对膜层进行表征.用Raman光谱仪在波长为325 nm的紫外光源的激励下观察膜层的键结构.紫外Raman光谱对含氢类金刚石膜是非常有用的,它能有效避免可见光Raman光谱测量时的荧光干扰,清晰地得到膜层的D峰和G峰.同时利用XPS分析得到膜层的sp3键含量,并与Raman光谱所得数据进行比较.通过Raman光谱和XPS分析可以发现,在紫外光源的激励下,膜层的G峰峰位向高频移方向移动,G峰峰位、I(D)/I(G),G峰半高宽和sp3键含量之间存在一定的关系.     

X射线光电子能谱

X射线光电子能谱（X-ray photoelectron spectroscopy, XPS）技术也被称作用于化学分析的电子能谱（electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA）.XPS属表面分析法,它可以给出固体样品表面所含的元素种类、化学组成以及有关的电子结构重要信息,在各种固体材料的基础研究和实际应用中起着重要的作用.文章简要介绍了XPS仪器的工作原理和分析方法,并给出了XPS在科学研究工作中的应用实例.     

X射线光电子能谱

X射线光电子能谱（X-ray photoelectron spectroscopy，XPS）技术也被称作用于化学分析的电子能谱（electron spectroscopy for chemical analysis，ESCA）．XPS属表面分析法，它可以给出固体样品表面所含的元素种类、化学组成以及有关的电子结构重要信息，在各种固体材料的基础研究和实际应用中起着重要的作用．文章简要介绍了XPS仪器的工作原理和分析方法，并给出了XPS在科学研究工作中的应用实例．     

发光多孔硅的X射线光电子能谱深度剖析

用X射线光电子能谱测量了经电解腐蚀后硅片表面的发光物质.发现发光膜中与发光有关的物质为硅氧化合物,其成分与二氧化硅接近,但O/Si小于2,并含有约百分之一数量级的氟,由氩离子刻蚀条件估算发光膜的厚度为微米数量级.随氩离子束的轰击,发光膜的发光强度下降,波长红移. 关键词：     

ITO靶材黑化物的X射线光电子能谱研究

利用X射线光电子能谱（XPS）分析了ITO靶材黑化物的化学组成，结果表明黑化物由In、Sn、O和C组成，相对原子百分含量In为34．35％，Sn为2．74％，O为52．65％，C为10．26％；In、Sn处于亚氧化状态；C有部分氧化。与原始靶材相比，黑化物的元素组成和化学状态发生了明显的变化。择优溅射最可能引起成分比例失常，真空残余的合C气体和泵油蒸汽被认为是污染C的直接来源。     

离子注入层的X射线光电子能谱分析

采用金属蒸汽真空弧（MEVVA）离子源发出的强束流脉冲钨离子,对H13钢进行了离子注入表面改性研究,借助X射线光电子能谱（XPS）考察了注入表面层中钨,氧,铁的化学状态,研究发现,钨离子注入层中钨元素以替位钨和三氧化钨形式存在,铁元素以金属铁和三氧化二铁形式出现,而且各价态元素的原子比随深度而变化。     

室温合成硫化银纳米粒子及其X射线光电子能谱表征

在常温常压下制备了硫化银纳米粒子,选用廉价的氧化银和硫粉为原料,采用多聚甲醛为还原剂,并在乙二胺体系中完成了反应。所得产物用X射线光电子能谱、X射线粉末衍射和透射电镜进行了表征。X射线粉末衍射表明：产物为单斜相的硫化银;透射电子显微镜表明：产物为直径约为100nm的棒状纳米粒子,其对应的电子衍射斑点可以指标成(120)和(303),说明产物的结晶较好;X射线光电子能谱分析表明：产物中Ag属 1价而S属-2价,它们的原子个数比为Ag：S=1：0．453。对比实验表明：多聚甲醛和无水乙二胺都起了很关键的作用;多聚甲醛起了多重作用,它既是溶剂,又是中和剂,用以除去反应的副产物多个点-甲酸,从而加速了反应的进行。     

二氧化硅吸附铝离子的X射线光电子能谱(XPS)表征

用X射线光电子能谱技术研究了不同pH条件下二氧化硅对铝离子的吸附作用。在pH分别为3.74、4.25和4.88条件下,吸附在二氧化硅表面的铝离子的Al2p电子结合能依次为74.30、74.90、75.10eV。根据Al3 在水溶液中的一级水解常数pK1=4.99,认为在pH=3.74条件下,吸附在二氧化硅表面的铝离子的形态为Al3 ,而在其余两种pH条件下表面铝离子的形态为Al(OH)2 。     

GS-MBE生长的GaP/Si的XPS研究

利用X射线光电子能谱(XPS)深度剖析方法对气体源分子束外延(GS-MBE)生长的GaP/Si异质结构进行了详细的分析.其结果表明:(1)外延层内Ga、P光电子峰与GaP相相符,且组份分布均匀,为正化学比GaP.(2)在不同富PH₃流量条件下生长的样品,其表面富P量稍有不同,而GaP外延层内的测试结果相同.界面也未见有P的富集.(3)XPS剖析至GaP/Si界面附近,随外延层界面向衬底过渡,Si2p光电子峰向高结合能方向移动,且其结合能高于原衬底p型Si,接近于n型Si.但Ga、P光电子峰未发现有明显能移.(4)在XPS检测限内,外延层内和界面都未见有C、O等沾污.这一研究表明:无污染的本底超高真空、相对过剩的富₃生长环境、成功的Si衬底清洗方法等措施保证了GS-MBE生长出正化学比GaP/Si外延异质结构.     

三螺旋核酸polyU·polyA·polyU的喇曼光谱和晶格动力学研究

由于三螺旋核酸在医疗、诊断和生物技术应用中的重要性,越来越受到人们的关注.对溶于0.25mol/L的NaCl磷酸缓冲液的三螺旋核酸polyU·polyA·polyU的喇曼光谱进行了测量,在750～1250cm^-1范围内获得了高信噪比的光谱图.利用晶格动力学方法计算了Anott模型的主链振动模式.根据势能分布矩阵对每一个喇曼谱线进行了指定.结果表明polyU·polyA·polyU的三条单链具有相似的简正模式,没有一条喇曼线独属于某个单链.理论同实验符合的事实说明溶液中的polyU·polyA·polyU采用了A型结构.     

ANALYSIS OF THE X-RAY PHOTOELECTRON SPECTRA OF a-SiOCF FILMS PREPARED BY PLASMA-ENHANCED CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION

The preparation of a-SiOCF films from Si(OC₂H₅)₄, C₄F₈ and/or Ar using the plasma-enhanced chemical vapour deposition method is reported. The chemical bonding structures of the films are analysed by x-ray photoelectron spectroscopy (XPS). In the case of the films deposited from the mixture with and without Ar, the configurations of F-Si-O-Si, Si-OH, Si-O-Si, C-CF and C-F are contained. However, there is also the C-C configuration in the film prepared from the mixture with Ar. Moreover, it is found that the photoelectron peaks of Si 2p, O 1s and F 1s for the film deposited from the feeding gas with Ar show the same shift of about 1eV toward high binding energy in comparison with those for the film prepared from the feeding gas without Ar. No evidence reveals the presence of an Si-C bond in the films.     

ZY前驱体的拉曼和红外光谱研究

测试和分析了多种ＺＹ（ＺｒＯ２＋２．２５ｍｏｌ％Ｙ２Ｏ３）前驱体的拉曼和红外光谱发现采用湿化学法制ＺＹ超细粉体的过程中，氢键缔合是前驱体产生团聚的主要原因，空间阻效应是聚乙二醇控制团聚生成的主要机理，同时分析了前驱体的在水洗，加热等后处理工艺中聚乙二醇的控制团聚作用。     

ZrO2晶格振动的相关分析和ZY系统的拉曼光谱

采用Ｆａｔｅｌｅｙ相关方法，详细讨论了ＺｒＯ２四方相、单斜相和立方相晶格振动的对称性分类及其光谱活性。根据拉曼光谱判定了ＺＹ系统的相结构。     

分子晶体的高压Raman光谱及结构相变

 本文综合我们从NH₃F（氟化胺）、HCCl₃（氯仿）、HCBr₃（溴仿）、S₈（硫）和C₃N₆H₆（三聚氰胺）等分子晶体获得的高压Raman光谱数据，讨论了分子晶体Raman光谱的谱带强度，频率位移，晶场劈裂和Grüneisen常数等对压力的依赖关系。总结了分子晶体压致结构相变的光谱证据和高压新相结构确定的几种方法。     

X光光电子能谱法测定胶片中氟,硅和铝的研究

应用Ｘ光光电子能谱法测定了几种彩色胶片表面层中氟的１ｓ能级的结合能；分别比较了水处理前后、溅蚀前后胶片护膜层氟的变化，表明氟化物分布在护膜最表层，是一种易溶于水的氟化物；测定了彩色片护膜层所含硅２ｐ能级的结合能，与自制彩色片护膜层测定结果比较，优质片含一种较多负电性，用与自制片的无机硅不同的硅化物作毛面剂；对溅蚀前后优质片和自产彩色片中的硅铝比变化进行比较，提出优质彩色片Ｆ－４００的护膜层可能是双     

金激光等离子体X射线精细结构谱研究

在“星光-Ⅱ”钕玻璃激光装置上,聚焦三倍频激光束于真空室内Au微点靶表面,形成高剥离 态热等离子体光源.用Pentaerythritol(PET)(2d=0.8742nm)平晶谱仪,摄录了Au离子在0.3 —0.4nm范围内的X射线发射谱.基于相对论性多组态Dirac-Fock程序包,建立了相对论性次 组态平均能计算程序,结合自旋-轨道劈裂跃迁系(SOSA)理论,计算了Au离子类Cu至类Ge离 子细致带结构谱孤立峰的中心波长和半高全宽.26条3d—nf(n=5,6,7)类Ni至类As离子子组态 跃迁形成的 关键词： 金 精细结构 自旋-轨道劈裂跃迁系 不可分辨跃迁系 X射线     

INFRARED AND RAMAN SPECTROSCOPY IN PAPER AND PULP ANALYSIS

Infrared and Raman spectroscopy are essential analytical tools for the structural analysis of paper and pulp chemistry. The studies of cellulose, hemicellulose, lignin, thermal- and photo-induced oxidation; cross-linking; and various chemical treatments of pulp and paper products are all made possible using these forms of molecular spectroscopy. In this review, containing 70 references, a broad range of applications into pulp and paper materials, components, and processes is described from recent and classic research over predominantly the past 20 years.     

RAMAN AND INFRARED SPECTRA OF IODOFORM AT HIGH PRESSURES

ABSTRACT

Raman and infrared spectra are reported for iodoform samples in diamond anvil cells at ambient temperature and at pressures up to 5 GPa (Raman) and 10 GPa (infrared). The spectra appear to evolve smoothly and no evidence of any structural phase transitions is found. The dependence on pressure of 7 Raman and 13 infrared peak wavenumbers is presented. A large increase in intermolecular bonding strengths is confirmed, together with a moderate increase in intramolecular I-C-I bending forces. Color changes in the samples at high pressures are found to be mostly reversible, but long exposure to high fluxes of visible photons causes some molecular dissociation, with the release of iodine.