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溶胶-凝胶法制备的MgxZn1-xO纳米薄膜结构和光学性质 总被引:5,自引:0,他引:5
用溶胶-凝胶法制备了不同组分的MgxZn1-xO薄膜.X射线衍射结果表明,薄膜为具有六角纤锌矿结构的纳米薄膜,晶粒尺寸3~5nm,随着Mg进入ZnO晶格,其晶格常数变小.紫外-可见吸收光谱表明,随着Mg含量的增加带隙变宽,自由激子吸收峰明显蓝移.室温光致发光光谱由很强的且与氧空位相关的深能级缺陷发光和较弱的紫外激子发光组成,激子发光强度和缺陷发光强度比随x的增大而减小,表明Mg原子进入ZnO晶格会引起深能级缺陷的增加.Mg0.03Zn0.97O薄膜经700℃热氧化后,紫外与可见发光强度比达到30. 相似文献
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以LiNO3和Co(NO3)2为主要原料、采用溶胶-凝胶旋涂法在(111)单晶硅片上制备了LiCoO2薄膜.X射线衍射结果表明,涂液中Li+离子和Co2+离子的总浓度与配比可影响薄膜的成分.薄膜的最佳烧结温度与最佳烧结时间分别为600~700℃和30~60min.涂液中柠檬酸、聚乙烯乙二醇、去离子水的含量与热处理时的升温速率对薄膜的形貌有很大影响. 相似文献
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纳米Au-TiO2复合薄膜的溶胶-凝胶法制备、表征和性能 总被引:1,自引:0,他引:1
用溶胶-凝胶法制备了纳米Au-TiO2复合薄膜.X射线衍射、X射线光电子能谱、原子力显微镜、紫外-可见光谱及摩擦磨损实验研究表明,复合薄膜均匀致密,Au以纳米晶粒形式均匀、不连续分散镶嵌于TiO2基体中,纳米Au粒径为14~25nm;复合薄膜在可见光区有较强的吸收,吸收峰位置和强度与烧结温度和金的添加量有关;复合薄膜具有良好的抗磨减摩性能,在1N负荷下,摩尔分数为5%的Au-TiO2薄膜的摩擦系数仅为0.09~0.10,耐磨寿命多于2000滑动周次. 相似文献
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Y2O3:Eu^3+发光薄膜的溶胶—凝胶法制备、表征及图案化 总被引:7,自引:0,他引:7
采用Pechini溶胶-凝胶法制备了纳米级Y2O3:Eu^3 发光薄膜,同时,通过软石印技术得到了条纹宽度为5-60μm的Y2O3:Eu^3 图案化发光薄膜,通过X射线衍射(XRD),付里叶变换-红外光谱(FT-IR),原子力显微镜(AFM),光致发光(PL)光谱及寿命等方法对得到的发光薄膜进行了表征,XRD结果表明500℃时薄膜开始结晶,900摄氏度已结晶完全,得到了立方相的产物,图案化的条纹在烧结的过程中发生了明显的收缩(50%),Y2O3基质向掺杂的稀土离子Eu^3 发生了有效的能量传递,使得Eu^3 显示出5D0-7FJ(J=0,1,2,3,4)特征发射,寿命和光致发光光谱的研究表明,发光强度随着温度的升高而增强。 相似文献
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溶胶—凝胶法制备有机—无机纳米复合材料 总被引:19,自引:0,他引:19
溶胶-凝胶法以其温和的反应条件,尤其是低的反应温度成为有机-无机纳米复合材料制备的最有效的方法.本文根据合成路线的不同,分5个方面对用溶胶-凝胶法制备复合材料进行概要介绍. 相似文献
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溶胶-凝胶法制备光学杂化功能材料 总被引:9,自引:0,他引:9
在简述溶胶-凝胶法基本原理的基础上,介绍了设计杂化材料的原则及预掺杂法、后掺杂法和原位化学合成法三种溶胶-凝胶法制备光学杂化功能材料的途径;综述了稀土发光材料、波导材料和光致变色材料三种光学杂化功能材料,并结合国内外的研究提出开展光学杂化功能材料研究的重要方向. 相似文献
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Gd2O3:Eu3+ X射线溶胶-凝胶发光薄膜的制备与表征 总被引:2,自引:0,他引:2
高分辨率X射线成像系统要求其发光材料同时具有X射线截止本领强、光产额高、余辉短以及与光电器件波长匹配好等特性. Gd2O3:Eu3 因其优越的发光性能和Eu3 红光发射等优点而在高能射线激发发光材料中占有重要地位. 近几年发展起来的透明X射线薄膜发光材料具有更高的衬度和空间分辨率、热传导率、均匀性和附着力等优点[1], 因而有望成为取代传统荧光粉的新一代X射线成像材料. 在各种薄膜制备工艺中, 溶胶-凝胶法以其价格低廉、工艺简单、制备温度低、均匀性好、可实现微量掺杂等优点而日益受到人们重视, 通过该方法并辅以适当的后处理工艺可制备出透明、致密的薄膜. 相似文献
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溶胶—凝胶法制备钕玻璃纤维 总被引:1,自引:0,他引:1
钕玻璃是一种重要的光学材料。它作为激光工作物质已在激光核聚变、中小能量器件、波导激光器和光纤通讯上获得重要的应用。制备钕玻璃及其纤维通常需要在高温熔融状态下进行,操作条件苛刻。溶胶-凝胶法是在较低温度下制备无机材料的新方法,目前正受到人们的重视。 相似文献
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溶胶-凝胶法制备薄膜型TiO2光催化剂 总被引:26,自引:0,他引:26
用TiCl4作原料,通过溶胶-凝胶法在单晶硅基片上制备了TiO2纳米薄膜,并用XRD,AES,XPS以及紫外反射光谱等手段,对TiO2薄膜的结构进行了研究.结果发现,TiO2薄膜以锐钛矿型晶相存在.TiO2薄膜层与硅衬底间无明显的界面扩散反应.掺杂的Pd在还原前的薄膜中以氧化态存在,还原后则以高分散的金属态存在.掺杂的Pt在还原前后均以金属态存在,但还原后产生颗粒聚集.掺杂Pd的TiO2薄膜经还原后,其紫外吸收强度明显提高,主吸收峰发生红移. 相似文献
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