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半导体陶瓷是近二十多年才发展起来的一类新型电子陶瓷,它具有许多其他材料所不及的优点. 利用半导体陶瓷优良的半导电性可以制作许多性能良好的传感器.本文着重介绍了BaTiO3系和 系PTC 热敏电阻器及过渡金属氧化物系NTC 热敏电阻器的主要特性参数,导电机理 和在工农业及家用电器中的应用实例. 相似文献
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早在1955年W.Haayman等人发现,在高纯BaTiO3陶瓷中加入微量稀土氧化物如五氧化二铌、三氧化二钇等,其室温下的电阻率将大幅度下降;并且发现某一温度范围内,其电阻率可增高几个数量级,由此开拓了PTC(Positivetemperaturecoefficient正温度系数)材料的广泛应用.随着PTC热敏电阻商品化,有关理论的研究工作也得到不断地发展.目前,人们普遍认为,PTC效应与晶界势垒的高度与介电常数有关.在居里点以下,介电常数很大,晶界势垒很低.在居里点以上,介电常数变小,使晶界势垒急剧升高,导致电阻率增加了几个数量级. 相似文献
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本文报道了在室温下BaTiO3及BaTiO3:Ce的拉曼谱的特点,着重讨论了前向散射配置下两个1I(TO)模(位于275cm-1和516cm-1左右)出现在A1(TO)谱中的原因。通过设计特别的前向散射实验得到了此配置下由于晶体出射面对入射光的反射造成的背向散射的强度。在BaTiO3的前向散射谱中扣除了背向散射信号后,两个宽峰基本减掉,而掺Ce后经同样扣除背向散射信号两宽峰却依然很强。这样便证明了它们在前向散射中的出现与杂质有关系。在BaTiO3扣除背向散射后的谱中,还首次观察到一个位于492cm-1的峰。掺Ce后晶体的吸收曲线有很大变化,本文还讨论了吸收对散射强度的影响。 相似文献
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相方相BaTiO3及BaTiO3:Ge的拉曼散射特性研究 总被引:1,自引:1,他引:0
本文报道了在室温下BaTiOe及TiO3:Ce的拉曼谱的特点,着重讨论了前向散射配置下两个A1(TO)模(位于275cm^-1和516cm^-1左右)出现在A1(TO)谱中的原因,通过设计特别的前向散射实验得到了此配置下由于晶体出射两对入射光的反射造成的背向散射的强度。在BaTiO3的前向散射谱中扣除了背向散射面对人入射光的反射造成的背向散射的强度。在BaTiO3的前向散射谱中扣除了背向散射信号后 相似文献
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本报道用MOCVD方法在以15cm/hr速度连续走带的Ag/Ai复合基体上制备YBCO超导带的结果。所有YBCO超导带的Jc值为1.3×10^4A/cm^2;样品主相为YBCO123,呈强烈c-轴取向,其衍射峰的摇摆曲线半高宽约为2.8°;另外,还含有少量Y2BaCuO5和BaCuO2杂相,本还用SEM和EDX对样品沉积层进行了观测分析。 相似文献
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报道了聚四氟乙烯积分球腔内光折变晶体BaTiO3:Ce在He-Ne激光作用下产生自泵浦相位共轭的增强现象,并对实验结果进行了分析。 相似文献
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在由两声光折变BaTiO3晶体(其中一块晶体为一内反射式自抽运相位共轭镜工作方式,起外反射镜作用)构成的半线性自抽运相位共轭吕中观察到了相位共轭光的自脉动现象。自脉动的平均频率f与入射光功率Ⅰ0的关系为f∞Ⅰ0^1.43;相位共轭光的平均维持时间ΔT与入射光功率Ⅰ0近似成反比。观察到光折变BaTiO3晶体蝇扇形散射光具有动态的空间结构,扇形散射光的这种特性是引起上述半线性自抽运相位共轭器中相位共轭 相似文献
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激光分子束外延制备的BaTiO3及c取向YBa2Cu3O7-δ薄膜的生长模式 总被引:1,自引:0,他引:1
用反射式高能电子衍射(RHEED) 和原子力显微镜(AFM) 研究激光分子束制备的铁电BaTiO3 和高Tc 超导c 取向Y1Ba2Cu3O7 薄膜的生长模式,BTO 铁电薄膜是原子级平整的层状生长模式;c 取向YBCO 超导薄膜是SK生长模式 当薄膜厚度小于5 个原胞时,层状生长,然后是台阶岛状生长.处理SrTiO3 基片表面可以改变c 取向YBCO薄膜的生长模式 相似文献
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阐述了利用离子束分析技术分析高温超导氧化物陶瓷Y-Ba-Cu-O中各成分含量的一般原理,运用a粒子在3.045MeV附近的O的弹性共振背散射以及卢瑟背散射,得到了Y-Ba-O各成分的含量,并与质子X射线荧光分析的结果作了比较,提出了一种简单的背散射处理方法,该方法具有简单,快速,精度高等优点。 相似文献
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本用第一原理的LDF-LMTO-ASA方法,以超元胞Ba4Bi4O12,(Ba3K)BiO12,(BaK)Bi2O6,(BaK3)Bi4O12,K2Bi2O6五种“样本”计算由于Bi^+3和Bi^+5二种价态以及K掺杂引起各芯态能级化学位移的变化,“样本”的电子结构与实验相符,即Ba4Bi4O12是g=-2.0eV的半导体,(Ba3K)Bi4O12j Eg=1.6eV其价带顶有不量空穴的半导体, 相似文献
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研究了导H^+离子全固态电致变色器件性能退化摧在机制,发现有两个因素导致器件性能退化,在器件褪色过程中,存在于WO3薄膜中的水份将导致OH^-在WO3中积累而在其中产生碱性环境,WO3溶于碱性环境而生成钨酸盐,在较高电压作用下H2O电解释放出气体H2和O2而使膜层剥落,通过改进器件结构和改善制备工艺条件,获得了光学密度高达0.5,着色/漂白(Color/Bleach)循环次数高达10^6以上的性能 相似文献
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本采用倒筒式直流溅射法原位生长和Tc值为95K的NdBa23Cu3Ox外延薄膜,样品的XRD分析表明,样品为强烈c轴织构,c轴晶胞参数为1.174nm,样品衍射峰的FWHM=0.29°,RBS分析表明:薄膜的化学计量为Nd1.0Ba2.0Cu3.3Ox。对影响NdBa2Cu3OX薄膜Tc值的因素进行了讨论。 相似文献