用能量色散X射线荧光光谱法非破坏测定合金薄膜的组份

一、引言最近十几年来,能量色散x射线荧光光谱法已得到了广泛的应用,用x射线荧光光谱方法非破坏测定合金薄膜组份的工作也取得了很大的进展。本文列举的数据说明以滤纸片标样和强度比技术相结合,用能量色散谱仪对合金薄膜组份进行非破坏测定,其结果与用波长色散谱仪所获结果一致,同样能得到准确与精密的结果。     

X射线荧光光谱法非破坏测定二元合金薄膜的成分

一、引 言 用X射线荧光光谱法测定二元合金薄膜的组分时,通常是先制备一系列不同成分的薄膜,经化学分析标定后作为标样,以此来确定标准曲线,然后对待测薄膜进行测定、比较[1,2].近年来某些作者推荐利用单组分薄膜标样的方法[3,4].这些方法不足之处在于制备薄膜标样要增加较大的工作量.用质子背散射方法来测定薄膜组分虽具有它独特的优点,但是在测定膜主成分时其准确度常常不够满意,此外,它还要与加速器联用,因此应用上也受到限制. 本文来用 L.Bergel及 F.J.Cadieu[5]推荐的利用滤纸片标样的方法,测定了非晶态钆钴合金薄膜的原子组分比. …     

用能量色散X射线荧光光谱仪非破坏测定钐钴合金薄膜的组份

非破坏测定合金薄膜组份的工作最近几年来已有人进行过研究(1—3),但这些工作均是在波长色散谱仪上进行的。本文是将强度比技术与滤纸片标样相结合,用能量色散谱仪来测定钐钴薄膜的组份。测定结果的准确度可与波长色散谱仪所得结果相比拟。由于所用能量色散谱仪具有二次靶装置,故可使用二次靶技术很方便地选定测定条件。     

X射线荧光光谱法测定不锈钢中的组分

用X射线荧光光谱法测定了不锈钢中Si、Mn、P、Cu、Ti、W、Mo、V、Ni、Cr、Nb等11种元素的含量。对磨样条件、准确度和精密度进行了实验,实验表明本方法与化学法所测结果相符。     

X射线荧光光谱法表征薄膜进展

X射线荧光光谱法表征薄膜样品以其能同时测定样品的组分和厚度等优点,目前在国内外的研究和应用越来越广泛和深入。文章通过从荧光强度理论计算、基体效应和校正方法、分析误差来源及消除、定量分析软件和实际分析应用等几个方面对X射线荧光光谱法表征薄膜样品的研究作了评述。鉴于薄膜样品制备相似标样比较困难,而基本参数法采用非相似标样表征薄膜的准确度较高,因此基本参数法校正薄膜样品的应用比较广泛。重点介绍了基本参数法的荧光强度理论计算公式的发展、计算误差来源以及分析软件应用。展望了X射线荧光光谱法表征薄膜样品的应用前景和发展方向。     

用X射线荧光光谱法测定钢材中成份

钢材是以铁为基体的多元体系。本方法采用X荧光光谱测定钢材中的元素成份,除测定杂质元素外并能测定基体元素铁。测定结果是令人满意的。     

透射强度比X射线荧光光谱法测定金属镀层组分

本文介绍了X射线荧光光谱透射强度比测定中等可变厚度金属镀层的组分方法。采用镀层元素强度和基片透射强度之比对镀层元素镀布分量制作工作曲线。     

波长色散X射线荧光光谱法测定长石主次量组分

采用高温熔融制样,X射线荧光光谱法同时测定长石中的SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Na2O、K2O、Fe2O3、TiO2、Cr2O3等主次量元素.通过选用长石、叶腊石、高岭土及土壤等标准样品,并在标样中引入分析纯TiO2、Cr2O3,解决了长石成分分析标准样品不足的问题.采用理论α系数和经验系数校正法克服了谱线重叠干扰和基体效应影响.测定长石各组分的相对标准偏差(RSD,n=10)均小于5％,方法检出限为1.21-97.33μg/g,测定值与化学分析法结果吻合.     

X射线荧光光谱法测定碳酸锶产品中的主次组分含量

Mg,Ca,Sr,Ba同为碱土金属,性质相似,准确分析SrCO3产品中的Sr,Ca,Mg,Ba难度大,分析繁杂.文章采用人工合成配制系列标准样,以硼酸镶边垫底的粉未压片法制样,建立了准确分析SrCO3产品中主次组分的定垦分析曲线,可同时测量SrCO3产品中的Sr,Ba,Ca,Mg,Si,Fe,Al,S等组分.由于SrCO3产品中Sr含垦高,按照仪器给定的测量条件进行测量产生谱峰饱和现象,造成计数率溢出,分析误差较大,文章对Sr的分析条件进行了分析,提出通过降低Sr的测定功率来降低计数率,达到测量目的;粉末压片制样分析SO4时,随着测量次数的增加,SO42的结果呈递增趋势.在文中提出了解决方法;同时对自成特性很差的SrCO3产品的压片条件进行了讨论.使用a经验系数法校正基体效应,经对配制的合成样进行检验,测最值与标准仉结果吻合.方法的检出限和准确度满足分析要求,除SO42-的RSD＜9.0%,其他主次元素RSD＜2.5%.     

用X射线能谱同时测定薄膜成分及厚度

本文提出一个直接利用薄膜和衬底的X射线能谱来同时测定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜发出的各元素的标识X射线强度比确定其成分,利用NaCl衬底的Nak_α和Clk_α标识X射线的强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚,本方法不需要纯元素的块状标样,对在NaCl衬底上沉积的Cu-Si合金薄膜的成分和厚度,在各种实验条件下进行了测定,得到了较为满意的结果。 关键词：     

Monte Carlo方法应用于二元合金薄膜微区成份及厚度的同时测定

本文着重分析粒子模拟中相空间周期性光滑化对噪声的抑制机制。文中引入光滑化等效"滤波"效应的概念,导出了波长相关的光滑化滤波系数的解析表达式。结果表明,光滑化主要是抑制短波噪声,并且它不引起静电波能量在波数空间的转移。     

ACCURATE DETERMINATION OF FILM THICKNESS BY LOW-ANGLE X-RAY REFLECTION

A modified Bragg law for straightforward determining the film thickness by low-angle X-ray reflection was derived based on the geometrical optical theory. We showed that this modified Bragg law and its inference formulae could be used to accurately determine the thickness of the monolayer or multilayer film. Furthermore, the modified Bragg law for determining the superlattice period presented earlier by others can be derived from the above modified Bragg law. The similar inference formulae were also given. The precision in determining the film thickness and/or superlattice period by the above formulae was discussed.     

岩石中稀土元素的分离富集及荧光X－射线光谱法测定

文中用合成的偶氮氯磷－ｍＡ螯合形成纤维（以下称ＣＰＡ－ｍＡ纤维）对地质样品中的稀土元素进行分离富集，并制成薄试样进行荧光Ｘ－射线光谱法测定［１，２］。ＣＰＡ－ｍＡ纤维合成简单，交换速度快，在抗坏血酸和混合掩蔽剂（ＥＤＴＡ＋ＣＹＤＴ＋ＥＧＴＡ）存在下使痕量稀土元素及基体分离并得以富集。分析结果表明该方法的ＲＳＤ小于１５．６８％，标准加入回收率在８４．０～１０７．５％之间，能较好地满足地质工作的需要。     

X射线荧光光谱成型滤纸片法测定生油岩抽提物中的钒和镍

本文提出以成型滤纸片作为标样与试样的支撑材料，点滴法制备样片，用钒和镍的有机金属标准试剂配制标准样品，以透空照射法直接测定生油岩抽提物中的钒和镍，方法检出限较低，制样与测量精度好于５％。方法简单、快速和实用。     

超导双面膜Tc与Jc的无损测量系统

利用高温超导体磁屏蔽原理研制了一种双面超导薄膜的临界参数无损测量系统。该系统有29个传感器，可以无损地测出双面薄膜中的任一面的临界参数（Tc、Jc）值。该系统用液氮冷却。可测量最大薄膜直径为75mm。全系统由计算机实现自动控制。     

铬渣中铬,镍,锌,锰和铁的X射线荧光法测定

本文首次研究了用X射线荧光光谱法测定铬渣中Cr、Zn、Ni、Mn和Fe元素的模拟标样,样品直接压片不经化学处理。用稀释样品校正试样的基体效应。用人工模拟标样所建立的元素浓度与X射线强度间的线性函数关系令人满意,所试元素的线性相关系数均在0.99以上,测定结果与化学法基本一致。Cr的检测下限为0.036%;Fe为0.039%;Ni为35.33μg/g;Mn为498.18μg/g;Zn为55.61μg/g。各元素的相对标准偏差均低于2.48%。并首次用非线性方法研究了铬渣样品稀释比中Cr、Ni、Zn、Mn、Fe与X射线强度的线性关系。     

全反射X射线荧光分析法测定微量硒

本文叙述了用全反射X荧光分析方法测定溶液中微量硒的实验装置、制样技术和测定方法。介绍了ng/mL级硒的测定结果,并对全反射X荧光分析技术中的一些问题进行了讨论。     

X射线荧光法测定土壤总硫量

本文采用模拟土壤基体的方法人工制备测定用标准样品,应用回归分析求取经验系数校正基体效应,建立了测定土壤总硫量的X射线荧光光谱分析方法。该法简便快速、灵敏(最低检出限小于5μg/g)。测定结果与化学法基本一致。     

X射线荧光基本参数法测定焊锡中的锡和铅

本文在无标样的情况下,用X射线荧光基本参数法测定了焊锡中的锡和铅的含量。