集成光学 光电集成与器件

TN256 2005010336 基于NPS的集成光学型光隔离器的研究=Design and application of a quick fault detection and optical path automatic switching system[刊,中]／王巍(重庆邮电学院．重庆),兰中文…∥电子测量与仪器学报．-2004,18(1)．- 72-77 介绍了集成光学型光隔离器的两种构型,着重讨论了基于非互易相移(NPS)的集成光学型光隔离器。对于构成集成光学型光隔离器的关键构件磁光波导的理论基础,     

激光器件 激光参数测量

TN247 2005031759 基于面阵CCD的激光光束参数测量系统精度分析=Anal- ysis on the accuracy of beam parameter measurement by u- sing CCD array[刊,中]／曹一磊(北京理工大学信息科学 技术学院光电工程系．北京(100081)),高春清∥光学技 术．-2004,30(5)．-583-586 研究了使用面阵CCD探测器测量激光束空间参数中 的问题,采用计算机模拟的方法讨论了CCD的积分范围、 动态范围、A／D转换量化精度和光斑最大光强对于光束参     

激光器件 半导体激光器

TN248．4 2005031721 一种大功率半导体激光器恒温控制系统的设计=Design of thermostat system for high power semiconductor laser [刊,中]／蒋和伦(重庆工商大学计算机科学与信息工程学 院．重庆(400067))∥半导体光电．-2004,25(4)．-320-322 介绍了利用高效、大功率H桥驱动集成块DRV592 作为热电致冷器的驱动器构成大功率激光二极管恒温致 冷系统的方法。该系统温度探测器利用软件实现负温度     

光电子技术与器件 光电成像与器件

TN386．5 2005053721 CCD与CMOS图像传感器探测性能比较=Comparison of detection performance in CCD and CMOS image sensors [刊,中]/宋敏(大连民族学院光电子技术研究所．辽宁,大连 (116600))．郐新凯…∥半导体光电．-2005．26(1)．-5-9     

辐射与发光 发光与发光器件

IN312．8 2005031617 850 nm超辐射发光二极管=Superluminescent diodes at 850 nm[刊,中]／廖柯(重庆光电所．重庆(400060)),刘刚 明…∥半导体光电．-2004,25(4)．-257-261 设计并制作了一种用于中低精度光纤陀螺系统的850 nm超辐射发光二极管,对器件的波导模式进行了分析,给 出了主要技术参数的设计和测试结果。实验结果表明,器     

薄膜光学 薄膜材料与器件

TB43 2005010438 紫外波段干涉截止滤光片=Optical filter of interference of cut-off in UV[刊,中]／林永钟(福建师范大学激光研究所．福建,福州(350007))∥福光技术．-2004,26(1)．-17-19 介绍紫外波段干涉截止滤光片的设计、制备工艺及实验结果。图3参2(于晓光) TB43//TN248．4 2005010439 MOCVD生长薄膜材料制作半导体可饱和吸收镜=Saturable absorption mirror grown by MOCVD[刊,中]／王勇刚     

光电子技术与器件 光学传感、传感器

TP212．12 2005032107 采用电流镜积分读出电路的X射线图像传感器=X-ray image sensor with a current mirror integration readout cir- cuit[刊,中]／张文普(重庆大学光电技术及系统教育部重 点实验室．重庆(400044)),袁祥辉…∥光电工程．-2005, 32(2)．-71-74 研制采用电流镜积分高性能读出电路的X射线图像 传感器(CMI-X-IS),传感器像元由采用CMOS工艺的光 电二极管实现。利用电流镜将产生的光电流变成镜像并     

光电子技术与器件 电视、电视技术

TN948．41 2005053727 CMOS 64×64焦平面高帧频摄影机的研制=Development of CMOS 64×64 focal plane camera with high frame-fre- quency[刊,中]／彭秀华(重庆光电技术研究所．重庆 (400060)),蒋志伟…∥半导体光电．-2005,26(1)．-62- 65 给出了CMOS 64×64焦平面高帧频摄像机的电路框 图,叙述了摄像机的工作原理。详细地叙述了焦平面、探 测器响应度、信号读出电路的设计以及摄像机的可靠性设 计,并给出了焦平面的工作时序图。图10(严寒)     

光电子技术与器件 光显示与显示器件

TN141 2005021352 显示器件发展趋势=Development trends of display devices [刊,中]／阎璋(华东电子集团公司．江苏,南京(210028)) //光电技术．-2004,45(4)．-33-36,50 介绍了当今市场各种显示器的研发现状和发展趋势 以及销售情况。图2参1(杨妹清) TN141．9 2005021353 液晶投影显示颜色均匀性的测量及校正系统=Measure-meat and correction system of color uniformity of liquid crystal projection display[刊,中]／陈颖(浙江大学现代光     

光电子技术与器件 光探测与器件

O434．22 2005032089 GaN基紫外光探测器研究进展=Research progress in GaN-based semiconductor UV detectors[刊,中]／徐立国 (北京工业大学电子信息与控制工程学院．北京(100022)),谢 雪松…∥半导体光电．-2004,25(6)．-411-416 介绍了不同类型的GaN基半导体光电探测器的结构 和性能,回顾了其发展历史,并且综述了GaN基紫外光电 探测器的研究新进展。图3参25(严寒) O434．22 2005032090 6H-SiC pn结紫外光探测器的模拟与分析=Simulation and analysis of 6H-SiC pn junction ultraviolet photodetector [刊,中]／周拥华(西安电子科技大学微电子研究所．陕西,     

摄影光学 摄影技术及其装置

TB853．1 2006065266可见光CCD摄像机高灵敏度设计=Design of visible light CCD cameras with high sensitivity[刊,中]/李凤苓(重庆光电技术研究所．重庆(400060)),周旭东…//半导体光电．—2006．27(3)．—346-348介绍了一种可见光CCD摄像机的设计,就如何保证高灵敏度和降低噪声进行了探讨。图6参4(严寒) TB853．21 2006065267 X光条纹相机时间性能标定=Temporal characteristic cali- brationfor X-ray streak cameras[会,中]/黄翼翔(中物院     

光电子技术与器件 光电成像与器件

TN144 2005010470 微通道板电子透射膜的工作特性=Operating effectiveness of electron transmission film at the input of MCP[刊,中]／阎金良(烟台师范学院物理系．山东,烟台(264025))∥光子学报．-2004,33(2)．-164-166 利用静电贴膜技术在MCP输入面制备了4 nm厚 Al2O3非晶态电子透射膜．此工艺不造成MCP通道壁内表面碳污染。探讨了贴膜与气体辉光放电的关系,测量了 MCP电子透射膜的电子透过特性和离子阻挡特性。实验表明．4 nm厚Al2O3非晶态电子透射膜能有效地透过电子,阻止反馈离子。图4参6(严寒)     

光电子技术与器件 光电成像与器件

TN386.5 2007054617基于CDS技术的CCD噪声信号处理=CCD noise signal processing based on CDS[刊,中]/张林(合肥学院电子系.安徽,合肥(230022)) ,宋寅…//半导体光电.? 2007 ,28(2) .? 265-267 ,272针对CCD输出噪声特点,建立噪声传输函数及其分析模型,利用相关双采样(CDS)技术对CCD输出信号中的复位噪声进行了理论分析和相关测试。结果表明,只要选择合适的采样时间,可以最大限度地抑制复位噪声。图5参10(杨妹清)TN386.5 2007054618基于PCI及DDR的光纤接口CCD图像采集卡设计=De-sign of fiber interface card for gathering …     

光电子技术与器件 光显示与显示器件

TN141 2005010502 关于平视显示器环境应力筛选试验条件的分析=Analysis on conditions of environmental stress screening test for HUDs[刊,中]／李春亮(中国航空第一集团公司洛阳电光设备研究所．河南,洛阳(471009))／／电光与控制．-2004, 11(1)．-44-47 针对平视显示器产品环境应力筛选,指出了现行方案中存在的问题,提出了改进的具体建议。图1参2(严寒)     

光电子技术与器件 光探测与器件

TN364．2 2005021317 InGaAs-APD门模单光子探测及其应用=Gated-mode sin- gle-photon detection and its applications using InGaAs- APD[刊,中]／周金运(广东工业大学应用物理学院．广东, 广州(510090)),彭孝东…//量子电子学报．-2004,21 (4)．-401-405 对单光子探测使用InGaAs-APD并采用门模控制的 核心问题进行了阐述,总结了探测器件的特性和门模控制 系统的特点,归纳了在这种探测方式中实际存在的问题和 可能解决的方法,最后着重介绍它在量子保密通信中的应     

光电子技术与器件 光显示与显示器件

TN141．9 2005042929 DSP实现液晶显示图形的技术及应用=Technology and application of LCD displaying graph by DSP[刊,中]／王小凤(西安石油大学光纤传感实验室,陕西,西安(710065)), 乔学光…／／液晶与显示．-2005,20(1),-57-60 基于点阵液晶显示模块DMF50174在解调仪器系统中的应用,介绍了DSP芯片TMS320VC33与该模块的外置控制器SED1335之间的硬件组成和接口设计,采用移位置点法在液晶屏上任意位置显示点和直线,并介绍了DSP 进行数据采集的硬件接口电路以及通过软件设计将输入     

光电子技术与器件 红外技术与器件

TJ765．3 2005053748 防红外成像制导伪装技术途径探讨=Study on camouflage approachs against infrared imaging guide[刊,中]／胡江华 (解放军理工大学工程兵工程学院．江苏,南京(210007)), 秦建飞…∥红外技术．-2005,27(2)．-119-123 论述了战场目标防红外成像制导伪装的必要性。在 分析红外成像制导基本原理的基础上,提出了相应的伪装 对抗技术途径和方法。图3参6(严寒)     

电荷耦合器件点扩展函数的蒙特-卡罗模拟

电荷耦合器件(CCD)是成像系统的关键器件,CCD器件的点扩展函数(PSF)是整个成像系统PSF的重要部分。采用背部入射、部分耗尽CCD,分析了载流子在CCD中的运动过程,推导了计算CCD的PSF的解析公式。对CCD进行物理建模,用蒙特-卡罗方法进行粒子跟踪模拟计算得到了PSF,并能和解析公式计算得到的PSF很好的吻合。系统分析计算了CCD的主要特性参数,如响应度、线性度和调制传递函数(MTF)等。模拟研究了入射光波长和CCD自由层宽度对CCD的PSF的影响,结果表明较窄自由层宽度和长波易得到较好的PSF。     

光学工艺 微细加工技术与设备

TN305．7 2005053954 光刻工艺中缺陷来源的分析=Analysis on defect sources in photolithographic process[刊,中]／邓涛(重庆光电技术 研究所．重庆(400060)),李平…∥半导体光电．-2005, 26(3)．-229-231 对半导体集成电路和器件制作过程中光刻工艺产生 的各种缺陷种类及来源进行了集中分析,提出了一些减少 或消除这些缺陷的办法和措施。图1(于晓光) TN305．7 2005053955 用完全非共振光驻波聚焦原子制作纳米结构分析=Anal-     

光电子技术与器件 红外技术与器件

TN213 2005032136 影响红外反射涂层降温性能的因素=Effect of reducing temperature properties of the infrared scattering coating [刊,中]／孙元宝(中国人民解放军空军后勤学院四系．江 苏,徐州(221000)),韩涛…∥红外技术．-2004,26 (4)．-73-75,80 研究了影响红外反射降温涂层的因素,分析了涂层颜 料体系的特点及提高热辐射能力的方法,提高了涂层的降 温能力。图4表2参3(严寒)