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利用同步辐射光电子能谱,研究了室温下在GaAs(100)表面上淀积的Mn的超薄膜的电子结构.实验发现,在θ<2ML的覆盖度下,Mn3d电子的能量态密度分布与体金属α-Mn差别很大当θ>2ML之后,便逐步接近α-Mn的体电子结构.这一结果可由Mn3d电子的自旋向上带和自旋向下带的交换分裂很好地解释.由此推断,当覆盖度θ<2ML时,在GaAs(100)表面上淀积的Mn的超薄膜具有磁有序结构
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用同步辐射光电子能谱测量了Si/ZnS(111)及(100)异质结的价带偏移ΔEv.对于Si/ZnS(111)及(100)两界面,ΔEv的实验结果均为(1.9±0.1)eV,与已有理论预期值相当符合,但与Maierhofer所报告的ZnS/Si(111)异质结测量结果之间则存在明显差别.该实验结果表明对于Si/ZnS极性界面,互逆性规则(commutativity rule)可能不成立,就此进行了讨论.
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利用同步辐射光电子能谱研究了Fe/ZnO生长模式、界面化学反应和电子结构.结果表明,Fe在ZnO(0001)表面以类SK模式生长(单层加岛状生长).当沉积约2?的Fe后,生长模式开始从二维层状生长转变成混合模式生长.界面价带谱和Fe3p芯能级谱的分析表明,在低覆盖度下,约有一个原子层(约1.5?)的Fe被ZnO(0001)面的外层O原子氧化,随着沉积厚度的增加,金属态Fe的信号逐渐增强.当吸附了5.1?的Fe时,出现了较强的金属Fe的Fermi边,说明出现了Fe的金属态.此外,在Fe原子吸附过程中,样品功函数在Fe厚度为0.2?时达到最小值4.5eV,偶极层形成后逐渐稳定在4.9eV. 相似文献
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利用同步辐射光电子能谱研究了Fe/ZnO生长模式、界面化学反应和电子结构.结果表明,Fe在ZnO(0001^-)表面以类SK模式生长(单层加岛状生长).当沉积约2A的Fe后,生长模式开始从二维层状生长转变成混合模式生长.界面价带谱和Fe3p芯能级谱的分析表明,在低覆盖度下,约有一个原子层(约1.5A)的Fe被ZnO(0001)面的外层0原子氧化,随着沉积厚度的增加,金属态Fe的信号逐渐增强.当吸附了5.1A的Fe时,出现了较强的金属Fe的Fermi边,说明出现了Fe的金属态.此外,在Fe原子吸附过程中,样品功函数在Fe厚度为0.2A时达到最小值4.5.eV,偶极层形成后逐渐稳定在4.9eV. 相似文献
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利用X射线衍射(XRD),X射线光电子能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)对Pd/W/Si(111)界面进行了研究。实验结果表明,当系统作低温退火时,受W膜的阻挡,未生成硅化物,但Pd/W界面和W/Si(111)界面均有互扩散。升高退火温度,Pd-W原子在Si衬底上形成互溶体,Pd原子已穿过W阻挡层而到达W/Si(111)界面处,随着退火温度的继续升高,首先在W/Si(111)界面处生成PdSix,WSix也随之生成,这样就形成Pd-W原子分布的“反转”,在薄 相似文献
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利用低能电子衍射(LEED)、X射线光电子能谱(XPS)、电子能量损失谱(EELS)、紫外光电子能谱(UPS),对室温下Mn在GaAs(100)4×1表面的淀积过程进行了研究。研究结果表明,当锰的覆盖度θ≥0.25nm时,LEED图案完全消失,表明Mn没有生长成单晶。LEED,EELS的结果都表明淀积初期是层状生长的。对XPS的Ga2p3/2,As2p3/2的峰形、强度进行分析,可以知道在很小的覆盖度下,Mn就与衬底反应。置换出的Ga被局限在离原来的界面约3nm
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研究—H,—O或—OH基吸附于表面的纳米硅集团电子结构的变化情况.选取了几种可能的吸附构型,用定域密度泛函(LDF)-集团模型数值自洽求解方法的第一性原理计算,求得优化的吸附位置、相应的电子结构,并分析了有关的光学性质.在全氢饱和的情况下,能隙比硅体的宽,呈明显的量子尺寸效应;部分—H被—O原子取代后,在禁带中出现一些“尾态”,这些态部分被占有;若以—OH基取代—O,则相应的空尾态被占有,但带隙变化不大.—O和—OH吸附时均不呈现明显的量子尺寸效应
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利用同步辐射光电发射和铁磁共振(FMR)研究了Co/GaAs(100)界面形成以及Co超薄膜的磁性质.结果表明,在低覆盖度(约为0.2nm)下,Co吸附原子与衬底发生强烈的界面反应,在覆盖度为0.9nm时,形成稳定的界面.从衬底扩散出的Ga原子与Co覆盖层合金化,而部分As原子与Co原子发生反应,形成稳定的键合,这些反应产物都停留在界面处很窄的区域(0.3—0.4nm)内.另一部分As原子偏析在Co覆盖层表面.结合理论模型,详细地讨论了界面结构及Ga,As原子的深度分布.FMR结果表明,生长的Co超薄膜具
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利用紧束缚近似下的格林函数方法,讨论了Si中硫属元素混对杂质(即S0/Se0,S0/Te0和Se0/Te0)基态的电子结构。混对杂质在Si禁带中引入两个A1能级,其中成键性的A1能级位置在反键性的A1能级之上。数值计算得到的混对杂质能级与实验符合得相当好。理论分析表明,在Si中测到的那些未定的比最近邻混对杂质能级更浅的能级(S0/Se0(X1),S0/Te0(X1),Se0/Te0(X1)…)不是由非最近邻位型的混对杂质引入的。本文还指出了一个极性分子放入Si晶体中,两个不同原子间s波函数的转移方向与通常极性分子相反,并讨论其物理原因。
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The interface formation and electronic structures of the Mn/GaP(100) interface are studied with synchrotron radiation photoemission, At the early stage of Mn deposition, Mn covers the whole GAP(100) surface. With the increase of coverage, Ga atoms can be exchanged by Mn atoms and diffuse into the Mn overLaycr. However, P atoms remain always near the interracial region. A sigaificant difference of the electronic structures is observed between the ultra-thin and the thick Mn films. The explanations for this are given in the text. 相似文献
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The defects at the Si/SiO2 interface have been studied by the deep-level transient spectroscopy (DLTS) technique in p-type MOS structures with and without gold diffusion. The experimental results show that the interaction of gold and Si/SiO2 interface defect,Hit(0.494), results in the formation of a new interface de-fect, Au-Hit(0.445). Just like the interface defect, Hit(0.494), the new interface defect possesses a few interesting properties, for example, when the gate voltage applied across the MOS structure reduces the energy interval between Fermi-level and Si valence band of the Si surface to values smaller than the hole ionization Gibbs free energy of the defect, a sharp DLTS peak is still observable; and the hole apparent activation energy increases with the decrease of the Si surface potential barrier height. These properties can be successfully explained with the transition energy band model of the Si/SiO2 interface. 相似文献