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本从薄凸透镜的反射成象原理出发,定性地解释了为什么物光经透镜后表面反射形成的倒立等大的实象时,其物距、象距都小于透镜焦距;另外介绍了逆向光路的计算方法。最后,通过薄凸透镜的反射成象原理和逆向光路的计算,推导出测量薄凸透镜的光学参量的简便方法。 相似文献
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在光学实验中,光学元件同轴等高的调节是实验上必不可少的一个重要环节,透镜同轴等高的调节通常应用透镜成像的轭原理进行,即采用“大像追小像”的方法。这种方法操作比较复杂。现介绍一种准确、快速、简便的调节方法,供大家参考。实验光路如图1,物AB经凸透镜前表面折射、后表面反射以及前表而再次折射后,在物屏上成像于A′B′。当透镜翻转180°,后表面面向物AB时。此时沿光具座导轨方向前后平移透镜,同样在 相似文献
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1989年全国第6届中学生物理竞赛决赛中,光学实验题目的部分内容是请考生采用二种较为精确的方法测量一薄凹透镜的焦距。提供的实验器具是:光源、物、薄凸透镜一块、平面镜、接收屏、米尺、参照物和光具座。由于一些考生不了解成像的条件,虽然提出了实验方法却找不到像,因而达不到测量焦距的目的。本文提出四种方法,九种测量光路,并分析各种光路成像的条件。一、成像法利用透镜成像的方法来测量透镜的焦距,包括一次成像和二次成像。测量薄凹透镜的一次成像法有两种光路,一种是将薄凸 相似文献
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薄透镜的焦距测量及测量结果评价 总被引:1,自引:1,他引:0
测量薄透镜焦距的方法很多,本文通过其中常用的两种,即物距像距法和二次成像法(又称贝塞尔法),测凸透镜焦距的实际测量及误差计算,来评价该实验结果的好坏。一、物距像距法测量凸透镜焦距 1.由凸透镜公式(图1)式中u为物距(AB),v 相似文献
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自准法测凸凹薄透镜焦距的光路图如下.该方法简单易行,物理图象清晰,不失为薄透镜焦距测量的好方法.原则上,作反光用的平面镜M和待测透镜之间的距离不大影响成像的清晰度,但平面镜过远会因反射成像时对其法线方向要求变严而使成像变暗.因此,一般认为为使成像亮度较高,测凹透镜焦距时,应尽量使平面镜M高物屏P近一些,凸透镜L;高物屏P的距离以凸透镜焦距的2倍为宜.实验表明这种选法可能会在物屏P上出现干扰像,即不是经平面镜M反射的光形成的等大倒立的实像,结果使约15%的学生产生错误测量.即使是自准法测凸透镜焦距,也往… 相似文献
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自准直法测凸透镜焦距易发生的错误 总被引:1,自引:0,他引:1
自准直法测凸透镜焦距是一种常用的比较简单的实验方法,但往往由于观测的不是凸透镜焦平面上形成的象而造成错误,本文就此问题作如下分析。自准直法测凸透镜焦距原理:如图1,当物体尸处在凸透镜的焦平面上时,由P发出的光线通过透镜L折射后成平行光,如果在透镜后面放一个与透镜光轴垂直的平面反射镜M,此平行光经M反射后再次通过透镜,仍会聚于透镜光轴的对称位置上。也就是说,象相对于物为大小相等的倒立实象,物距、象距均等于该透镜的焦距。 相似文献
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薄凸透镜是光学仪器中最重要、最基本的元件,在天文、军事、医学等众多领域发挥着重要作用。焦距是薄透镜、反射镜等光学系统最重要的特性参量,因而准确测量薄透镜的焦距则显得尤为重要。实验室测量薄凸透镜焦距的方法有物距像距法、自准直法、光电法、平行光管法等。由于采用前3种方法测量透镜焦距的精度偏低,针对该问题,提出利用平行光管法测量薄凸透镜的焦距,并对实验误差作简单分析。实验结果表明,该方法可以高精度地测量薄凸透镜焦距,相对误差仅为0.138%。因此,采用平行光管法的薄凸透镜焦距测量方法是有效可行的。 相似文献
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球面镜和薄透镜是控制光路的主要光学设备,是光的反射现象和折射现象的具体应用。搞清楚球面镜和薄透镜在各种情形下所生成的象的位置和性质,对进一步理解光学仪器的构造和原理,有十分重要的意义。 相似文献
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凸透镜焦距的测量方法和不确定度评价已经有很多研究,本文着重研究测量方法,提出了应用实物成虚像、虚物成实像方法来测量凸透镜的焦距,并与实物成实像方法进行比较和分析。本文的实验研究拓展了透镜焦距测量的方法,同时更加深入研究了透镜成像的规律,开拓了实验思路。 相似文献
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本文针对凸透镜主点及物像平面难以精确定位的问题,提出了一种以理想光学系统的物像关系为理论基础,基于高斯公式,用CCD摄像机辅助的精确测量凸透镜焦距新方法,这种方法也可以在焦距未知的情况下,求共轭距。 相似文献
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结合几何原理和激光光源的特性,提出一种应用凸透镜实物成虚像情况下简便测量凸透镜焦距的方法,该方法可以作为大学生的设计性、探究性和创新性的实验项目。 相似文献
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V. Blumová 《Czechoslovak Journal of Physics》1967,17(6):527-542
On the basis of the contrast transfer theory of optical systems, a method for calculating the optimum image plane position at image formation in white light was elaborated by a system having only a chromatic aberration so that in monochromatic light it can be regarded as perfect. The results were applied to image formation with a simple thin converging lens. The influence of the different parameters of this system on the optimum image plane position is studied and it is shown how the position of the optimum image plane also depends on the imaged spatial frequency and thus also on the structure of the imaged object. 相似文献
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