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纳米压痕法研究PZT压电薄膜的力学性能
引用本文:蒋锐, 胡小方, 许晓慧, 伍小平. 纳米压痕法研究PZT压电薄膜的力学性能[J]. 实验力学, 2007, 22(6): 575-580. doi: 10.3969/j.issn.1001-4888.2007.06.004
作者姓名:蒋锐  胡小方  许晓慧  伍小平
作者单位:中国科学技术大学,中国科学院材料力学行为和设计重点实验室,合肥,230027;; 中国科学技术大学,中国科学院材料力学行为和设计重点实验室,合肥,230027;; 中国科学技术大学,精密机械与精密仪器系,合肥,230027;; 中国科学技术大学,中国科学院材料力学行为和设计重点实验室,合肥,230027
摘    要:PZT压电薄膜的力学性能如弹性模量、硬度等对于MEMS器件的结构设计、结构响应特性、服役性能等尤为重要.薄膜材料由于尺寸效应、表面效应等的作用,力学性能与宏观块体材料有显著差异.本文用纳米压痕法获得了PZT压电薄膜的弹性模量和硬度,考察了基底的影响,分析了退火时间对于其力学性能的影响,以及硬度和压入深度之间的压痕尺度效应.

关 键 词:PZT压电薄膜   纳米压痕法   压痕尺度效应
文章编号:1001-4888(2007)06-0575-06
收稿时间:2007-01-11
修稿时间:2007-12-03
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