液体透镜的透射波前特性研究

液体透镜是一种新型光学元件,通过改变表面曲率而调整光焦度.液体透镜的透射波前质量会影响成像质量,将液体透镜应用于精密光学系统需要探明其透射波前变化特性.通过理论和仿真分析液体透镜通光孔径内不同高度入射光线的光程差随曲率半径的变化,以及光程差对光焦度的敏感性,以此研究光瞳空间内光程差微变的一致性.分别测量液体透镜在零、正...     

用牛顿环产生的干涉条纹测量液体的折射率

提出了用牛顿环实验装置,通过测量干涉条纹的半径来测量液体折射率的方法。     

用马赫—曾德干涉仪获得分波前干涉的圆形条纹

1引言两相于点光源（或点光源与平行光）在垂直于其连线方向的屏幕上所形成的干涉条纹为圆形条纹.由分振幅干涉装置如迈克尔孙干涉仪、牛顿环仪等可以很容易地产生圆形条纹.但对于分波前干涉装置如杨氏双缝、双棱镜、双面镜、洛埃镜、比累对切透镜等，要产生圆形条纹却非常困难，甚至不可能，即使对于比较特殊的梅斯林透镜也只能产生半圆形的干涉条纹.本文提出了一种实验方法，即对分振幅干涉装置马赫一曾德干涉仪进行适当的改进，使其产生分波前干涉并产生出圆形干涉条纹.对其条纹特点，本文进行了分析.所得到的实验结果与理论分析是一致的…     

劈尖干涉中斜干涉条纹的测量

劈尖干涉中斜干涉条纹的测量王雪冬，王红理，刘平（西安交通大学物理系７１００４９）在等厚于涉实验中，所使用的劈尖干涉装置是由两块平面国玻璃板或长方形平面玻璃板中间夹一全属箔条，同时为了固定金属箔条及防止平面玻璃的脱落而损坏，用螺旬将其固紧在胶木圈内．根...     

用马赫──曾德干涉仪获得分波前干涉的圆形条纹

马赫──曾德于涉仪做适当改进，可以产生出分波前干涉的全国形于涉条纹，并详细分析了其干涉条纹的特点，提出了一种新的实验观察方法，给出了实验结果。     

用莫尔条纹演示波的干涉原理

利用莫尔条纹，能简单、直观地演示相干波的干涉，并且还能演示非相干波叠加的现象     

利用透射光栅寻找迈克耳孙干涉仪的白光干涉条纹

介绍了借助透射光栅调整迈克耳孙干涉仪的白光干涉条纹的方法和原理，并讨论了其中的有关现象．     

干涉条纹分析的空间扫描方法

本文讨论在垂直载频条纹方向进行空间扫描方法,以干涉图来确定波前的形状,精度约为(λ/50)的标准误差.     

透射光的干涉条纹能观察到吗?

在今年的高考复习资料中有这样一道题目： 如图1是观察薄膜干涉现象的示意图，酒精灯放在金属丝圈上的肥皂液薄膜前，在酒精灯火焰上洒一些氯化钠，使火焰发出黄光，则以下说法正确的是     

Nd:YAG晶体板条低透射波前误差加工技术

针对高平均功率固体激光器对Nd:YAG晶体板条的技术需求,进行了Nd:YAG晶体板条低透射波前误差加工技术研究。详细分析了光学加工过程中引起板条端面透射波前畸变的误差来源,并提出工艺技术解决方案。实验结果表明,在板条抛光阶段通过采用合成盘硬抛光工艺以及新的工件装夹技术,能够解决传统板条加工工艺在面形及楔角精度方面可控性差的问题,更容易实现Nd:YAG晶体板条的低透射波前误差加工。对于150 mm30 mm2.5 mm规格的Nd:YAG晶体板条元件,端面透射波前畸变PV值达到0.74。     

干涉测量系统中杂散条纹影响的抑制

 为了抑制杂散条纹的影响，提出了一种简单实用的单幅三表面干涉条纹傅里叶分析法，它根据三表面干涉时各个表面干涉的条纹调制度不同，从三表面干涉图的频谱中提取测试面的频谱，从而准确地恢复测试面的面形。模拟结果证明了该方法的有效性，准确度可以达到l/1 000。实验表明：单幅三表面干涉条纹傅里叶分析法得到的面形形状与波长调谐时域傅里叶变化法和涂消光漆法得到的结果基本一致，PV值和RMS值与波长调谐时域傅里叶变化法相差分别为0.001l和0.004l，与涂消光漆法相差分别为0.042l和0.019l。通过7次单幅三表面干涉条纹傅里叶分析法测量，得到PV和RMS值的重复性分别为0.007 8l和0.002 6l。     

用于白天自适应光学的波前探测方法分析

提出了两种视场偏移哈特曼波前传感器，用于探测白天条件下强背景中目标信号的波前信息.给出了哈特曼波前传感器子孔径中焦面上天光背景非均匀性分布特征的实验结果，详细分析了基于分光棱镜的双焦面视场偏移哈特曼波前传感器的探测误差，并通过基于倾斜镜的单焦面视场偏移哈特曼波前传感器实验给出了波前测量的结果，证明视场偏移哈特曼波前传感器能够精确、稳定的测量白天条件下目标信号的畸变波前信息，同时给出了其在白天条件下探测能力的估算结果及其受限因素，估算结果表明云南天文台的自适应光学系统在10 W/m²·sr天光背景条件下应用视场偏移哈特曼波前传感器能对5等星(可视星等值)目标进行准确的波前探测. 关键词： 自适应光学 波前传感器 白天工作 误差分析     

A semi-automatic method for measuring interferometry fringes: prototype design and first results

A device for automatically obtaining the information contained in holographic interferometry fringes is proposed. The method may be applied to any kind of interferometric fringes. Accuracy has been demonstrated by contrasting the results obtained with our prototype system and those with the single-beam speckle interferometry technique for the measurement of displacements in a plane. The results show good correlation between the two series of measurements.     

对一种线性相位反演波前测量方法的数值仿真

 利用数值仿真方法对一种基于线性相位反演波前测量方法的性能进行了详细分析。讨论了这种线性相位反演波前测量方法的定标过程,描述了基于线性相位反演算法的波前传感器的基本组成结构。利用数值仿真计算,分析了系统自身像差和模式标定系数对这种波前传感器性能的影响,通过复原矩阵条件数,分析了靶面像素和这种波前测量方法的空间分辨力的关系。仿真结果验证了该种新型线性相位反演波前测量方法的可行性。     

对一种线性相位反演波前测量方法的数值仿真

利用数值仿真方法对一种基于线性相位反演波前测量方法的性能进行了详细分析。讨论了这种线性相位反演波前测量方法的定标过程,描述了基于线性相位反演算法的波前传感器的基本组成结构。利用数值仿真计算,分析了系统自身像差和模式标定系数对这种波前传感器性能的影响,通过复原矩阵条件数,分析了靶面像素和这种波前测量方法的空间分辨力的关系。仿真结果验证了该种新型线性相位反演波前测量方法的可行性。     

波荡器位相误差对自由电子激光

对波荡器位相误差对自由电子激光小信号增益的影响进行了分析讨论。对低增益情况解析地给出了波荡器位相误差引起的增益降低因子。结果表明:与自发辐射类似增益的降低与位相误差的方差成简单的指数关系，位相误差的线性变化部分引起最大增益的位移，还表明波荡器位相误差存在时Madey定理仍然成立。对高增益情况也给出了波荡器位相误差引起的增益降低因子。     

哈特曼传感器对湍流畸变波前的泽尼克模式复原误差

分析了应用哈特曼传感器测量大气湍流畸变波前时,哈特曼传感器的泽尼克模式复原误差与子孔径划分形式、泽尼克模式复原阶数等的关系,给出了科尔莫哥洛夫湍流下计算哈特曼传感器模式复原误差的公式。对比分析了8×8子孔径划分和32×32子孔径划分的两个哈特曼传感器在实际大气湍流中同步测量的实验结果。     

快速傅里叶变换与泽尼克模式拟合的条纹投影面形恢复算法

 针对条纹投影偏折法中需要多次迭代进行面形恢复,提出一种结合快速傅里叶变换（FFT）算法与泽尼克（Zernike）模式拟合的算法（FFT-尼克）。数值仿真结果表明,直接使用泽尼克模式拟合,需要迭代15次,用时1 min以上,而使用FFT-尼克算法,迭代5次已收敛到理想精度。在保证计算精度在纳米量级的情况下,计算时间也缩短了近2/3。     

干涉条纹移动的偏振法

本文根据二个椭圆偏振光场进行的理论分析,着重讨论了两个相互正交的圆偏振光(左旋和右旋〕场和一个椭圆偏振光与线偏振光场的特点,以此为基础讨论了干涉条纹移动的偏振法。     

Application of multiple-beam white-light fringes for measuring the refraction and dispersion of mica

Multiple-beam white-light interference fringes are applied to measure the two refractive indices of a mica sample and their dispersion across the visible spectrum. In addition, the mica birefringence and its dispersion are measured. A mica sample of dimensions 2 × 5 mm² and an immersion liquid of nearly the same refractive index are used. Only a single shot interferogram is needed to measure all the aforementioned parameters. Cauchy's and a modified single-term Sellmeier dispersion formula are used for fitting the experimental data and extracting the parameters required.