国外光学测试技术

光学测试技术应用面很广,它可以用于完成:对光学量本身的测定如光波的速度、频率、位相、光度、色度、光谱等测量;介质的光学常数测量;光学工业中对光学玻璃、透镜、反射镜、棱镜和光学系统各参数和性能的测试;还可以用于测定长度、角变、形状、变形、振动、温度、速度、加速度等。因此,光学测试技术广泛地应用于天文、气象、地理、生物、医学等学科中,也广泛地应用于工业和国防科学技术中。     

应用移相干涉术测量量块长度和长度变动量

研究了应用移相干涉术测量新的一等量块的方法。对于干涉图像进行多幅图的采样，由移相法计算量块测量面和与其研全的辅助平晶表面的波面面形，着重研究了在量块干涉图中有阶跃不连续的波面复原运算的原理与技术，得到一幅表征它们表面的离散滤差值，并给出量块工作面长度和长度变动量的测量结果。     

非接触式位移传感器——光学测微计

一、概述在量纲分析中,测量长度这个重要量纲的装置,正在社会上得到广泛研究和应用。在接触式长度测量装置中,有度盘式仪表、游标卡尺和测微计等,是产业界常用的测量工具。由于现代电子学的发展与工业生产效率的相互促进,生产中的自动化、轻型化浪潮汹涌,对非接触式快速、高精度地测量长度的要求更加紧迫了。针对这样的社会需要,促进了光学、超     

光子晶体的光学特性与近场光学测量表征

光子晶体具有独特而优异的光学特性及广泛的应用前景。介绍了光子晶体的概念、应用、发展,着重讨论了光子晶体的光子禁带、光子局域以及其它光学特性。从近场光学的原理和实验技术出发阐述了近场光学测量表征光子晶体的方法,对于光子晶体的研究具有重要的意义。     

一种光学频率梳绝对测距的新方法

采用光学频率梳的高精度绝对距离测量技术在航空航天、科学研究和工业生产等领域都发挥着重要作用.提出一种利用光学频率梳技术,通过检测光强实现绝对距离测量的新方法,研究了光学频率梳发出脉冲的时间相干性,分析了光强与被测距离之间的关系、干涉条纹峰值点位置与被测距离之间的关系.建立了基于Michelson干涉原理的测距系统,通过测量光强信息得到被测距离.以高精度纳米位移平台的位移量作为长度基准进行了绝对测距实验,在每个被测距离点都重复进行了10次实验,将10次实验测得的光强值取平均后用于距离的计算.实验结果表明,该方法可以实现绝对距离测量,在10μm测量范围内,最大误差为47 nm.因此,该方法可以应用于大尺寸高精度的绝对距离测量.     

空间载频干涉法全场测量长度技术

 在研究二维快速傅里叶变换法进行干涉测试基本原理的基础上,提出一种基于二维快速傅里叶变换的长度测量法.以量块长度的测量为对象,被测量块置于泰曼-格林干涉仪测试光路中,参考光波分别与待测长度的量块表面和辅助平面反射的测试光波形成干涉条纹,条纹由图像采集系统采集.利用编制的算法处理软件,通过处理干涉条纹图中量块边缘识别、区域延拓、滤波、波面统一,获得了量块全场表面的空间长度分布,实现了对量块长度的自动化测量.结果表明：该测量法不仅具有较高的测量准确度,而且具有全场测试和非接触测量等优点.     

长度测量中干涉条纹的自动识别技术研究

利用激光干涉与数字图像处理技术以及应用FFT分析干涉条纹方法,分析并解决了测量端面长度标准中条纹图的处理技术,应用这种方法不但提高了测试过程的自动化程度,而且大大地提高了测量结果的精度,并给出了最典型的端面长度标准量块的干涉条纹小数部分的实测结果.     

空间载频干涉法全场测量长度技术

在研究二维快速傅里叶变换法进行干涉测试基本原理的基础上,提出一种基于二维快速傅里叶变换的长度测量法.以量块长度的测量为对象,被测量块置于泰曼-格林干涉仪测试光路中,参考光波分别与待测长度的量块表面和辅助平面反射的测试光波形成干涉条纹,条纹由图像采集系统采集.利用编制的算法处理软件,通过处理干涉条纹图中量块边缘识别、区域延拓、滤波、波面统一,获得了量块全场表面的空间长度分布,实现了对量块长度的自动化测量.结果表明:该测量法不仅具有较高的测量准确度,而且具有全场测试和非接触测量等优点.     

用激光干涉法测量长度的智能化处理技术研究

介绍利用激光干涉与数字图像处理技术以及应用FFT分析干涉涤纹方法，分析并解决测量端面长度标准中条纹图的处理技术。应用这种方法不但提高了测试过程的自动化程度，而且大大地提高了测量精度。文中给出了最典型的端面长度标准量块的干涉条纹小数部分的实测结果。     

科研成果报导——高精度激光量块干涉仪研制成功

<正> 最近,中国计量科学研究院西南分院、上海市标准计量管理局、中国计量科学研究院、宁江机床厂、上海科学仪器厂和云南光学仪器厂紧密协作,联合研制成功了我国第一台检测高精度量块的激光量块干涉仪。实现了100毫米以下量块自动测量和大量块高精度测量。经国家鉴定:仪器具有精度高、测量效率高(与柯氏干涉仪相比至少高十倍)、操作方便等优点。仪器将投入全国基准量块和一等标准量块的量值传递工作。     

陕西光学学会举办“光学测量与像质鉴定”学习班

陕西省光学学会和中国兵工学会光学学会光学工艺与测量专业组,拟于八月一日在西安工业学院联合举办“光学测量与象质鉴定”学习班,各项准备工作现在已经基本安排就续。     

光学石英玻璃简介

<正> 光学石英玻璃在近代科学技术中有广泛的用途,它已成为空间技术、宇宙航行、无线电工业不可缺少的材料。下面仅对光学石英玻璃的制造方法和分类及其各种缺陷做一介绍,光学石英玻璃的一般光学特性可参阅有关标准和书籍。     

国外光学测试技术(续)

四、干涉测试技术虽然上述的三种测试技术也是基于光的干涉,但这里是指通常的干涉技术。干涉技术广泛地应用于光学工业中。牛顿环、     

指向精度对光学姿态测量精度的影响分析

为验证光轴指向误差对光学姿态测量精度的影响程度,并为后续实况类设备实现姿态测量提供理论依据,以中轴线法为依据,对算法步骤进行拆分,并对光轴指向误差的影响进行溯源,得出指向误差影响姿态处理结果可从两个方面进行分析。同时对模型内交会算法的直接影响和模型外动态基准的间接影响进行推导分析,将仿真计算和实测数据进行结合验证,获取了在典型中长远光学姿态测量中指向误差200″对姿态角误差不超过0.1°的结论,为现有姿态测量可靠性分析以及后续靶场设备能力拓展奠定了理论基础。     

光学元件的薄膜镀层

工业薄膜技术从广义上讲是一门学科,用这项技术能够设计和制造出高度专业化的光学元件。Leybold AG的薄膜中心可设计适用于精密光学、工业光学、光电子学以及传感器技术的复杂优质镀层。例如,在光学玻璃上镀制能耐高温的金属氧化物分光膜。典型镀膜技术要求应包括宽带、单色波长入射角范围内的分束、透射光束与反射光束的     

光学傅里叶变换镜头

一、序 言 光学信息处理是光学中最近十几年中发展起来的新学科,它把通讯理论中的基本概念和技术引进到光学领域,并随着激光技术和全息照相技术的发展以及电子计算机的广泛应用而迅速发展起来. 光学信息处理包含的内容很广泛.用光学方法处理声、电、光信号,以及用光学、电子学、数字计算机方法处理图象等都是它的内容.仅就图象处理而言,就有图象规整和纠正技术,图象的改善与增强,图样识别,信息的压缩、储存、编码、译码、图象传输和成图技术等方面. 光学信息处理在地球资源考察、医疗诊断、环境污染的监视、高能物理中的乳胶识别以及合成孔…     

光学技术杂志简介

<正> 《光学技术》杂志是由机械电子工业部仪器仪表司和中国燕兴总公司主办、北京理工大学工程光学系《光学技术》杂志社编辑、国防工业出版社出版的光学行业综合性科技刊物。1975年创刊,现为双月刊。光学技术杂志主要交流国内外科研成果、生产技术,沟通科研、生产、教学之间的联系,普及科学知识,以促进光学工业技术的发展。本刊适合于从事光学行业的广大工程技术人员、工人、技术管理干部及大专院校师生阅读。本刊主要内容包括光学材料、光学辅料、光学零件加工工艺、光学测试技术、光学仪器仪表、光学设计以及激光、微光、全息等近代光学,同时还开辟有技革简讯、国外光学、咨询与转让、问与答、在光学战线上和广告等专栏。     

高精度光学以稳态Mach—Zehnder干涉仪光纤传感器

本文提出了长度和温度测量精度分别为10^-10m和10^04℃的一种新型光纤传感技术，这种新型传感器是传统的Mach-Zehnder干涉仪传感器和光学双稳装置的结合。在干涉仪的一臂插入一相位调制器，通过臂两臂的光束干涉后，再经探测器转变为电压信号，反馈控制调制器。测量是通过计算与光学双稳态开关次数相应的电子脉冲数完成。本技术的主要优点在于具有高测量精度和可区分被测量的变化方向。     

光学干涉仪测量极限的本科实验教学演示研究

光学干涉仪是广泛应用于量子精密测量的一种重要的光学仪器,然而由电磁场真空涨落引起的光量子噪声,限制了光学干涉仪的测量精度。为了获得更高的测量精度,测量并分析光学干涉仪的性能成为必然,其中信噪比和最小可探测值是目前最常用的分析光学干涉仪性能的主要参数。然而,在目前本科实验教学中,光学干涉仪通常被用于观察光干涉原理,缺乏对光学干涉仪性能分析的实验演示,因此本文利用Mach-Zehnder干涉仪,测量相位调制器引起的相位差变化,实现光干涉原理验证的同时,重点演示了光学干涉仪信噪比和最小可探测值的测量方法。通过本实验,本科生一方面可以直观地掌握光学干涉仪性能参数的测量方法,另一方面掌握提高测量精度的实验技术手段,为量子精密测量技术的进一步发展提供人才储备。     

利用光学渡越辐射进行强流束诊断

当匀速运动的带电粒子通过介质交界面时，在库仑场重建的过程中，会产生渡越辐射，位于可见光波段的渡越辐射被称为光学渡越辐射（OTR）。它作为一种束流诊断工具，具有空间分辨率高、时间响应快、多参数同时测量、对束流影响小、装置简单等特点，能够测量束剖面、发散角、发射度、能量、束流的宏脉冲长度和微脉冲长度等多个参数，因此在国外加速器领域得到了比较广泛的应用。